ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。
IC測試用于驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實(shí)際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點(diǎn)是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

凱智通IC測試座的優(yōu)勢：

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩祝ＷCIC定位精確，生產(chǎn)效率高,探針可以更換，維修方便，成本低。

IC測試座采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)和自動下壓式結(jié)構(gòu)，操作方便；翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu)，能自動調(diào)節(jié)下壓力，保證IC的壓力均勻。

交期快，最快一天交貨，提高使用效率。
ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。
IC測試用于驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實(shí)際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點(diǎn)是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

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測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩祝ＷCIC定位精確，生產(chǎn)效率高,探針可以更換，維修方便，成本低。

IC測試座采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)和自動下壓式結(jié)構(gòu)，操作方便；翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu)，能自動調(diào)節(jié)下壓力，保證IC的壓力均勻。

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審核編輯 黃宇