3.1 電能質量,諧波分析

添加命令行

在電能檢測應用中，電能質量一項分析即諧波分析，諧波分量大，說明電能質量不好，

基于本板信號處理前端也實現了該功能。

shell_fun.h中

复制void FftFun(void* param);

shell_fun.c中

复制#include "fft.h"

shell_cmd_list中添加一行

复制{ (const uint8_t*)"fft",         FftFun,           "fft"},                 /*打印幫助信息*/

添加命令執行函數

复制void FftFun(void* param)

{

fft_main();

}

添加實現

Fft.c

复制#include "arm_math.h"
#include "arm_const_structs.h"
#include < stdio.h >

#define TEST_LENGTH_SAMPLES 2048

extern float32_t testInput_f32_10khz[TEST_LENGTH_SAMPLES];
static float32_t testOutput[TEST_LENGTH_SAMPLES/2];


static uint32_t fftSize = 1024;
static uint32_t ifftFlag = 0;
static uint32_t doBitReverse = 1;
static arm_cfft_instance_f32 varInstCfftF32;

static int testIndex = 0;

static float testtmp_f32_10khz[2048];
static int32_t adcbuffer[2048];

int32_t fft_main(void)
{

  arm_status status;
  float32_t maxValue;

  status = ARM_MATH_SUCCESS;

  status=arm_cfft_init_f32(&varInstCfftF32,fftSize);

  //memcpy(testtmp_f32_10khz,testInput_f32_10khz,sizeof(testInput_f32_10khz));
  adc_samp(adcbuffer,2048);
  for(int i=0; i< 2048;i ++)
  {
	  testtmp_f32_10khz[i] = (float)adcbuffer[i];
  }
  arm_cfft_f32(&varInstCfftF32, testtmp_f32_10khz, ifftFlag, doBitReverse);

  arm_cmplx_mag_f32(testtmp_f32_10khz, testOutput, fftSize);

  /* Calculates maxValue and returns corresponding BIN value */
  arm_max_f32(testOutput, fftSize, &maxValue, &testIndex);

  int32_t out = 0;

  for(int i=0; i< TEST_LENGTH_SAMPLES; i++)
  {
	  if(i >TEST_LENGTH_SAMPLES/2)
	  {
		  out = testOutput[i-TEST_LENGTH_SAMPLES/2]/1024;
	  }
	  else
	  {
		  out = testOutput[i]/1024;
	  }
      printf("/*%ld,%ld*/rn", adcbuffer[i],out);
  }

}

 /** endlink */

Fft.h

复制#ifndef FFT_H
#define FFT_H

int fft_main(void);

#endif

測試

看到分析如下，前面是模擬輸入，后面是諧波分析結果

詳見視頻和工程源碼

審核編輯 黃宇