日本HIOKI日置IM7587阻抗分析儀
HIOKIIM7587 阻抗分析儀產品特點:

1.可進行最高3GHz的穩定的高頻測量

IM7587的測量頻率是1MHｚ～3GHz。在改變頻率的同時進行測量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進行偏差較小的穩定的阻抗評估，因此能夠從電子元件的開發到生產線上等各種領域內使用。

2.最短0.5ms的高速測量，有助于提高生產性

最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量。因此，對于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產廠家來說，大幅提高了生產效率。

3.主機尺寸小巧，降低生產成本

和去年發售的IM7580系列同樣小巧、輕便。電子元件生產廠家的生產線中，可以實現為了提高空間效率的檢查系統的小型化，以及通過同時安裝多臺來縮短檢查時間，從而降低生產成本。而且，這類測量儀器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發、品保、生產線等多種場合同時使用，放在桌上也不會占太多空間。

4.各種判定功能，判斷合格與否

單一頻率測量的LCR測試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設置上下限值，并以其為判斷標準進行合格與否的判斷。相對于以1個判斷標準判斷合格與否的比較器功能，BIN功能最多可以設置10種判斷標準，并進行排名。

多種頻率測量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區域判定、峰值判定。區域判定是確認測量值是否進入任意設置的判定區域內的功能。峰值判定是判定共振點的功能。另外，還具有任意設置多種頻率，并以此設定值為基礎判斷合格與否的點判斷功能

基本參數：

基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表值)

測量時間 最短0.5ms（模擬測量時間）

測量范圍 100mΩ～5kΩ

測量頻率 1MHz～3GHz

測量信號電平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

主要用途：

電子元件生產廠家內的電子元件的出貨檢查和特性評估

電子設備生產廠家內的電子元件的驗貨檢查和特性評估

高校研究所內的電子元件的特性評估

審核編輯 黃宇