概述
AT32單片機芯片內含溫度傳感器,它產生一個隨溫度線性變化的電壓,在內部被連接到ADC1_IN16的輸入通道上,用于將傳感器的輸出轉換到數字數值。
應用須知
使用者可在數據手冊內找到溫度傳感器的各項特性規格,范例規格如下:

只要遵守以下公式,即可求得目前溫度傳感器量測出的溫度。
溫度(°C)={(V25-VTS)/Avg_Slope}+25
這里:
V25=VTS在25°C時的數值
Avg_Slope=溫度與VTS曲線的平均斜率(單位為mV/°C)
其中VTS為溫度傳感器經由ADC轉換出的電壓換算成mV,再依照上述公式,只要將V25帶入典型值1280mV,Avg_Slope帶入-4.20mV/°C即可求得。下圖即為套用典型值計算出的溫度與傳感器輸出電壓(VTS)的特性曲線。

應用此溫度傳感器需注意因生產過程的變化,每個芯片的溫度傳感器V25具有相對大的偏移,以上表所述最小值與最大值來看有最多200mV的誤差。若以Avg_Slope典型值來換算相當于47.6°C。因此內部溫度傳感器更適合于檢測溫度的變化,而不是測量絕對的溫度。如果需要測量精確的溫度,應該使用一個外置的溫度傳感器。
另外需注意溫度傳感器為芯片內部弱電壓源,ADC進行采樣時需要足夠時間讓VTS輸出為采樣電路達到充放電平衡而穩定,使用者需確實遵照數據手冊中的TS_TEMP參數為內部溫度傳感器設置足夠的采樣時間,以獲得正確的轉換數值。
特性評估測試方法
溫度傳感器的特性評估是在特殊設計的量測環境下進行的。每次進行溫度傳感器特性評估都會任意挑選10顆芯片焊在專屬特性測試的板子上,并送進高低溫箱內進行全部操作電壓和操作溫度的測試。
專屬測試板上特別使用ADT7410精準溫度傳感器作為量測參考源。它具有0.5°C準確度、高分辨率特性,是適合作為特性評估AT32芯片上溫度傳感器的器件。
量測時首先設定高低溫箱到AT32芯片操作溫度最低溫,待溫度到達且穩定后再命令溫箱以極慢速度緩緩升溫。此時開始約以1°C為量測間隔,同時多次采樣ADT7410和AT32芯片溫度傳感器的結果,將其各自采出值作平均后上傳至上位機記錄,再待溫度上升1°C重復以上采樣動作,直到溫度上升到達AT32芯片操作溫度最高溫,測試即停止。上位機收集到所有溫度下的數值后即存檔并后續進行Avg_Slope和V25的估算,以及線性度TL的分析。
測試數據
AT32溫度傳感器在操作電壓3.6V,3.3V,和2.6V條件下,以10顆芯片的實測特性結果如下圖所示,可以看出Avg_Slope在各條件下各芯片幾乎一致,但細部分析各芯片V25參數之間具有相對較大的差異,這是造成AT32溫度傳感器量測與實際溫度徧差的主要原因。

若以軟件校正偏移量(offset)后或僅作為相對溫度量測時,在芯片全溫度-40到105°C操作范圍內,溫度誤差(線性度)可以達到±2°C之內。

但若未做偏移校正或用以量測絕對溫度,因溫度傳感器本身架構于芯片生產過程的變化,溫度變化曲線的偏移在不同芯片上會有明顯差異。實測10顆AT32F413結果V25最大差異可達約為±10°C,考慮整體設計仿真結果可能更大至±20°C以上。綜合以上特性考量,建議AT32芯片內部溫度傳感器更適合使用作為檢測溫度的變化,而不是測量絕對的溫度。
比較一般大廠MCU的內部溫度傳感器應用,基本上皆受此限制。

來源:AT32 MCU 雅特力科技
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