長鑫存儲技術有限公司授予“晶圓循環時間的確定方法和裝置”專利，許可公告日為10月3日，許可公告號為cn113536572b。

據專利文摘（摘要），本申請的決定施行如晶片周期時間的方法及裝置提供，獲取多個站點的機臺的實際生產數據，根據多個站點的機臺的實際生產數據，建立隨機數表，該隨機數表中包括各機臺的樣本數據。樣品數據包括晶圓處理時間、機臺宕機概率、宕機修復時間和隨機區間使用Monte Carlo算法和隨機數表，模擬晶片在各種機臺集團的生產過程模擬器模擬過程經過zhongjing圓機臺每次生成的隨機數隨機數表中的暗號屬于區間。隨機數用于選擇機器的狀態，在模擬裝置中輸入組裝、晶片個數、模擬數，以獲得晶圓周期的時間。

這種方法可以精確地模擬晶片的周期，并計算出任何一組、晶圓的數量和模擬次數。