隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，MCU芯片因其強大功能被廣泛應(yīng)用，尤其是成為汽車領(lǐng)域的核心電子元器件。現(xiàn)如今車規(guī)應(yīng)用要求更加嚴(yán)格，對于車載mcu芯片測試的要求也變得嚴(yán)苛。今天將為大家介紹車載mcu芯片測試需要測試哪些測試項目。

1.工作電壓及電流

測試MCU工作電壓是否在范圍內(nèi)，電壓過高可能會造成MCU損壞，電壓過低會影響MCU的外圍電路驅(qū)動能力，甚至可能會導(dǎo)致外圍電路無法正常工作。

2.mcu靜態(tài)電流

靜態(tài)電流是衡量MCU性能的主要參數(shù)之一，靜態(tài)電流越小越好，根據(jù)MCU規(guī)格書測試靜態(tài)電流是否符合要求，一旦MCU有損壞的話，靜態(tài)電流就會變大，會增加產(chǎn)品的靜耗，致使產(chǎn)品整體功耗增加。

3.mcu的振蕩頻率

比如外接晶振型MCU，需要檢測正常工作下它的晶振輸入腳的振蕩頻率是否正確。振蕩頻率不符合要求會影響到產(chǎn)品的定時及延時，甚至無法正常運行。

4. 上電、掉電測試

在使用過程中用戶必然會遇到上電和掉電的情況，可以進行多次開關(guān)電源，測試MCU系統(tǒng)的可靠性。

5. 老化測試

比如進行高溫、高壓、強電磁干擾等測試，檢測其長時間工作下的可靠性。

6. ESD和EFT等測試

7. 功能測試

檢測MCU基本功能能否正常工作，如檢查輸入輸出端口、時鐘、存儲器、驗證芯片內(nèi)部邏輯電路是否按照設(shè)計要求運行等。

8. 時序測試

檢測MCU各個信號的時序關(guān)系是否滿足要求，包括時鐘頻率測試、數(shù)據(jù)傳輸速率測試等。

9. 通信接口測試

檢測通信接口如UART、SPI、I2C等，確保芯片能夠正確地與外部設(shè)備進行通信。

10. 溫度測試

檢測MCU芯片在不同溫度下的性能，進而評估其可靠性和穩(wěn)定性。

ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)

元器件測試系統(tǒng)優(yōu)勢

1. 兼容2000+儀器信號，內(nèi)含多種測試項目，無代碼編程模式，根據(jù)MCU測試項目及參數(shù)，快速搭建方案，一鍵運行測試。

2. 內(nèi)含批量測試功能，測試流程簡單化，測試效率提升。

3. 數(shù)據(jù)洞察功能會將MCU芯片的測試數(shù)據(jù)自動采集存儲，無需手動記錄，避免記錄出錯，節(jié)省記錄時間。此外以圖表形式展示測試數(shù)據(jù)，便于觀測數(shù)據(jù)變化情況，多測試數(shù)據(jù)進行多維度分析。

4. 移動端實時監(jiān)測測試數(shù)據(jù)情況。

5. 可以自定義數(shù)據(jù)報告，支持修改，報告模板多樣化，可以自由選型，支持word、excel格式導(dǎo)出。

已完成的歷史測試以列表形式展現(xiàn)，方便查看以往的測試信息。

審核編輯 黃宇