電源芯片測試貫穿著研發、設計、生產過程的始終，目的就是為了通過反復檢測來確保電源芯片的性能、質量和可靠性，保證正常工作運行。電源芯片測試涉及到許多測試項目，并且有著具體的測試規范標準和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測試規范。

電源芯片測試規范介紹

適用范圍：主要是基于PCB板焊接的電源芯片，如DC/DC、LDO電源芯片等，也包括小功率DC/DC電源模塊。

測試工具：可調電源、電子負載、示波器、萬用表

測試環境：溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(86kPa~106kPa)

測試原理圖：

電源芯片測試原理圖

電源芯片輸入電壓范圍測試方法

輸入電壓范圍指該芯片可以接受的輸入電壓范圍。根據使用場景選擇合適的電源芯片確保可以正常工作。檢測輸入電壓范圍的具體步驟如下：

調節電子負載，保證電源芯片滿載工作;

調節可調電源輸出為下限值VIN_MIN，記錄此時對應輸出電壓，記為V1;

調節可調電源輸出為上限值VIN_MAX，記錄此時輸出電壓，記為V2;

電源芯片額定輸出為V0;

分別計算{|V1—V0|/V0}×100%，{|V2-V0|/V0}×100%，判斷此時的輸出是否滿足精度要求。

用納米軟件ATECLOUD-POWER電源測試系統測試輸入電壓范圍，不僅可以自動存儲管理測試數據，而且還可以對測試數據進行多方面圖表分析，以指標形式反饋測試結果。電源測試系統可以幫助實現自動化測試，解決傳統手動測試繁瑣復雜、手動記錄數據、人工分析數據等痛點，助力高效能測試和生產。

審核編輯：湯梓紅