10月18日下午，凝聚技術力量，共建測試生態——集成電路測試技術交流會在上海成功舉辦。來自全國各地知名專家學者、技術大咖及企業代表齊聚一堂，共同探討封裝測試技術的發展方向，共話產業未來，共促產業發展。

本次活動在中國集成電路檢測與測試創新聯盟（簡稱大聯盟）指導下，由上海北京大學微電子研究院、上海張江管理中心發展有限公司、杭州加速科技有限公司、上海盛英科技發展有限公司聯合主辦。

中國集成電路檢測與測試創新聯盟副理事長倪昊，上海交通大學微電子學院執行院長王國興，上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協青托祁亮，上海華嶺集成電路技術股份有限公司技術總監余琨，日月新集團中國區業務總監包鋒，蘇試宜特(上海)檢測技術股份有限公司可靠度工程部部長葛金發，中穎電子股份有限公司技術負責人凌楠，上海北大微電子研究院院長助理、副研究員蔣樂樂，張江浩成總經理助理袁銓，杭州加速科技有限公司董事長鄔剛，杭州加速科技有限公司副總經理陳永等嘉賓出席會議。

在開場致辭中，中國集成電路檢測與測試創新聯盟副理事長倪昊對各位參會領導、行業專家、企業代表的到來表示熱烈歡迎。他在致辭中強調了集成電路封裝測試技術的發展對于推動我國集成電路產業的升級具有重要意義，鼓勵與會嘉賓積極分享經驗和見解，共同推動行業的發展。

上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協青托祁亮分享了題為《ADC低功耗設計及測試》的主題演講。他詳細介紹了ADC低功耗設計的原理和測試方法，以及如何通過技術創新降低功耗，提高集成電路的性能。

上海華嶺集成電路技術股份有限公司技術總監余琨發表了主題演講《Chiplet技術發展趨勢及測試挑戰》。她從Chiplet技術的發展趨勢出發，深入探討了在Chiplet技術應用中面臨的測試挑戰，并提出了相應的解決方案。

杭州加速科技有限公司副總經理陳永分享了題為《ATE測試速度提升的技術創新》的演講。從測試技術創新角度切入，分享了加速科技的高性價比的測試設備和高性能測試方案，為行業實現測試降本增效提供了新的思考路徑。

日月新集團業務副理陳鑫豪以《車規芯片封測的零缺陷管理》為主題進行分享。他表示車載電子非常強調芯片的穩定性和長期可靠性，車規芯片封測面臨的是可靠性零缺陷的挑戰，只有不斷提升產品質量與可靠度才能建立消費者對車廠的信心，隨后分享了車規芯片封測過程中的零缺陷管理方法和實踐經驗。

蘇試宜特(上海)檢測技術股份有限公司可靠度工程部部長葛金發圍繞《元器件檢測驗證與解決方案》進行主題分享，結合元器件檢測驗證一些實際案例，提出相應解決方案。

中穎電子股份有限公司技術負責人凌楠發表了主題演講《測試機臺和測試流程的選擇原則》。通過分析決定量產測試ATE和測試流程的因素及其權重，根據不同的應用場景和客戶需求，給出量產平臺和流程選擇策略建議。

會議期間，與會嘉賓還就集成電路測試技術的最新發展、行業趨勢和未來挑戰等議題展開了深入討論，分享了各自的觀點和經驗。

本次研討會圓滿舉行，加速科技和專家學者，技術大咖深入交流，共同探索測試技術未來發展方向。一直以來，加速科技致力于半導體自主測試技術的研究與開發，從客戶的真實需求出發，持續為半導體企業的芯片測試帶來專業化解決方案，為客戶提高效率降低成本，全面提升企業競爭力。未來，加速也將與行業伙伴攜手并進，加強合作交流，共探共研，助力國產集成電路產業鏈健康發展。

審核編輯 黃宇