硬件測試顧名思義就是對于硬件產(chǎn)品的測試 ，一個好的產(chǎn)品想要正常流通到市場上進(jìn)行售賣，那售賣前是必須要進(jìn)行想要的產(chǎn)品測試的，不然就是產(chǎn)品最終順利流通到市場，也會出現(xiàn)各種各樣的問題，比如說常常看到的汽車某一型號或者某一批次的產(chǎn)品質(zhì)量存在問題，產(chǎn)品設(shè)計(jì)不合理而導(dǎo)致大量召回的新聞。

所以硬件測試是對于產(chǎn)品研發(fā)過程中的重要把關(guān)，保證最終產(chǎn)品上市是一個相對完美的狀態(tài)。

那這個硬件測試到底是測試個什么東西呢？接下來會分幾期來詳細(xì)分析一下硬件測試的相關(guān)知識內(nèi)容。

電氣性能測試

g.晶振頻偏

晶振頻偏對于整個電子主板的影響還是很大的，一旦頻偏嚴(yán)重超差，會有很大的可能導(dǎo)致操作整機(jī)不上電或者系統(tǒng)無法正常運(yùn)行，所以對于晶振頻偏的測試是很重要的。

一般晶振分為無源晶振和有源晶振兩種，無源晶振需要電路匹配，單體無法產(chǎn)生起振；有源晶振則是本身就擁有一套包括IC在內(nèi)的一套匹配好的振蕩電路。

對于晶振頻偏的測試需要用到頻率分析儀，頻率計(jì)或者專業(yè)的晶振測試儀，在儀器上觀察晶振的頻率，一般一個晶振的產(chǎn)品信息會標(biāo)明該晶振的中心頻率，而實(shí)際測量的晶振頻率與晶振本身中心頻率的差值就是晶振頻偏。

h.電流

對于電流的測試是有很多的，比如說電源電路，一些關(guān)鍵信號的測試點(diǎn)電流等，測試時就需要量測它們上電時的工作電流，如果某些電路的電流值超出正常范圍，則很有可能某些元器件存在問題，所以就導(dǎo)致整個電流值的偏差，一般情況下至少需要兩塊及以上的電路板進(jìn)行對比確定標(biāo)準(zhǔn)值。

還有包括上電時啟動電流的浪涌電流（inrush current）有多大，尤其是對于會做大功耗機(jī)械能的電子產(chǎn)品，比如說加了電機(jī)的，就會有比較大的浪涌電流，在電機(jī)轉(zhuǎn)動遇阻時，電流以及功耗又會升高到降低，變化會很大。

i.待機(jī)功率

大多數(shù)的電子產(chǎn)品都有工作狀態(tài)和待機(jī)狀態(tài)，而待機(jī)狀態(tài)就是一個省電的模式，理論上都是要求沒有太多的功耗的，所以對于待機(jī)功率就有一定的要求，如果待機(jī)功率過高，就需要思考整個電路板中哪里需要修改，或是電路或是更換某些元器件，軟件上的更改程序也有可能。

對于待機(jī)功率的測試也很簡單，使用專門的功率分析儀就可以直接看到整個電路板的輸出功率，它的精度，帶寬，方便性都比較可靠專業(yè)，如果預(yù)算有限，也可以使用功率計(jì)或者功率萬用表。