來源:德思特測量測試德思特分享丨一文帶你了解ADC測試參數(shù)有哪些?
一文帶你了解ADC測試參數(shù)有哪些
模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是數(shù)字電子系統(tǒng)中重要組成部分,用于捕獲外部世界的模擬信號,如聲音、圖像、溫度、壓力等,并將它們轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號01, 以供計算機進行處理分析。ADC芯片在出廠交付之前,需要對產(chǎn)品的性能做各種測試,尤其對于要求可靠性和安全性較高的行業(yè),諸如航空航天、醫(yī)用醫(yī)療、汽車電子等應用領域,都需要對ADC芯片做嚴苛的性能測試驗證。
ADC測試參數(shù)主要包括靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)。靜態(tài)參數(shù)主要表示ADC實際測量的輸出曲線和理想輸出曲線的關系,而動態(tài)參數(shù)著重分析ADC的頻譜特性。
1****靜態(tài)測試常見參數(shù)
DNL:對于給定的輸入范圍,ADC輸出之間的步進量誤差,用于衡量實際輸出碼和理想輸出碼的差距。
INL:積分非線性,整個輸入范圍內(nèi)的非線性誤差,即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
Offset:積分非線性,整個輸入范圍內(nèi)的非線性誤差,即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
Gain:增益誤差。輸出全是1時,對應的實際電壓和理想電壓之差。
TUE:在考慮所有誤差來源的情況下,評估轉(zhuǎn)換器的整體性能。
Missing code:輸出范圍中未被轉(zhuǎn)換器所表示的編碼值。
圖1. ADC靜態(tài)參數(shù)測試
2****動態(tài)測試常見參數(shù)
THD:總諧波失真,轉(zhuǎn)換過程中非線性引起的諧波失真。
SNR:信噪比,輸出信號與內(nèi)部噪聲之比。
SFDR:無雜散動態(tài)范圍,就是基頻信號不存在額外雜散分量的最大范圍。
ENOB:實際有效位數(shù)。在噪聲和失真存在的情況下,ADC實際可達到的位數(shù)。
圖2. ADC動態(tài)參數(shù)測試
3****德思特ADC測試解決方案
圖3. 德思特ADC測試臺架ATX7006A
目前針對ADC芯片的性能測試,表現(xiàn)出朝著高采樣率、高精度等性能參數(shù)測試的發(fā)展趨勢。
德思特提供完整的ADC測試解決方案,能夠測試8-24位的ADC芯片,功能測試涵蓋幾乎所有典型的性能參數(shù)測試(包括靜態(tài)參數(shù)測試和動態(tài)參數(shù)測試)。 我們采用緊湊型模塊化集成的ATE測試硬件臺架,配套專用的測試分析軟件ATView和WaveAnalyzer,給您提供ADC測試交鑰匙解決方案。
德思特ADC測試平臺特點
? 完全集成的ADC測試解決方案
? 采樣頻率高達200/400 MHz
? 無與倫比的信號發(fā)生質(zhì)量和精度
? 支持所有線性/動態(tài)測試
? 靈活和通用的數(shù)字IO
? 擴展分析軟件ATViewWaveAnalyzer
? 靜態(tài)、直方圖測試
? 易于用戶自定義的測試腳本
圖4. 德思特ADC測試系統(tǒng)架構(gòu)
圖5. 德思特ADC測試配套軟件ATView 7006
審核編輯 黃宇
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