OI-EAS系列電磁干擾掃描儀是一款具有四高特征的產品:高性能、高柔性組合、高性價比、高端技術;也是一款自主品牌國產化的電磁兼容測試設備,產品參考GB9254、GB18655、GJB151B、IEC61697-3等電磁兼容測試標準進行設計。OI-EAS系列EMI掃描儀是一套四向定位系統,與近場探頭和頻譜干擾接收機相結合,完成PCB板或類似電源適配器、智能穿戴電子設備等小型電子產品以及芯片的輻射騷擾自動測試;可用于測試PCB板、小型電子設備、器件等產品的電磁兼容性,精度可達±0.05mm。具有非常友好的設備兼容性,可兼容市面上主流的頻譜、接收機和近場探頭組等。今天我們使用OI-EASU321對泰克示波器演示版DPO DEMO 2 進行掃描測試。
測試設備:
羅德與施瓦茨頻譜分析儀FPC1500;掃描儀OI-EASS321;固緯EMI電場探頭PR-02;
本次測量只對晶振和芯片附近進行掃描,掃描區域尺寸(紅色框內)40mm*80mm;
我們先設定設備參數:掃描頻率:520MHz;分辨率帶寬:10kHz;檢波器類型:最大峰值檢波;步進:2mm;經過一段時間的掃描后我們可以得到如下效果圖:
在520MHz可以明顯看出被測樣品掃描區域的對外輻射情況,圖片下方紅色區域是FlexRAY插針,圖片中部黃色區域是SG-625PHC晶體振蕩器。
其他測試圖片如下:
-
芯片
+關注
關注
455文章
50714瀏覽量
423157 -
測試
+關注
關注
8文章
5269瀏覽量
126599 -
emi
+關注
關注
53文章
3587瀏覽量
127607
發布評論請先 登錄
相關推薦
評論