一、閂鎖效應：實際上是由于CMOS電路中基極和集電極相互連接的兩個BJT管子(下圖中，側面式NPN和垂直式PNP)的回路放大作用形成的，在兩個管子的電流放大系數均大于1時，電流在這兩個管子構成的回路中不停地被放大，從而導致管子承受的電流過大而燒毀芯片的一種現象。

二、閂鎖效應的原理分析：

狀態一：假設在N阱或者Psub中由于外界的原因產生了載流子注入，電流分別為In和Ip, 且InR_nwell=0.6，IpR_psub=0.6(假設PN結的導通電壓<0.6)。

狀態二：在所設壓降下，PNP的基極電位為1.2V, 集電極電位為0.6V, NPN的基極電位為0.6V, 集電極電位為1.2V，此時PNP和NPN的發射結都正偏, 集電結都反偏。從而兩個BJT管子可進行電流放大，PNP產生了基極電流Ib1, 則集電極電流IC1=β1Ib1, NPN產生了基極電流Ib2, 則集電極電流IC2=β2Ib2。

在近似狀態下，Ib1=β2Ib2，Ib2=β1Ib1，因此在后面的循環中，NPN的集電極電流作為PNP新的基極電流進行電流放大，PNP的集電極電流作為NPN新的基極電流進行放大。多次循環之后，電流會被持續放大。

三、閂鎖效應的抑制方法（部分方法）：

1.拉開NMOS和PMOS的間距：破壞電流循環中的一環，使側面式NPN BJT管子的基區變厚，載流子的收集變的困難，很難進行電流的放大。

2.使用Guard ring，襯底電位接出的部分采用環形繞線: 降低VDD和Vss的導通電阻，也即降低Rwell和Rsub的阻值，防止BJT的基極和集電極電位相等，破壞BJT導通的條件。

3.Substrate contact和well contact應盡量靠近source: 縮短了Rwell和Rsub的電阻的長度，減小了其電阻值。