2023年11月29日,第九屆國際第三代半導體論壇(IFWS)和“第三代半導體標準與檢測研討會”成功召開,是德科技參加第九屆國際第三代半導體論壇(IFWS),并重磅展出第三代半導體動靜態(tài)測試方案。
海內(nèi)外第三代半導體及相關領域的知名專家學者、企業(yè)領導、投資機構代表參與大會。中科院、北京大學、香港科技大學、英諾賽科、三安光電等科研院所、企業(yè)代表圍繞第三代半導體技術、應用,深入探討交流最新技術進展與發(fā)展趨勢,分享前沿研究成果。

是德科技與行業(yè)客戶針對動靜態(tài)測試解決方案進行探討,并針對相關測試問題進行分享。

值得一提的是,在展會期間,是德科技憑借高性能的產(chǎn)品和解決方案,在行業(yè)內(nèi)的影響力,被授予“品牌力量”獎。

期間,第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟重磅發(fā)布《第三代半導體功率器件產(chǎn)業(yè)及標準化藍皮書》,是德科技作為編寫組成員參與白皮書編寫。
報告從市場發(fā)展、技術現(xiàn)狀、測試評價挑戰(zhàn)、標準需求等方面闡釋了當前SiC、GaN功率器件產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展對標準化工作需求的緊迫度,強調(diào)了體系性開展評測標準制定工作的必要性。
目前,是德科技擁有全面的動靜態(tài)測試解決方案,包括功率半導體建模提參,靜態(tài)測試(IV/CV曲線)與動態(tài)測試(雙脈沖DPT測試)。
此次展出的是德科技
B1506A功率器件分析儀

應用于功率半導體在研發(fā)、生產(chǎn)和失效分析等領域的測試;
提供完整的電路設計解決方案,幫助企業(yè),高校以及研發(fā)單位功率半導體產(chǎn)品研發(fā),實現(xiàn)對功率半導體的高效,安全的測試驗證。為研發(fā),生產(chǎn),失效分析等多個場景提供測試服務;
可用于3000V/1500A 高功率測試;
自動化程度高,生成測試報告供用戶進行數(shù)據(jù)分析和處理;
強大的測試能力,涵蓋C/V,I/V,Qg,CV ,Rg,Ron, Ciss等參數(shù);
如需進一步了解
第三代半導體相關測試方案
請下載技術文檔
點擊下載
還有機會獲得抽獎禮品
倍思三合一快充數(shù)據(jù)線
* 禮品圖片僅供參考,請以實物為準。請在填寫問卷時留下詳細地址,如遇地址不詳無法寄送,敬請諒解。
關于是德科技
是德科技(NYSE:KEYS)啟迪并賦能創(chuàng)新者,助力他們將改變世界的技術帶入生活。作為一家標準普爾 500 指數(shù)公司,我們提供先進的設計、仿真和測試解決方案,旨在幫助工程師在整個產(chǎn)品生命周期中更快地完成開發(fā)和部署,同時控制好風險。我們的客戶遍及全球通信、工業(yè)自動化、航空航天與國防、汽車、半導體和通用電子等市場。我們與客戶攜手,加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個安全互聯(lián)的世界。了解更多信息,請訪問是德科技官網(wǎng) www.keysight.com.cn。

了解我們不懈追求行業(yè)創(chuàng)新的奮斗史:
www.keysight.com/cn...
原文標題:是德科技第三代半導體動靜態(tài)測試方案亮相IFWS
文章出處:【微信公眾號:是德科技KEYSIGHT】歡迎添加關注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
-
是德科技
+關注
關注
21文章
951瀏覽量
82486
原文標題:是德科技第三代半導體動靜態(tài)測試方案亮相IFWS
文章出處:【微信號:是德科技KEYSIGHT,微信公眾號:是德科技KEYSIGHT】歡迎添加關注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
相關推薦
第三代半導體器件封裝:挑戰(zhàn)與機遇并存

第三代半導體廠商加速出海
第三代半導體對防震基座需求前景?

第三代半導體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展
第三代寬禁帶半導體:碳化硅和氮化鎵介紹

鴻利智匯亮相IFWS與SSLCHINA 2024
江西薩瑞微榮獲&quot;2024全國第三代半導體制造最佳新銳企業(yè)&quot;稱號

第三代半導體的優(yōu)勢和應用
萬年芯榮獲2024第三代半導體制造最佳新銳企業(yè)獎

第三代半導體和半導體區(qū)別
德高化成第三代半導體GaN倒裝芯片LED封裝制造擴產(chǎn)項目正式開工
納微半導體發(fā)布第三代快速碳化硅MOSFETs
第三代SiC功率半導體動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)介紹
一、二、三代半導體的區(qū)別

評論