平面衍射光柵的PDL（偏振相關損耗）測量
偏振相關損耗(PDL)是電信網絡中使用的光學元件的一個重要特性。本文提供了用于光柵PDL的精確定義，并解釋了用于確定PDL值的測量程序。
偏振相關損耗(PDL)
光纖通信網絡中的組件必須對信號偏振狀態的變化不敏感，這一要求對表面浮雕衍射光柵來說尤其具有挑戰性，因為具有金屬涂層的光柵往往會使入射到其上的光偏振。用于評估網絡組件對極化變化的敏感性的可測量量稱為偏振相關損耗(PDL)。
然而，存在一類光柵，在給定的波長范圍內，兩種偏振模式下的衍射效率幾乎相等;這些光柵被稱為低PDL光柵。
PDL的定義
在衍射光柵表征中使用的PDL的定義是：
PDL = 10log10(Ep/Es)
其中Ep和Es分別是P平面和S平面偏振入射光的測量衍射效率。PDL以分貝表示。有時PDL被表示為等式(1)的絕對值。但允許PDL是帶符號(正或負)量提供了關于效率如何相對于彼此變化(相對于波長)的更多信息。
PDL的測量
PDL是通過分別測量P平面和S平面衍射效率，然后將相關值代入上述方程來確定的。這些獨立的測量，每個都是用線性偏振的入射光進行的，因此產生Ep和Es的值。這些測量可以是絕對或相對效率的(前提是一致地進行)。
審核編輯 黃宇
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