色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

微波電路互聯(lián)用金絲鍵合界面空間高低溫特性演化研究

半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 來源:半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 作者:半導(dǎo)體封裝工程師 ? 2023-12-18 14:22 ? 次閱讀

歡迎了解

孔靜 李巖 高鴻 劉媛萍 張磊 閻曉蕾 朱旭斌

文摘

金絲材料應(yīng)用于航天器小型化微波模塊等產(chǎn)品的電路封裝中,金絲鍵合界面受高低溫環(huán)境影響易產(chǎn)生性能變化從而影響服役可靠性。本文對金絲界面高低溫特性的演化規(guī)律進行了研究,包括空間溫度環(huán)境模擬試驗后的界面與成分遷移、界面層厚度變化、鍵合金絲拉伸剪切力與失效模式演變,得出不同溫度條件處理后的金鋁鍵合界面微觀組織變化規(guī)律。結(jié)果表明高低溫循環(huán)試驗后金絲界面仍保持較高的結(jié)合強度,一定程度的金屬間化合物生長提高了鍵合界面強度。高溫貯存試驗中,隨著貯存時間的增加,金絲界面層IMC(Intermetallic Compound)厚度和金屬間化合物不斷增長,失效破壞位置越來越多地出現(xiàn)在鍵合界面處,鋁金屬化層附近的金含量因擴散而增高,金鋁鍵合界面處IMC界面層厚度的增加降低了界面結(jié)合強度。

0 引言

金絲應(yīng)用于集成電路和半導(dǎo)半導(dǎo)體分立器件的引線鍵合封裝,由于該工藝制造成本低且具有較高的通用性,成為電子產(chǎn)品封裝互聯(lián)的關(guān)鍵技術(shù)。新一代高密度互聯(lián)用金絲材料越來越多地應(yīng)用于小型化微電子產(chǎn)品中,如基于一體化MCM(多芯片組件)技術(shù)的射頻鏈模塊多芯片組件,其封裝可靠性直接關(guān)系到微波信號傳輸質(zhì)量。電子產(chǎn)品小型化、模塊化以及高集成化的發(fā)展趨勢,要求鍵合金絲具有更加優(yōu)異的鍵合穩(wěn)定性和可靠性。鍵合金絲的焊接工藝一般基于熱超聲鍵合,金絲與芯片之間的金屬化層之間通過原子間的擴散形成鍵合界面,鍵合界面的牢固性對微波電路互聯(lián)可靠性起著至關(guān)重要的作用,界面層金屬間化合物的過度生長會使接觸電阻和熱阻增大,并且降低鍵合點機械性能。

微波電路在航天器中應(yīng)用廣泛,對鍵合金絲的耐高低溫特性具有較高要求。金絲在微波電路中使用數(shù)量多,鍵合界面復(fù)雜,界面多為金—金金屬化、鋁—金金屬化層。航天器在發(fā)射和在軌運行過程中服役溫度范圍達到-65~150 ℃,所產(chǎn)生的熱載荷對微波電路互聯(lián)用金絲界面組織性能產(chǎn)生較大的影響。在高溫條件下,鍵合金絲和各類不同基板構(gòu)成的多芯片組件產(chǎn)品在金-鋁鍵合界面中會生成Kirkendial空洞,或產(chǎn)生脆性相金屬間化合物,鍵合強度降低,

甚至脫焊。國內(nèi)外研究表明高溫貯存產(chǎn)生的熱應(yīng)力和金屬間化合物脆性相容易造成鍵合焊點的脫落或斷裂,但對金絲界面空間高低溫特性演化的規(guī)律仍缺乏系統(tǒng)性研究,為提升金絲材料長期空間服役可靠性,本文通過鍵合金絲的高低溫界面顯微組織變化分析、成分和界面層遷移分析、界面結(jié)合性能表征,對金絲及其鍵合樣件的機械特性以及鍵合界面高低溫特性演變規(guī)律進行研究,獲取金鋁鍵合界面性能退化規(guī)律,擬為微波電路互聯(lián)用鍵合金絲的封裝可靠性評價提供技術(shù)支持。

1 實驗

1. 1 材料

金絲材料采用純度 99. 99% 以上的金,經(jīng)過熔鑄、拉拔和退火工藝形成用于鍵合的金絲。熔鑄過程中適當(dāng)添加微量元素以增加其力學(xué)性能與應(yīng)用可靠性,微量元素總和<0. 01%的前提下,采用拉絲工藝和退火工藝以保證金絲的焊接強度、熱穩(wěn)定性,并提高絲材的耐熱性和成球性。

采用金絲球焊設(shè)備在硅芯片鋁焊盤上鍵合高密度金絲形成金鋁鍵合的試驗樣件,其鍵合位置如圖1所示。

4ea6c846-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

1. 2 試驗過程

金絲鍵合界面微觀組織結(jié)構(gòu)分別采用金相顯微鏡和JSM-6360LV掃描電子顯微鏡(SEM)觀察,采用掃描電子顯微鏡能譜儀(EDS)分析鍵合點金屬間化合物成分與界面遷移、元素擴散情況,參照 GB/T34895—2017、GB/T 17359—2012、GB/T 16594—2008中的方法進行測試。采用CMT5105微機控制電子萬能試驗機測試鍵合前絲材拉力,采用 Series 4000-0拉力剪切力測試儀測試金絲鍵合后拉力。

高低溫交變循環(huán)試驗采用CY-0瑞萊沖擊試驗箱進行測試,采用低溫(-65±5) ℃到高溫(150±5) ℃之間的溫度轉(zhuǎn)換,高、低溫之間轉(zhuǎn)換時間間隔小于5s,達到最高最低溫度后保溫10 min,溫度循環(huán)次數(shù)分別為100次、300次、500次。高溫貯存試驗箱采用電熱鼓風(fēng)干燥箱,加熱溫度為 150 ℃,樣件分別貯存100、500、1 000 h后取出,樣品取出后分別對金絲單絲在不同貯存時間點的拉伸性能、鍵合金絲樣件的鍵合拉力和Si芯片金鋁鍵合試驗樣件界面組織結(jié)構(gòu)的變化進行測試。

2 結(jié)果與討論

2. 1 球焊工藝成球質(zhì)量

為評價球焊工藝成球質(zhì)量,在薄膜陶瓷鍍金基板上焊接金絲,采用45倍金相顯微鏡觀察焊點外觀,如圖2(a)所示,金絲鍵合焊點均無起翹、脫落現(xiàn)象。抽樣10個焊點在光學(xué)顯微鏡下進行焊點尺寸測量,球焊鍵合點直徑在2~5倍金絲直徑之間。將球焊過程中燒成的金絲球取下來,采用掃描電鏡觀察金絲球的外觀質(zhì)量,如圖 2(b)所示,金絲球成規(guī)則的球形,表面光滑,無沾污、凹坑等缺陷,金絲球兩個方向上的直徑分別為71. 32和70. 99 μm,對10個燒成金絲球直徑進行統(tǒng)計,其平均直徑為71. 1 μm。

4eb134c0-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

2. 2 高低溫交變環(huán)境后的界面組織演變

對金鋁(AuAl)鍵合樣件進行高低溫交變循環(huán)試驗并進行試驗后的界面性能分析,得到的AuAl鍵合界面微觀組織結(jié)構(gòu)如圖3所示。圖3(a)為試驗前鍵合界面金相圖,從圖中沒有觀察到明顯的界面金屬間化合物(IMC)層;圖3(b)~(d)分別為高低溫交變循環(huán)試驗100次、300次、500次后的金絲鍵合界面金相圖,可以看出AuAl界面層呈點狀或條帶狀分布,厚度不均勻,且隨循環(huán)次數(shù)的增多而逐漸變得明顯。

4ebb47d0-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

SEM對高低溫交變循環(huán)試驗后鍵合點界面層厚度、成分與界面遷移、元素擴散情況分析結(jié)果如圖4所示。溫度交變試驗100次后,AuAl鍵合界面已經(jīng)形成了金屬間化合物層,從圖4(b)可以看出,界面分為兩層,分別進行EDX能譜分析得到,靠近金絲球的A點Au和Al原子比約為4∶1,靠近Al金屬化層的B點Au和Al原子比約為5∶2,由原子體積分?jǐn)?shù)百分比推出靠近金絲球的主要成分為 Au 4 Al,靠近 Al金屬化層的主要成分為Au 5 Al 2 。溫度交變循環(huán)試驗300次后,界面層C部位的主要成分接近于Au 4 Al。溫度交變循環(huán)試驗500次后,界面層D部位的成分主要為Au 4 Al。具體情況見表1。

4ed90d88-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

4ee43ae6-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

由于 AuAl鍵合不同溫度交變循環(huán)次數(shù)后的界面層在電鏡中觀察并不呈連續(xù)排布,對厚度測量數(shù)值進行統(tǒng)計,其分布情況如圖5所示。100次溫度循環(huán)后的IMC層厚度分布在1. 3~2. 2 μm,且IMC層厚度多在低厚度值范圍內(nèi)分布;300 次溫度循環(huán)后的IMC 層厚度約為 1. 7~2. 3 μm;500 次溫度循環(huán)后的IMC 層厚度約為 2. 1~3. 3 μm。可見隨循環(huán)次數(shù)增加,焊接界面微觀組織結(jié)構(gòu)中IMC界面層逐漸變厚。Au-Al界面層厚度和金屬間化合物種類隨著元素、晶界、空位等的擴散而變化,隨著高低溫循環(huán)次數(shù)的增加,鍵合點靠近Si芯片Al金屬化層附近的金屬間化合物由于Au元素的擴散由最初生成的Au 5 Al 2 逐漸轉(zhuǎn)化成 Au含量較高的 Au 4 Al,同時靠近金絲球的界面逐漸出現(xiàn)了Kirkendial孔洞,因Au向Al中擴散速率比Al向Au中擴散速率大,從而使得靠近界面的金球附近逐漸出現(xiàn)空位聚集并出現(xiàn)孔洞。

4eed5dec-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

2. 3 高溫貯存后的界面組織演變

將金鋁(AuAl)鍵合樣件在 150 ℃(允許+5 ℃正偏差)環(huán)境溫度下保持1 000 h,設(shè)置中間檢查點100、500 h,試驗后分別利用金相顯微鏡和掃描電鏡進行AuAl鍵合界面形貌分析,并得到焊接界面微觀組織結(jié)構(gòu)和界面遷移、元素擴散演變情況。圖6(a)~(c)分別為高溫貯存100、500、1 000 h后的金絲鍵合界面金相圖,高溫貯存100 h后,AuAl鍵合界面已經(jīng)形成,界面層厚度不均勻且隨高溫貯存時間的增加而逐漸變厚。利用掃描電子顯微鏡對高溫貯存試驗后鍵合點界面金屬間化合物層的厚度、成分與界面遷移、元素擴散情況進行分析,如圖7所示。

4efcbfb2-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

4f06410e-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

高溫貯存100 h后,圖7(b)中靠近金絲球的A點Au和Al原子比約為5∶2,靠近Al金屬化層的B點Au和Al原子比約為2∶1,表明靠近金絲球的金屬間化合物主要成分為Au 5 Al 2 ,靠近Al金屬化層的金屬間化合物主要成分為Au 2 Al。高溫貯存500 h后,圖7(d)界面層C點的成分接近于金屬間化合物Au 5 Al 2 。高溫貯存1 000 h后,圖7(f)中靠近金絲球的E點Au和Al原子比約為77∶23,靠近Al金屬化層D點的Au和Al原子比約為74∶25。與圖7(d)相比,Au元素隨高溫貯存時間的延長,逐漸向靠近Si芯片的Al金屬化層附近擴散。具體情況見表2。

4f21a610-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

對不同高溫貯存時間后的AuAl鍵合IMC界面層厚度值進行統(tǒng)計,其分布情況如圖8所示。高溫貯存100 h后 IMC層厚度為 2. 2~3. 6 μm;高溫貯存 500 h后的IMC層厚度為6. 7~7. 2 μm;高溫貯存1 000 h后的IMC層厚度為8. 3~9. 8 μm。隨著高溫貯存時間的增加,焊接界面微觀組織結(jié)構(gòu)中IMC界面層厚度增長較明顯,說明在150 ℃溫度條件下AuAl金屬間化合物的生長較快。

4f2b3496-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

Au-Al金屬間化學(xué)物生長厚度一般滿足以下經(jīng)驗公式:

4f329330-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

式中,δ為金屬間化合物厚度,K為金屬間化合物的生長常數(shù),t為老化時間,n為時間指數(shù)。

根據(jù)普遍研究認(rèn)為:當(dāng)n=1時,金屬間化合物的生長為界面反應(yīng)控制,此階段屬于初步反應(yīng)階段;當(dāng)n=2時,金屬間化合物的生長為擴散控制,Au原子通過Al金屬化層的孔隙和晶界擴散與Al結(jié)合形成金屬間化合物;當(dāng)n≥3時,金屬間化學(xué)物的生長為選擇擴散控制,一種金屬原子無法通過金屬間化合物介質(zhì)層與另一種原子結(jié)合,只能從金屬間化合物的晶界擴散到另一種金屬中,隨著反應(yīng)時間的增加,n值逐漸增大,反應(yīng)速率不斷減小。

圖9為150 ℃的條件下,Au-Al金屬間化合物的IMC層平均厚度隨高溫貯存時間變化的曲線圖,對IMC厚度與老化時間的關(guān)系進行非線性擬合,由擬合結(jié)果得出,當(dāng) n=2 時,擬合的匹配度為 R 2 =0. 990 5,Au-Al金屬間化合物的生長符合拋物線的擬合。因此,高溫貯存條件下,金屬間化合物的生長為擴散控制,說明AuAl鍵合IMC界面層的反應(yīng)機理為Au、Al金屬的相互擴散并結(jié)合成金屬間化合物為主,與圖7中焊接界面微觀組織結(jié)構(gòu)中不同高溫貯存時間后AuAl鍵合界面金屬間化合物層的成分與界面遷移、元素擴散情況的分析結(jié)果相符。

4f39f616-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

2. 4 金絲鍵合拉力及失效模式演化

圖10顯示AuAl鍵合拉伸斷裂載荷隨不同交變溫度循環(huán)次數(shù)變化不大,溫度循環(huán)后鍵合拉力略有升高,其中300次溫度循環(huán)后,鍵合拉力升高,一定程度的金屬間化合物生長可以提高鍵合界面的硬度和強度,但隨著金屬間化合物的繼續(xù)生長,鍵合點機械性能降低。如表3所示,金絲鍵合失效模式以鍵合點(AuAl鍵合界面處)失效和中間引線斷裂為主,15個抽樣測試點中,100次和500次溫度循環(huán)后分別出現(xiàn)一次鍵合點失效。與溫度循環(huán)試驗前相比,溫度循環(huán)后金絲鍵合拉力的離散性減小,說明溫度循環(huán)對拉拔后金絲的力學(xué)性能均勻性起到促進作用,這可能與拉拔后金絲殘余應(yīng)力的降低有關(guān)。

4f404f20-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

4f48faa8-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

圖11顯示隨高溫貯存時間的延長,金絲AuAl鍵合拉力呈現(xiàn)逐漸下降的變化規(guī)律。高溫穩(wěn)定性試驗中在貯存不同時間后,對金絲絲材的拉斷力進行測試并與金絲鍵合后的拉力進行對比,說明隨著高溫貯存時間的增加,金絲鍵合拉力破壞位置越來越多地出現(xiàn)在鍵合焊點界面處,鍵合界面因產(chǎn)生越來越多的金屬間化合物脆性相且界面IMC層厚度不斷增大,引發(fā)鍵合界面強度的降低。但經(jīng)過150 ℃條件下1 000 h貯存試驗后,金絲鍵合拉力仍高于2 gf,符合航天器微波電路組件的設(shè)計使用要求。

4f658614-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

4f6abd00-9bac-11ee-be60-92fbcf53809c.png

金絲與Al焊盤反應(yīng)形成的金屬間化合物IMC在一定程度上能夠使焊接接頭更加牢固,起到鍵合作用,焊點界面處形成彌散分布的微小金屬間化合物可以改善焊料的抗疲勞能力或連接強度,但是由于金屬間化合物通常為脆硬相,延性較差,較多的金屬間化合物會導(dǎo)致鍵合拉力的降低。如表4所示,高溫貯存500 h后的IMC層厚度與100 h相比,增長了約2. 2倍,鍵合點失效個數(shù)明顯增加,導(dǎo)致鍵合拉力的降低。高溫貯存1 000 h后,失效主要發(fā)生在AuAl鍵合界面處,界面強度成為影響引線材料互聯(lián)封裝可靠性的主要因素,而較厚的IMC界面層在外力作用下容易在界面處產(chǎn)生應(yīng)力集中,降低了界面結(jié)合強度。

3 結(jié)論

(1)通過金絲球焊工藝成球質(zhì)量分析,發(fā)現(xiàn)金絲鍵合焊點均無起翹、脫落現(xiàn)象,球焊鍵合點直徑在2~5倍金絲直徑之間,焊合良好。球焊過程中燒成金絲球呈規(guī)則的球形,表面光滑,無沾污、凹坑等缺陷,金絲球的平均直徑為71. 1 μm。

(2)隨高低溫交變試驗循環(huán)次數(shù)的增加,AuAl鍵合界面層厚度逐漸增加,且隨著Au、Al化學(xué)元素的遷移在界面處生成金屬間化合物,隨著高低溫循環(huán)次數(shù)的增加,鍵合點靠近Si芯片Al金屬化層附近的金屬間化合物由于Au元素的擴散由最初生成的Au 5 Al 2 逐漸轉(zhuǎn)化成Au含量較高的Au 4 Al。300次溫度循環(huán)后,鍵合拉力略有升高且離散性減小,一定程度的金屬間化合物生長提高了鍵合點的可靠性,此外,溫度循環(huán)對拉拔后金絲的力學(xué)性能均勻性起到促進作用。

(3)高溫貯存試驗后的鍵合界面層厚度隨貯存時間增長較快,由于Au元素的擴散Al金屬化層附近的界面組成由Al含量較高的相逐漸向Au含量較高的相轉(zhuǎn)變,鍵合界面因產(chǎn)生越來越多的金屬間化合物使界面IMC層厚度不斷增大。

(4)通過金絲鍵合拉力及失效模式演化分析,獲取了金鋁鍵合界面金屬間化合物生長與鍵合拉力和鍵合點失效模式的變化關(guān)系,隨著高溫貯存時間的增加,因界面層IMC層厚度的增大,金絲鍵合拉力破壞位置越來越多地出現(xiàn)在鍵合焊點界面處,引發(fā)鍵合界面強度的降低。當(dāng)金絲在高溫環(huán)境中長期使用時,應(yīng)注意界面特性變化對微波電路互聯(lián)金鋁界面結(jié)合強度的影響,在金絲材料的選用與產(chǎn)品設(shè)計過程中,應(yīng)充分考慮溫度對鍵合界面結(jié)合性能的影響,根據(jù)試驗結(jié)果確立金絲高溫應(yīng)用邊界條件。

通過對金絲界面空間高低溫特性演化規(guī)律研究,可為微波電路及其他集成電路的設(shè)計研制、失效分析及材料應(yīng)用驗證等工作提供借鑒和參考。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 集成電路
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5387

    文章

    11536

    瀏覽量

    361666
  • 微波電路
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    59

    瀏覽量

    17409
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    高低溫對于工業(yè)級連接器為什么“不可或缺”?解讀DH系列連接器寬域耐高低溫性能

    普通連接器的應(yīng)用環(huán)境通常相對平和,對耐高低溫沒有深度的要求,而工業(yè)級連接器通常是用于戶外、工業(yè)、船舶等惡劣工況環(huán)境,會經(jīng)受嚴(yán)苛的高溫或低溫環(huán)境溫度的制約和影響,正因如此,工業(yè)級連接器通常都具備非常
    的頭像 發(fā)表于 11-01 08:05 ?663次閱讀
    耐<b class='flag-5'>高低溫</b>對于工業(yè)級連接器為什么“不可或缺”?解讀DH系列連接器寬域耐<b class='flag-5'>高低溫</b>性能

    高低溫試驗箱降溫原理是什么

    高低溫試驗箱是一種常用的環(huán)境模擬測試設(shè)備,主要用于模擬產(chǎn)品在極端高溫和低溫環(huán)境下的性能和耐久性測試。通過在一定時間內(nèi)快速升溫或降溫,試驗箱能夠模擬出各種環(huán)境條件,為電子、電工、汽車、航空航天、材料等
    的頭像 發(fā)表于 09-21 14:26 ?476次閱讀
    <b class='flag-5'>高低溫</b>試驗箱降溫原理是什么

    金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

    ,實現(xiàn)電氣信號的傳輸。然而,金絲過程中,溫度是一個不可忽視的關(guān)鍵因素,它不僅影響著質(zhì)量,還直接關(guān)系到產(chǎn)品的可靠性和性能。本文將對
    的頭像 發(fā)表于 08-16 10:50 ?1537次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>工藝溫度<b class='flag-5'>研究</b>:揭秘<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>質(zhì)量的奧秘!

    淺析高低溫環(huán)境測試設(shè)備的使用與維護

    高低溫環(huán)境測試設(shè)備作為重要的試驗設(shè)備,在使用過程中需要特別注意其使用與維護,以確保試驗結(jié)果的準(zhǔn)確性和設(shè)備的長期穩(wěn)定運行。本文將重點討論高低溫環(huán)境測試設(shè)備的使用與維護。   高低溫環(huán)境測試設(shè)備
    的頭像 發(fā)表于 08-02 17:06 ?451次閱讀
    淺析<b class='flag-5'>高低溫</b>環(huán)境測試設(shè)備的使用與維護

    金絲強度測試儀試驗方法:拉脫、引線拉力、剪切力

    金絲強度測試儀是測量引線鍵合強度,評估強度分布或測定
    的頭像 發(fā)表于 07-06 11:18 ?620次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>強度測試儀試驗方法:<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>拉脫、引線拉力、<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>剪切力

    電源模塊高低溫試驗的必要性與應(yīng)用

    高低溫試驗在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的適應(yīng)力和一致性。通過這種試驗,我們可以檢驗電子
    的頭像 發(fā)表于 07-05 17:11 ?416次閱讀
    電源模塊<b class='flag-5'>高低溫</b>試驗的必要性與應(yīng)用

    金絲抗拉強度測試,推薦自動推拉力測試機!

    最近,有客戶向小編咨詢推拉力測試機,想要進行金絲抗拉強度測試。在集成電路封裝領(lǐng)域,金絲
    的頭像 發(fā)表于 06-03 18:04 ?746次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>抗拉強度測試,推薦自動推拉力測試機!

    高低溫交變試驗箱:科技的溫控先鋒

    在科技日新月異的今天,各種測試設(shè)備為工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究提供了重要的支撐。其中,高低溫交變試驗箱以其獨特的功能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為了溫控技術(shù)的重要代表。上海和晟HS系列高低溫交變試驗箱高低溫
    的頭像 發(fā)表于 04-16 14:31 ?677次閱讀
    <b class='flag-5'>高低溫</b>交變試驗箱:科技的溫控先鋒

    怎樣選擇一款合適的高低溫試驗箱?高低溫測試設(shè)備采購指南

    現(xiàn)如今各行各業(yè),產(chǎn)品質(zhì)量已成為決定企業(yè)品牌競爭力的核心因素,而想要知道產(chǎn)品的質(zhì)量、環(huán)境適應(yīng)性等的話,那么高低溫試驗箱是不可或缺的測試設(shè)備。   高低溫試驗箱通過模擬產(chǎn)品在極端溫度條件下的表現(xiàn),可以
    的頭像 發(fā)表于 04-09 15:24 ?1207次閱讀
    怎樣選擇一款合適的<b class='flag-5'>高低溫</b>試驗箱?<b class='flag-5'>高低溫</b>測試設(shè)備采購指南

    化學(xué)鍍鎳鈀金電路金絲可靠性分析

    ),可在焊接時避免“金脆”問題、金絲合時避免“黑焊盤”問題。針對化學(xué)鍍鎳鈀金電路板的金絲
    的頭像 發(fā)表于 03-27 18:23 ?1275次閱讀
    化學(xué)鍍鎳鈀金<b class='flag-5'>電路</b>板<b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>可靠性分析

    電源模塊高低溫老化測試方法與步驟

    為了檢測和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測試是不可或缺的測試步驟。高低溫老化測試是電子產(chǎn)品制造過程中的重要一環(huán),電源模塊高低溫老化測試就是為了檢測電源模塊在高溫和低溫
    的頭像 發(fā)表于 03-08 11:00 ?880次閱讀

    工藝參數(shù)對金絲質(zhì)量影響的研究

    共讀好書 王子伊 付明浩 張曉宇 王晶 王代興 孫浩洋 何欽江 摘要: 金絲技術(shù)是微電子領(lǐng)域的封裝技術(shù),一般采用金線,利用熱、壓、超聲共同作用,完成微電子器件中電路內(nèi)部連接,即芯片
    的頭像 發(fā)表于 02-21 11:50 ?684次閱讀
    工藝參數(shù)對<b class='flag-5'>鍵</b>合<b class='flag-5'>金絲</b>質(zhì)量影響的<b class='flag-5'>研究</b>

    金絲引線鍵合的影響因素探究

    好各個關(guān)鍵點,提升產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。通過對金絲引線鍵合整個生產(chǎn)過程的全面深入研究,分析了
    的頭像 發(fā)表于 02-02 17:07 ?803次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b>引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的影響因素探究

    如何讓高低溫沖擊試驗箱的壽命更長

    高低溫沖擊試驗箱在使用時間久后,簡單的維護與保養(yǎng)是不可少的。做到是否徹底,直接影響到高低溫沖擊試驗箱的使用壽命;那么我們在給高低溫沖擊試驗箱保養(yǎng)時,有哪些該注意的細(xì)節(jié)問題呢?首先我們要有保養(yǎng)的意識
    的頭像 發(fā)表于 01-09 10:52 ?464次閱讀
    如何讓<b class='flag-5'>高低溫</b>沖擊試驗箱的壽命更長

    高低溫冷熱沖擊試驗箱:科學(xué)研究的得力助手

    在科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中,高低溫冷熱沖擊試驗箱發(fā)揮著不可或缺的作用。這種設(shè)備能夠模擬極端溫度環(huán)境,為各種材料、產(chǎn)品和組件提供嚴(yán)苛的測試條件,確保其在各種極端環(huán)境下的性能穩(wěn)定。上海和晟
    的頭像 發(fā)表于 12-28 11:29 ?638次閱讀
    <b class='flag-5'>高低溫</b>冷熱沖擊試驗箱:科學(xué)<b class='flag-5'>研究</b>的得力助手
    主站蜘蛛池模板: 国产午夜电影院| 青柠在线观看免费全集| 微福利92合集| 2018高清国产一区二区三区| 国产欧美一区二区三区免费| 欧美特级特黄AAAAA片| 伊人久在线观看视频| 欧美精品中文字幕亚洲专区| 亚洲午夜无码久久久久蜜臀av| 东北真实仑乱| 女厕所边摸边吃奶边做爽视频| 夜夜骑夜夜欢| 国产探花在线精品一区二区| 日本女人bb| 99视频久久精品久久| 老湿机一区午夜精品免费福利| 亚洲精品6久久久久中文字幕 | 97免费视频在线观看| 精品久久免费视频| 先锋影音av最新资源| 福利社的阿姨| 亲胸吻胸添奶头GIF动态图免费| 重口味av| 久久久久伊人| 亚洲色图激情小说| 国产综合自拍 偷拍在线| 世界第一黄暴漫画家| 成人毛片大全| 青柠在线观看免费完整版| ewp绞死vk失禁编| 麻豆国产精品AV色拍综合| 一级淫片bbbxxx| 国模丽丽啪啪一区二区| 性欧美videos俄罗斯| 国产精品JK白丝AV网站| 色柚视频网站ww色| 成人免费看片45分钟| 琪琪see色原网色原网站| AV色蜜桃一区二区三区| 蜜柚影院在线观看免费高清中文| 在镜头里被CAO翻了H|