膜作為一種重要的材料形態(tài),在各個領(lǐng)域中都有著廣泛的應(yīng)用。在電子器件方面,薄膜被廣泛應(yīng)用于集成電路、顯示器件、太陽能電池等領(lǐng)域。薄膜提供了更高的集成度和靈活性,使得電子器件在體積和性能上都有了顯著的提升。
薄膜未來發(fā)展也具有廣闊的前景。首先,納米薄膜在材料研究和應(yīng)用中扮演著重要角色。納米級薄膜能夠充分利用尺寸效應(yīng)和界面效應(yīng),具有優(yōu)異的物理和化學(xué)性能,因此在光電器件、傳感器、儲能器件等方面有著廣泛的應(yīng)用前景。其次,功能化薄膜的發(fā)展是薄膜研究的一個重要方向。
泰克公司在材料測試方面有很強(qiáng)的技術(shù)能力,本次直播將著重介紹材料電阻的兩線、四線測試,材料電阻率計(jì)算,范德堡測試法測試薄膜電阻率,磁性薄膜材料的霍爾效應(yīng),進(jìn)而幫助您進(jìn)行薄膜材料的電性能測試。
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本期直播預(yù)告
本期云上大講堂,將由泰克應(yīng)用工程師 劉建章為大家?guī)恚?/p>
■薄膜材料的應(yīng)用
■薄膜材料電阻率測試挑戰(zhàn)及方案
■范德堡測試法講解
■霍爾效應(yīng)測試講解
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直播日程安排
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時間
2023年12月22號(周五)1445
1400 |
薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測試 |
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1530 |
互動答疑 |
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1545 |
搶答有獎 |
講師介紹
劉建章
泰克應(yīng)用工程師
泰克科技(中國)有限公司的應(yīng)用工程師,主要負(fù)責(zé)西北區(qū)域的技術(shù)支持工作。多年以來一直在從事系統(tǒng)集成及測試測量相關(guān)工作,積累了豐富的產(chǎn)品開發(fā)流程及測試經(jīng)驗(yàn)。目前主攻方向包括半導(dǎo)體分立器件測試、晶圓可靠性測試、晶圓自動化測試等。
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原文標(biāo)題:12月22日|泰克云上大講堂—薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測試詳解
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原文標(biāo)題:12月22日|泰克云上大講堂—薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測試詳解
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