文章來源：睞芯科技LightSense

原文作者：LIG

介紹了光波干涉的原理是什么，以及該原理可以應用于什么領域。

光波干涉在許多領域都有應用，例如：干涉儀器、干涉光柵等。而著名的干涉實驗有：楊氏雙狹縫實驗和邁克爾遜干涉儀（Michelson interferometer）。這些實驗和應用，有助于研究光波的性質，以及應用于測量、圖像處理和科學研究等領域。

光波干涉原理可應用于多種檢測和測量領域。

常見的應用有以下5種

1.薄膜厚度測量

光波干涉，可以用來測量透明薄膜的厚度。可通過觀察干涉條紋的變化，來推斷薄膜的光程差，從而確定其厚度。適用于：透明光學材料薄膜的測量。

2.折射率測量

光波干涉，可以通過測量材料中光的相位差來計算折射率，對于在材料研究、光學元件制造等領域非常有用。

3. 表面形狀測量

光波干涉，可以用于測量物體表面的形狀、高度差、凹凸度等。并經由分析干涉條紋的變化，得到物體表面的形狀等信息。適用于：制造業中的精密表面質量檢測，比如光纖端面3D形貌。

4.光學元件檢測

光波干涉，可以用來檢測光學元件的性能，如：透鏡的曲率、平面度，光柵的參數等。

5. 其他應用

氣體濃度測量、機械震動與變形測量、非破壞性材料檢測與生物醫學等領域。

光波干涉技術運用例子

1 .光纖端面干涉儀

以單色光或者白色寬帶光的干涉來測量光纖端面3D形貌技術，在光纖通信產品上起到重要的作用。在光纖連接器生產車間和實驗室，必備有光纖端面干涉儀，測量包括FC、SC、LC等單芯、MPO/MTP等多芯光纖產品。非接觸式快速測量，可同時測量光纖高度、纖芯凹陷、連接器研磨角度等參數。

2. 顯微干涉量測儀

以光干涉法來測量薄膜厚度及折射率等技術，在半導體光學元件、光學薄膜的制程或材料的研發實驗室里，是顯微干涉量測儀。非接觸式測量可同時測量反射率、膜厚及光學系數；達到即時監控的目的，且不會傷害樣品，快速且精準的達成測量目標。

審核編輯：湯梓紅