大家在使用MCU內部adc進行信號采樣一個靜態電壓時可能在IO口上看到過這樣的波形：

這個時候大家一般會以為是信號源有問題，但仔細觀察會發現這個毛刺的頻率是和ADC觸發頻率一樣的！

那么為什么MCU ADC采樣時IO口會出現毛刺，這個毛刺會影響采樣結果嗎，讓我們來一起研究一下。

首先我們來看下GD32 MCU ADC內部采樣電路的原理示意圖：

是的，你沒看錯就是這么簡單，mcu采樣保持電路可以等效為一個開關、一個采樣電阻和采樣電容；當然后面還有逐次逼近式的轉換電路。

所以當開關閉合時，外部的信號會通過開關經過采樣電阻對采樣電容充電或放電，此時會導致外部電壓瞬間變化，這個過程內部電壓和外部電壓的變化可以等效成下圖：

剛才的波形圖里我們看到是一個向下的毛刺，當然如果ADC在掃描模式采樣多個信號時，也可能出現電容對外放電，則會出現向上的毛刺，比如這個波形：

那么這個毛刺會影響我們ADC的最終結果嗎？

這個我們就需要根據這個ADC通道所配置的采樣保持時間來判斷了；我們可以用程序配置的采樣保持周期和ADC時鐘計算出ADC采樣開啟的時間，如果從毛刺產生時刻開始經過采樣開啟時間后電壓已經恢復到平穩，那么此時這個平穩的電壓和ADC采樣電容上的電壓一致，接下來的ADC轉換也就能得到正確的結果。

如果采樣時間結束時信號還在毛刺階段則采樣結果就會出現偏大或偏小。

那么如何從軟硬件方面優化MCU的ADC性能，期待我們后續分享。