作者介紹

一、前言

ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）是電子設(shè)備中至關(guān)重要的組件，它們負(fù)責(zé)將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，或者將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)。這些轉(zhuǎn)換器的存在形式主要有兩種：一種是作為獨(dú)立的集成電路（IC）芯片，另一種則是作為IP核心或功能模塊內(nèi)嵌于微控制器單元（MCU）等其他類型的芯片中。

不論采取何種形式，ADC和DAC的分辨率都僅由其設(shè)計(jì)架構(gòu)所決定。分辨率是指轉(zhuǎn)換器能夠區(qū)分和表示的最小信號(hào)變化，通常以比特?cái)?shù)（bits）來(lái)衡量。然而，除了分辨率之外的其他性能參數(shù)，如實(shí)際量程范圍、編碼的均勻性、誤差性能以及高頻響應(yīng)等，都可能會(huì)因?yàn)?a target="_blank">半導(dǎo)體制造過(guò)程中的微小差異或材料本身的不一致性而與設(shè)計(jì)預(yù)估值存在偏差。

為了確保ADC和DAC的性能符合設(shè)計(jì)規(guī)范，無(wú)論是在設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段還是在生產(chǎn)出貨階段，對(duì)這些轉(zhuǎn)換器進(jìn)行精度測(cè)試都是必不可少的。這些測(cè)試不僅能夠驗(yàn)證產(chǎn)品是否達(dá)到了設(shè)計(jì)要求，而且還為可能的進(jìn)一步校正提供了依據(jù)。通過(guò)這些嚴(yán)格的測(cè)試流程，可以保證電子產(chǎn)品的性能和可靠性，滿足用戶對(duì)高質(zhì)量信號(hào)轉(zhuǎn)換的需求。而本文將圍繞如何進(jìn)行這些精度測(cè)試而展開(kāi)介紹。

二、針對(duì)ADC測(cè)試

我們先以ADC測(cè)試為例。在ADC的精度測(cè)試中，通常有3種主要的測(cè)試方法：斜坡測(cè)試（Ramp Test）、動(dòng)態(tài)性能測(cè)試（Dynamic test）以及直方圖測(cè)試（Histogram Test）。這三種測(cè)試方法雖然在測(cè)試激勵(lì)信號(hào)的設(shè)計(jì)和分析數(shù)據(jù)的手段上有所差異，但它們通常可以在相同的測(cè)試硬件環(huán)境下進(jìn)行。

在進(jìn)行這些測(cè)試時(shí)，選擇合適的測(cè)試硬件和軟件工具至關(guān)重要，他們是確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、可重復(fù)的關(guān)鍵。此外，測(cè)試過(guò)程中應(yīng)嚴(yán)格控制環(huán)境條件，如溫度和電源穩(wěn)定性，因?yàn)檫@些因素都可能影響測(cè)試結(jié)果。

三、測(cè)試環(huán)境基礎(chǔ)

在深入探討3種主要的測(cè)試方法之前，我們首先從測(cè)試環(huán)境基礎(chǔ)入手，這不僅是因?yàn)樗?種測(cè)試都可以共享同一測(cè)試平臺(tái)，更重要的是，這將有助于我們清晰地追蹤信號(hào)的流向，從而更深入地理解測(cè)試的全貌。

首先，我們可以把問(wèn)題簡(jiǎn)化，想要對(duì)ADC進(jìn)行測(cè)試，那么最簡(jiǎn)單的方法就是給ADC一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的模擬電壓，等待ADC進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，再用一個(gè)數(shù)字信號(hào)接收器捕獲轉(zhuǎn)換結(jié)果，然后進(jìn)行處理、運(yùn)算和分析。

首先，我們可以先將問(wèn)題簡(jiǎn)化，以便于理解。一個(gè)最簡(jiǎn)單的ADC測(cè)試配置如下圖所示。其基本步驟是：向ADC提供一個(gè)精確的模擬電壓輸入，隨后ADC將這個(gè)模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。在此之后，我們使用一個(gè)數(shù)字信號(hào)接收裝置來(lái)捕獲轉(zhuǎn)換后的數(shù)字輸出。最后，對(duì)這些數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行處理、運(yùn)算和分析，以便準(zhǔn)確評(píng)估ADC的轉(zhuǎn)換精度和性能。

圖1：理論上最簡(jiǎn)單的ADC測(cè)試環(huán)境

這看起來(lái)是不是有點(diǎn)過(guò)于簡(jiǎn)單了？沒(méi)錯(cuò)，接下來(lái)我們向該測(cè)試平臺(tái)補(bǔ)充一些細(xì)節(jié)，以便讓他從理論可行變成實(shí)際工程可行。

首先，考慮到ADC作為一個(gè)有源設(shè)備，其運(yùn)作依賴于外部電源。因此，我們的測(cè)試系統(tǒng)必須包含一個(gè)電源供電模塊，以確保ADC能夠正常工作。此外，對(duì)于某些特定的ADC架構(gòu)，它可能還需要一個(gè)外部參考電壓輸入，以便在轉(zhuǎn)換過(guò)程中與之進(jìn)行比較，從而獲得正確的轉(zhuǎn)換結(jié)果。所以，在測(cè)試平臺(tái)中，我們可能需要引入一個(gè)獨(dú)立的、高精度的參考電壓源。

接下來(lái)，為了確保ADC輸出的數(shù)字信號(hào)能夠被正確接收和處理，這些信號(hào)需要受到時(shí)序邏輯的控制。這種時(shí)序通常由一個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)來(lái)管理，因此，我們的測(cè)試平臺(tái)還需包括一個(gè)能為待測(cè)ADC提供參考時(shí)鐘源的設(shè)備。值得一提的是，在某些ADC的設(shè)計(jì)中，時(shí)鐘信號(hào)不僅控制輸出時(shí)序，還直接決定了ADC的實(shí)際采樣率和內(nèi)部流水線的處理時(shí)序，從而對(duì)整體性能產(chǎn)生重要影響。

最后，我們需要一套軟件控制系統(tǒng)來(lái)管理各個(gè)硬件模塊的輸入和輸出。這套軟件需要確保各個(gè)組件之間的協(xié)同工作，以順利完成ADC的測(cè)試流程。此外，軟件還需要對(duì)獲取到的ADC輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行后續(xù)的運(yùn)算和分析，通過(guò)這些分析，最終可以準(zhǔn)確地獲得我們關(guān)注的性能指標(biāo)數(shù)據(jù)結(jié)果。

目前，我們已經(jīng)構(gòu)建了一個(gè)實(shí)際可行的測(cè)試平臺(tái)架構(gòu)，如下圖所示。在測(cè)試功能更加復(fù)雜的ADC時(shí)，我們可能還需要增設(shè)額外的數(shù)字信號(hào)輸出設(shè)備。其用途是將配置信號(hào)、觸發(fā)信號(hào)或其他控制指令發(fā)送給ADC，以便對(duì)特定模式或功能下的精度性能進(jìn)行詳盡的測(cè)試。

圖2：一個(gè)基礎(chǔ)且實(shí)際可行的ADC測(cè)試平臺(tái)架構(gòu)

四、斜坡測(cè)試（Ramp Test）

斜坡測(cè)試，又稱鋸齒波測(cè)試，是利用單個(gè)或多個(gè)斜坡組合形成的鋸齒波信號(hào)作為輸入激勵(lì)，以此對(duì)ADC進(jìn)行精度評(píng)估。在該測(cè)試中，為了全面評(píng)估待測(cè)ADC的性能，通常需確保在每個(gè)最低有效位（LSB）的區(qū)間內(nèi)，至少有一個(gè)激勵(lì)信號(hào)電壓點(diǎn)。當(dāng)每個(gè)LSB范圍內(nèi)激勵(lì)信號(hào)電壓點(diǎn)數(shù)只有1~2個(gè)時(shí)，可能僅可以確認(rèn)增益誤差（Gain Error）、失調(diào)誤差（Offset Error）這樣的宏觀參數(shù)；LSB范圍內(nèi)點(diǎn)數(shù)足夠多時(shí)，才能深入分析以確定轉(zhuǎn)換編碼的跳變電壓點(diǎn)，從而算出其積分非線性（INL）、微分非線性（DNL）性能數(shù)據(jù)，以及判斷是否有丟碼（Missing Code）現(xiàn)象。

圖3：斜坡測(cè)試結(jié)果示例

從精度角度看，單個(gè)信號(hào)斜坡內(nèi)包含的電壓點(diǎn)數(shù)量越多，理論上能夠提供更為精確的測(cè)量結(jié)果。然而，實(shí)際上存在兩個(gè)主要的限制因素：首先，電壓點(diǎn)之間的最小間隔受到信號(hào)源精度的制約，這意味著信號(hào)源必須具有足夠的分辨率來(lái)生成非常接近的電壓步進(jìn)；其次，電壓點(diǎn)數(shù)量的增加會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)試時(shí)間的延長(zhǎng)，這可能會(huì)影響測(cè)試效率，因而，在實(shí)際的斜坡測(cè)試中，需要在測(cè)量精度和測(cè)試速度之間找到適當(dāng)?shù)钠胶恻c(diǎn)。

另外，在實(shí)際執(zhí)行測(cè)試時(shí)，我們通常建議將斜坡信號(hào)的最大和最小值設(shè)定得稍微超出待測(cè)ADC的標(biāo)稱量程。這樣做有助于準(zhǔn)確地確定ADC的實(shí)際量程界限。例如，對(duì)于一個(gè)設(shè)計(jì)量程為0至+5 V的ADC，其實(shí)際量程可能略有不同，比方說(shuō)-0.01至+5.01 V。在這種情況下，測(cè)試時(shí)可以應(yīng)用一個(gè)最小值為-0.05 V，最大值為+5.05 V的斜坡信號(hào)。在測(cè)試結(jié)果的分析階段，可以通過(guò)特定的算法識(shí)別并排除超出實(shí)際量程的測(cè)試點(diǎn)，這些算法能夠確保超出范圍的點(diǎn)不會(huì)對(duì)各靜態(tài)參數(shù)的分析結(jié)果產(chǎn)生不利影響。這種做法也有助于更精確地評(píng)估ADC的性能，并確保在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。

總的來(lái)說(shuō)，斜坡測(cè)試對(duì)模擬電壓生成設(shè)備的分辨率和精度參數(shù)提出了較高的要求。這種模擬電壓生成設(shè)備通常由任意波形發(fā)生器（AWG）充當(dāng)，它們能夠提供精細(xì)的電壓步進(jìn)，以確保在待測(cè)ADC的每個(gè)LSB范圍內(nèi)都有足夠的測(cè)試電壓點(diǎn)，從而準(zhǔn)確評(píng)估待測(cè)件的增益誤差、失調(diào)誤差、INL、DNL等關(guān)鍵靜態(tài)性能指標(biāo)。此外，也正如上面所提到，AWG的輸出范圍還應(yīng)該稍稍大于待測(cè)ADC的標(biāo)稱量程。

五、動(dòng)態(tài)性能測(cè)試（Dynamic test）

動(dòng)態(tài)測(cè)試是一種利用正弦波信號(hào)作為激勵(lì)，對(duì)ADC進(jìn)行頻率響應(yīng)特性評(píng)估的方法。在此測(cè)試中，ADC的轉(zhuǎn)換輸出會(huì)經(jīng)過(guò)快速傅里葉變換（FFT）處理，以便在頻域內(nèi)進(jìn)行分析。通過(guò)這種分析，可以獲得關(guān)鍵的動(dòng)態(tài)性能參數(shù)，包括信號(hào)噪聲及失真比（SINAD）、有效位數(shù)（ENOB）、總諧波失真（THD）以及無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍（SFDR）。這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估ADC在處理變化信號(hào)時(shí)的性能至關(guān)重要，特別是在音頻、通信和測(cè)量等領(lǐng)域，其中信號(hào)的頻率成分和動(dòng)態(tài)范圍對(duì)系統(tǒng)整體性能有著決定性的影響。

圖4：動(dòng)態(tài)性能測(cè)試結(jié)果示例

由于FFT算法的要求，測(cè)試數(shù)據(jù)的采樣點(diǎn)數(shù)量通常需要是2的整數(shù)次冪。如果采樣點(diǎn)數(shù)量不滿足這一條件，可能需要對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行切割處理，以符合FFT算法的要求。同時(shí)，為了減少頻譜泄露現(xiàn)象并避免在頻域結(jié)果中產(chǎn)生不必要的旁瓣和諧波，我們強(qiáng)烈建議測(cè)試信號(hào)段包含整數(shù)個(gè)周期的正弦波信號(hào)。為了滿足這一條件，有時(shí)需要對(duì)AWG的輸出頻率進(jìn)行微調(diào)。例如，在執(zhí)行10 kHz頻率點(diǎn)的測(cè)試時(shí)，可以將頻率略微調(diào)整至9.97 kHz，以確保在整個(gè)測(cè)試信號(hào)段中包含整數(shù)個(gè)周期的正弦波，這種微調(diào)可以有效地提高頻域分析的準(zhǔn)確性和可靠性。

在設(shè)置AWG輸出的正弦波幅值時(shí)，應(yīng)遵循一個(gè)基本原則：“寧缺毋濫”，也就是說(shuō)，需要確保輸出幅值不超過(guò)待測(cè)ADC的實(shí)際量程，而ADC實(shí)際量程是有可能比標(biāo)稱量程更窄的。這一原則的目的是為了避免ADC在信號(hào)轉(zhuǎn)換過(guò)程中出現(xiàn)飽和現(xiàn)象。當(dāng)信號(hào)飽和時(shí)，輸出信號(hào)會(huì)被“削波”（clipping），這種現(xiàn)象會(huì)在信號(hào)經(jīng)過(guò)FFT轉(zhuǎn)換后導(dǎo)致頻譜失真，并降低信噪比。在這一點(diǎn)的考慮上，與斜坡測(cè)試時(shí)略有不同，需要注意區(qū)分。

在動(dòng)態(tài)測(cè)試中，會(huì)對(duì)AWG的輸出采樣速度和時(shí)鐘精確度有較高的要求。同時(shí)，AWG的高速輸出與ADC的高速采集必須精確同步，以避免在ADC轉(zhuǎn)換過(guò)程中發(fā)生AWG輸出跳變，進(jìn)而影響測(cè)試結(jié)果。這對(duì)測(cè)試平臺(tái)中的時(shí)鐘控制模塊和平臺(tái)整體的軟硬件控制提出了更為嚴(yán)格的要求。

六、直方圖測(cè)試（Histogram Test）

直方圖測(cè)試是ADC精度測(cè)試中的一個(gè)常用手段，其核心在于對(duì)統(tǒng)計(jì)域數(shù)據(jù)的分析和處理。這種方法與斜坡測(cè)試相似，都旨在評(píng)估ADC的靜態(tài)特性參數(shù)。通過(guò)對(duì)ADC輸出進(jìn)行大量采樣，并繪制數(shù)據(jù)分布的直方圖，可以直觀地觀察到量化誤差的分布情況，從而對(duì)ADC的線性度、增益誤差、偏移誤差等關(guān)鍵性能指標(biāo)進(jìn)行定量分析，除此之外，我們還可以通過(guò)檢查是否存在編碼頻次為零的情況來(lái)找出丟碼現(xiàn)象。為了確保統(tǒng)計(jì)結(jié)果的可靠性，有時(shí)需要進(jìn)行多輪循環(huán)測(cè)試，并將各輪的統(tǒng)計(jì)結(jié)果進(jìn)行疊加，以便獲得更穩(wěn)定和可信的數(shù)據(jù)分析。

圖5：直方圖測(cè)試原理示例

從測(cè)試輸入信號(hào)的類型角度說(shuō)，直方圖測(cè)試和斜坡測(cè)試都可以采用鋸齒波信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，然而，直方圖測(cè)試更為靈活，也接納三角波、正弦波等其他信號(hào)類型進(jìn)行統(tǒng)計(jì)和分析。值得注意的是，當(dāng)使用正弦波進(jìn)行直方圖測(cè)試時(shí)，由于正弦波在ADC每個(gè)LSB范圍內(nèi)的出現(xiàn)概率并不均勻，因此需要通過(guò)額外的算法來(lái)進(jìn)行概率密度函數(shù)的均衡化處理。經(jīng)過(guò)這樣的補(bǔ)償后，才能準(zhǔn)確比較不同碼寬的偏差，從而對(duì)ADC的性能進(jìn)行準(zhǔn)確評(píng)估。也正因?yàn)槭褂谜也ㄟM(jìn)行測(cè)試時(shí)會(huì)引入額外的計(jì)算復(fù)雜性，我們通常不建議使用正弦波等電壓分布不均勻的波形進(jìn)行直方圖測(cè)試，以免增加測(cè)試的難度和不必要的計(jì)算負(fù)擔(dān)。

從測(cè)試信號(hào)的幅值來(lái)說(shuō)，直方圖測(cè)試與斜坡測(cè)試相似，均要求使用AWG產(chǎn)生信的幅值略高于ADC的標(biāo)稱量程。這一做法的目的是確保測(cè)試能夠涵蓋ADC的全部編碼范圍，即從最小到最大值。然而，這種做法的一個(gè)副作用便是導(dǎo)致最小編碼和最大編碼的出現(xiàn)頻率異常增加。為了獲得更易于分析和觀察的直方圖結(jié)果，通常會(huì)將這兩個(gè)極值編碼點(diǎn)排除在外，從而減少極端值對(duì)整體性能評(píng)估的影響。

直方圖測(cè)試與斜坡測(cè)試在測(cè)試條件和方法上存在一定的相似性，它們所關(guān)注的參數(shù)也有部分重合。因此，在實(shí)際的測(cè)試實(shí)踐中，可以采用一種更為高效的策略：使用單一的鋸齒波信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，然后對(duì)采集到的數(shù)據(jù)分別進(jìn)行斜坡測(cè)試和直方圖測(cè)試的分析。這種做法的優(yōu)點(diǎn)在于，它能夠簡(jiǎn)化測(cè)試流程，并顯著減少測(cè)試所需的時(shí)間，提高測(cè)試的效率。此外，這種方法還有助于減少對(duì)測(cè)試設(shè)備的磨損，延長(zhǎng)其使用壽命。

七、針對(duì)DAC測(cè)試

在掌握了ADC測(cè)試的相關(guān)知識(shí)后，將這些概念擴(kuò)展到DAC的測(cè)試領(lǐng)域是相當(dāng)直接的。與前面類似，我們可以先把問(wèn)題簡(jiǎn)化。一個(gè)最簡(jiǎn)單的DAC測(cè)試配置如下圖所示。

圖6：理論上最簡(jiǎn)單的DAC測(cè)試環(huán)境

我們不難發(fā)現(xiàn)，其實(shí)只需要把ADC測(cè)試中的數(shù)據(jù)流動(dòng)方向反轉(zhuǎn)，即可應(yīng)用于DAC的測(cè)試。具體來(lái)說(shuō)，我們會(huì)使用數(shù)字信號(hào)設(shè)備來(lái)輸出激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)利用模擬信號(hào)采集設(shè)備來(lái)捕獲DAC產(chǎn)生的模擬輸出。而這種測(cè)試配置的轉(zhuǎn)變，自然導(dǎo)致了硬件需求上的顯著變化。

首先，對(duì)于數(shù)字信號(hào)設(shè)備，其角色從接收輸入信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)橹鲃?dòng)輸出信號(hào)。這意味著，我們需要一個(gè)能夠產(chǎn)生精確、可控?cái)?shù)字信號(hào)的設(shè)備，如一個(gè)高精度的數(shù)字信號(hào)發(fā)生器。

其次，在模擬信號(hào)一側(cè)，原本用于輸出信號(hào)的AWG被替換為用于采集信號(hào)的數(shù)字化儀，也稱為WFD（Waveform Digitizer）。這類設(shè)備能夠?qū)⒛M信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，以便進(jìn)行后續(xù)的信號(hào)處理和分析。

同樣地，面向DAC的精度測(cè)試，也有斜坡測(cè)試、動(dòng)態(tài)性能測(cè)試以及直方圖測(cè)試三種常見(jiàn)方法。這些測(cè)試的基本原理與前面所說(shuō)的，應(yīng)用在ADC測(cè)試時(shí)類似，關(guān)注的參數(shù)也大致相同。也即是說(shuō)，還是通過(guò)斜坡測(cè)試和直方圖測(cè)試評(píng)估DAC的靜態(tài)特性，而動(dòng)態(tài)性能測(cè)試則用于測(cè)量其動(dòng)態(tài)特性。

值得一提的是，在進(jìn)行DAC測(cè)試時(shí)，輸入輸出量程的處理相對(duì)簡(jiǎn)單。無(wú)論采用哪種測(cè)試方法，數(shù)字信號(hào)發(fā)生器只需將其輸出碼型與DAC的輸入編碼范圍一一對(duì)應(yīng)即可。此外，用于采集數(shù)據(jù)的WFD的量程應(yīng)確保略大于DAC的設(shè)計(jì)輸出范圍，以便能準(zhǔn)確捕捉到所有的輸出信號(hào)。

八、結(jié)論

綜上所述，ADC和DAC的精度測(cè)試需要使用不同硬件構(gòu)建平臺(tái)，此外，根據(jù)所選測(cè)試方法的不同，軟件和硬件的具體要求可能會(huì)有所變化。因此，筆者建議最好能夠選擇一個(gè)具有較高功能靈活性，且保證自身精度的軟硬件平臺(tái)，以同時(shí)滿足多種測(cè)試需求。這樣做不僅可以確保通過(guò)多種測(cè)試方法獲得準(zhǔn)確可靠的測(cè)試結(jié)果，還可以避免在待測(cè)芯片或測(cè)試方案發(fā)生變化時(shí)，需要重新采購(gòu)測(cè)試設(shè)備的尷尬情況。

推薦使用的平臺(tái)之一是德思特ADC/DAC測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)將所有必要的硬件集成于一個(gè)機(jī)箱內(nèi)，包括數(shù)字輸入/輸出（DIO）和時(shí)鐘發(fā)生模塊、AWG模塊、WFD模塊、供電電源模塊以及參考電壓源模塊。在軟件方面，該系統(tǒng)同樣能夠支持ADC和DAC的斜坡測(cè)試、動(dòng)態(tài)性能測(cè)試以及直方圖測(cè)試。用戶只需進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)試方案配置，即可一鍵啟動(dòng)測(cè)試并直接獲得最終參數(shù)結(jié)果，無(wú)需進(jìn)行額外的編程控制或數(shù)據(jù)處理。這種集成化設(shè)計(jì)不僅提高了測(cè)試效率，也大幅降低了用戶的使用門檻。

圖7：德思特ADC/DAC測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)于德思特

德思特是原虹科測(cè)試測(cè)量事業(yè)部孵化出來(lái)的獨(dú)立公司，基于超過(guò)10年的業(yè)務(wù)沉淀，德思特公司專注提供電子測(cè)試/測(cè)量解決方案。主要業(yè)務(wù)范圍涵蓋：汽車電子仿真及測(cè)試、射頻微波及無(wú)線通信測(cè)試、無(wú)線頻譜監(jiān)測(cè)與規(guī)劃、無(wú)線通信（包括智能網(wǎng)聯(lián)汽車無(wú)線通信、軌道交通、衛(wèi)星通信、室內(nèi)無(wú)線通信）、半導(dǎo)體測(cè)試、PNT解決方案、大物理和光電測(cè)試等。

核心成員具有9年以上的測(cè)試測(cè)量、無(wú)線通信及其他相關(guān)行業(yè)資歷；技術(shù)團(tuán)隊(duì)獲得世界五百?gòu)?qiáng)PNT解決方案合作伙伴Safran的GNSS技術(shù)及信號(hào)仿真和軟件Skydel培訓(xùn)認(rèn)證證書(shū)、航空航天測(cè)試和測(cè)量合作伙伴Marvin Test 的自動(dòng)化測(cè)試軟件ATEasy培訓(xùn)認(rèn)證證書(shū)。

德思特研發(fā)部，核心成員獲得國(guó)際項(xiàng)目管理師PMP認(rèn)證資質(zhì)，并具備LabVIEW、python等多種編程語(yǔ)言能力，優(yōu)勢(shì)能力集中于：HIL測(cè)試，半導(dǎo)體測(cè)試，EOL測(cè)試和質(zhì)量檢測(cè)等多種系統(tǒng)研發(fā)集成，擁有10多個(gè)實(shí)用新型和專利授權(quán)。

圍繞汽車電子、射頻微波、通信、航空航天等行業(yè)提供專業(yè)可靠的解決方案，現(xiàn)有客戶包括華為、德賽西威、蔚來(lái)汽車、理想汽車、航天科工集團(tuán)、清華大學(xué)、北京航空航天大學(xué)、中電科集團(tuán)等。

此外，我們還是中國(guó)無(wú)線電協(xié)會(huì)、中國(guó)通信企業(yè)協(xié)會(huì)、雷達(dá)行業(yè)協(xié)會(huì)、RIS智能超表面技術(shù)協(xié)會(huì)等行業(yè)協(xié)會(huì)的會(huì)員。

審核編輯 黃宇