芯片是現(xiàn)代信息技術(shù)發(fā)展的重要支柱，半導(dǎo)體設(shè)備則是芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要基石。近年來，半導(dǎo)體設(shè)備領(lǐng)域開啟了國產(chǎn)自研的黃金浪潮，其中，測試機(jī)作為芯片測試中至關(guān)重要的核心設(shè)備之一，國產(chǎn)自研率較低，一直是國內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)亟待補齊的核心短板。

在剛剛落幕的SEMICON China 2024 展會上，加速科技不僅展示了系列拳頭產(chǎn)品，更帶來了一款備受矚目的新產(chǎn)品——全自研高性能數(shù)模混合信號測試設(shè)備ST2500EX。這款設(shè)備目前已量產(chǎn)，性能成熟穩(wěn)定，媲美進(jìn)口先進(jìn)機(jī)型，具備卓越的高密度、高效率、高性價比等特點。當(dāng)前，ST2500EX已批量入駐測試生產(chǎn)一線服務(wù)客戶進(jìn)行量產(chǎn)工作。

圖|ST2500EX高性能數(shù)模混合信號測試設(shè)備

01硬件資源

高性能數(shù)模混合信號測試設(shè)備ST2500EX，集成數(shù)字、模擬信號測試功能。單機(jī)臺最高支持32塊板卡，最高支持1024 I/O通道。設(shè)備采用Direct Docking連接方式，在大幅提升晶圓測試穩(wěn)定性的同時，兼容J Type針卡，可幫助客戶降低轉(zhuǎn)平臺治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性，為后期擴(kuò)展混合信號模塊、射頻模塊奠定了良好基礎(chǔ)。此外，該設(shè)備兼容ST2500的功能板卡，支持250Mbps/500Mbps測試速率，面向高速多通道測試場景，具有極高性價比。

02 業(yè)務(wù)板卡

功能集成、測試精度、響應(yīng)速度、可拓展性是測試設(shè)備的技術(shù)核心，同時，測試設(shè)備在電流、電壓、電容、時間量等參數(shù)方面的測試精度、測試速度、通道和工位數(shù)也是重要的考量指標(biāo)。ST2500EX在這些指標(biāo)上都有著出眾的表現(xiàn)。

圖|ST2500EX演示高速信號測試

ST2500EX配置了DFB32、SMU20、MWB8等資源板卡。DFB32全功能業(yè)務(wù)板采用先進(jìn)的FPGA實現(xiàn)，單板集成數(shù)字模擬混合信號功能，包含32個250Mbps/500Mbps數(shù)字通道，每通道192M Vector存儲深度，4路DPS，4路100MHz TMU，1路2MSPS AWG，1路1MSPS DGT。在實現(xiàn)高性能實時測試和數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐瑫r，更實現(xiàn)了高精度測量。

MWB8音頻板支持8chAWG，8chDGT并行測試，支持差分/單端配置。板卡 AWG
通道 THD 最高可達(dá)-125dB@1V RMS，1kHz，SNR 最高可達(dá) 115dB@3.5V RMS 1KHz , 22kHz Bandwidth；輸出電壓的最大范圍為 4V。DGT 支持差分輸入，24位分辨率，256kSPS采樣率；輸入電壓范圍+/-6V，在0.5dBFS/sinewave/1KHz/with DPD/6Vrange條件下，SNR 最高105 dB，THD-115dB。

SMU20模塊有4ch完全獨立的電壓電流源，提供精密四象限恒壓、恒流、測壓、測流功能。電壓最大范圍±20V，電流最大范圍±500mA。SMU20同時支持 4ch Gang 使用，最高可以提供 2A 的電流。

03 測試軟件系統(tǒng)

ST2500EX數(shù)模混合信號測試設(shè)備提供一整套基于Windows系統(tǒng)的集成開發(fā)軟件。ST-IDE軟件提供用戶友好的開發(fā)環(huán)境，豐富的開發(fā)和調(diào)試工具（AWG、DGT、Pattern、LA等），縮短產(chǎn)品開發(fā)調(diào)試到量產(chǎn)交付生產(chǎn)周期。

該軟件系統(tǒng)配套豐富的pattern轉(zhuǎn)換工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件轉(zhuǎn)換為測試機(jī)pattern，同時支持友商平臺pattern 轉(zhuǎn)換，有效提高調(diào)試效率。

針對工廠量產(chǎn)提供專門GUI，數(shù)據(jù)實現(xiàn)顯示監(jiān)控，提供豐富的數(shù)據(jù)記錄分析工具，支持定制化工廠系統(tǒng)測試方案，方便批量測試和對接工廠管理系統(tǒng)。

智能軟硬件監(jiān)控系統(tǒng)，提供故障代碼，精確定位軟硬件故障位置。

04 應(yīng)用場景

該測試設(shè)備可以廣泛應(yīng)用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、PMIC等半導(dǎo)體晶圓、 器件測試和模塊系統(tǒng)級測試。

未來，加速科技將繼續(xù)深耕半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域，加大創(chuàng)新研發(fā)力度，跟隨產(chǎn)業(yè)發(fā)展潮流，不斷推動產(chǎn)品迭代和技術(shù)升級，持續(xù)為客戶提供高性價比測試解決方案，賦能半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

審核編輯 黃宇