清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗證中實現雙DUT驗證的方法”已于今年3月獲批。該項專利內容由該集團獨立研究,申請日期優先于2024年3月26日。
據了解,這項發明將使IC驗證環境更加精簡及高效,受益方面包括IP驗證速度提升以及驗證流程簡化等。

值得指出的是,盡管現有方法通過配置MONITOR進行驗證,但這些過程耗費大量時間。然而,相較之下,清微新發明僅需運用新增DUT中的CPU讀取數據,便能實現更快速和便捷的驗證方式。
同時,如若待驗證IP發生改變,無需重新建立驗證環境乃至更新 CASE,大大減少了項目間驗證環境的傳承難度。
另外,這種驗證方式簡化了對MONITOR采集方案或UVM驗證環境的關注,有助于防止數據錯誤,提高設計人員協助調試時的便利性。
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