引言

伴隨當今世界發展，不僅電化學理論和電化學方法不斷創新，而且在應用領域也占有越來越重要的地位。新能源汽車工業以及生物電化學這些領域所取得的突出成績都是比較典型的例子，因此強調并且重視電化學測試方法的研究也是尤為重要的一環，以更好迎接未來能源、材料、生命、信息和環境對電化學技術的挑戰。

Keithley是先進電子測試儀器的全球領導者，擁有60多年的測量專業知識。我們的客戶是廣大研究和工業應用領域的科學家和工程師，這些領域中包括了許多電化學測試。Keithley的產品可以準確地進行電流和電壓的測量。Keithley測試設備支持的電化學學科測試包括電池和儲能、腐蝕科學、電化學沉積、有機電子學、光電化學、材料研究、傳感器以及半導體材料和器件。

循環伏安法

循環伏安法（簡稱CV）是一種電位掃描法，是最常用的電化學測量技術，通常使用3電極的蓄電池。圖1展示了一個典型的電化學測量電路，它由蓄電池、可調電壓源（VS）、電流表（AM）和電壓表（VM）組成。蓄電池的三個電極分別是工作電極 (WE)、參比電極 (RE)和對電極 (CE)。用于電位掃描的電壓源（VS） 在WE和CE之間施加。用電壓表測量RE和WE之間的電位(E)，并調整總電壓（VS）以保持WE相對于RE的所需電位。用電流表（AM）測量流入或流出WE的所得電流 (i)。

圖1 - 循環伏安法測試的簡化電路

Keithley SMU 源表可以輸出電壓和測量電流，這使得它們非常適合循環伏安法應用。圖2說明了儀器的四個端子如何連接到3電極電化學電池。

圖2 - 源表連接蓄電池進行循環伏安法測試

當編程控制SMU在源電壓使用感測（4線）配置時，內部傳感提供電壓測試的反饋值并與編程設置的電壓大小進行比較。SMU調整電壓源，直到反饋電壓等于編程電壓。遙感補償了測試引線和分析物電路中的壓降，確保將設置電壓加載到工作電極上。

2450-EC，2460-EC和2461-EC電化學源表具有內置顯示屏，可以使用其循環伏安法測試腳本自動繪制伏安圖。圖3顯示了該儀器生成的伏安圖形。2450、2460和2461儀器包括一個測試腳本，可以在沒有計算機的情況下執行循環伏安法。

圖3 - 在2450上生成的伏安圖形

2450-EC，2460-EC和2461-EC電化學實驗室系統中還包含其他電化學測試腳本：開路電壓，加載電壓脈沖或方波與電流測量，電流脈沖或方波與電壓測量，電流隨時間變化和電壓隨時間變化。這些設備還包括一個帶鱷魚夾的測試電纜，使用戶能夠輕松連接儀器和被測物。

開路電壓

電化學電池的開路電位（OCP）是在參考電極和工作電極之間進行的電壓測量。測量開路電位需要一個高阻抗的電壓表來測量沒有電流或電壓施加到電池上的電壓。由于其高輸入阻抗，SourceMeter SMU儀器在配置為4線制配置時非常適合OCP測量，如圖4所示。在此設置中，該儀器配置為測量電壓和源0A。如果在進行循環伏安法之前測量OCP，則不需要在測量之間手動重新排列任何測試引線，因為儀器可以在內部自動改變功能。2450-EC，2460-EC和2461-EC帶有執行開路電位測量的測試腳本。

圖4 - 使用電化學系統測量蓄電池的開路電壓

電阻率

電阻率是材料的一種基本特性，它量化了材料與電流的對抗。確定材料電阻率的最佳技術取決于所涉及材料的類型、電阻的大小和樣品的幾何形狀。

導體/半導體 — 加電流測電壓

導體或半導體的電阻率通常是4線配置，輸入電流和測量樣品的電壓來確定的。4線配置最大限度地減少引線和接觸電阻，以減少它們對測量精度的影響。在這種配置中（圖5），兩根引線用于產生電流，另一組引線用于測量導電樣品上的壓降。樣品上的壓降會非常小，因此使用Keithley 2182A納伏表進行測量。

圖5 - 使用電流源和納伏表測量導電樣品

絕緣體 — 加電壓測電流

絕緣體的電阻率通常是通過對未知電阻施加電壓并測量產生的泄漏電流來測量的。這是一個雙端測試。體電阻率是直接測量通過材料的泄漏電流。表面電阻率被定義為絕緣體表面的電阻。圖6顯示了體積電阻率和表面電阻率的電路圖。

圖6 - 體電阻率和表面電阻率測量圖

這些高電阻測量需要一種可以測量到非常低電流并且可以施加電壓的儀器。6517B和6487都能夠測量高阻材料的電阻率。這些儀器可以測量低至數十或數百fA 的電流，并具備內置電壓源。需要注意的是在測量非常高的電阻時，必須正確屏蔽設備和測試電纜，以避免靜電干擾的影響。

電壓測定

電壓/電位測定是測量兩個電極之間的電位，通常是工作電極和參比電極。電位差是用高阻抗電壓表或靜電計測量的，因此任何電流都可以忽略不計（i=0）。電位測定法用于諸如使用離子選擇電極進行pH測量和電壓測量等應用。這些電位測量通常使用兩個電極和一個高阻抗電壓表進行，例如6517B或6514靜電計（圖7）。

圖7 - 靜電計測量兩個電極之間的電位差

電化學傳感器

電化學傳感器用于不同行業的許多應用，包括環境和氣體監測，醫療應用，如測定葡萄糖濃度，以及汽車和農業行業。電化學傳感器有各種不同的設計 ; 它們可能有兩個或三個電極，可以是電位計、安培計或伏安計。有些傳感器是基于有機電子器件或納米結的。

選擇最優的測試設備對于電化學傳感器的研發至關重要。例如，測量電位傳感器的輸出可能需要非常高阻抗的電壓表，例如具有高輸入阻抗（>1014歐姆）的Keithley靜電計。測試安培式氣體傳感器可能需要使用非常靈敏的安培計，如皮安計、靜電計或源表。

圖8顯示了一個簡單的安培氣體傳感器。當氣體與工作電極（WE）接觸時，根據傳感器的不同，會發生氧化或還原的化學反應。在安培傳感器中，電流在對電極（CE）和工作電極（WE）之間流動。電流輸出與氣體濃度有關，由靈敏的安培計測量。如有必要，可在傳感器上加第三個電極，即參比電極，施加電勢。

圖8 - SourceMeter SMU儀器測量2電極安培氣體傳感器的電流輸出

太陽能電池

為了滿足人們對清潔能源日益增長的需求，光伏研究人員正在努力提高電池效率，降低成本。新興技術包括染料敏化/燃料感光、仿生、鈣鈦礦，甚至3D太陽能電池。太陽能電池的電學表征對于確定如何使電池，在盡可能小的損耗下盡可能提高效率至關重要。

通常在太陽能電池上進行的一些電學測試包括測量電流和電容作為施加直流電壓的函數。電容測量是作為頻率或交流電壓的函數進行的。有些測試需要脈沖電流 - 電壓測量。這些測量通常在不同的光強和溫度下進行。從這些測量中可以提取出重要的器件參數，包括輸出電流、轉換效率、最大功率輸出、摻雜密度、電阻率等。圖9顯示了從太陽能電池上典型的正向偏置 I-V 曲線中可以提取的幾個參數，包括最大電流（Imax）、短路電流（Isc）、最大功率（Pmax）、最大電壓(V max )和開路電壓（Voc）。

圖9 - 光伏電池典型的正向偏置I-V曲線

像4200A-SCS參數分析儀這樣的儀器可以在進行這些關鍵的電氣測量時簡化測試和分析。4200A-SCS是一個集成系統，包括用于進行直流和超快速I-V和C-V測量的儀器，以及控制軟件，圖形和數學分析能力。4200A-SCS可以進行廣泛的太陽能電池測量，包括直流和脈沖電流電壓、電容電壓、電容頻率、驅動級電容分析 (DLCP) 和四探針電阻率。

圖10顯示了4200-SMU連接太陽能電池進行I-V測量。四線制連接消除了測量電路的引線電阻。一旦電池連接到輸出端子，4200A-SCS的軟件可以輕松設置電壓掃描，自動生成I-V曲線，如圖11所示光伏電池的正向偏置I-V曲線。

圖10 - 4200-SMU與光伏電池連接示意圖

圖11 - 4200A-SCS參數分析儀測量的太陽能電池正偏I-V特性

可充電電池充電/放電

Keithley源表可以簡化電池測試，因為它們能夠同時加載和測量電流電壓。源表可以靈活的設置輸出源和吸收電流，以及測量相應的電壓和電流，使其成為電池充放電循環測試的完美解決方案。

對于此測試，源表通過4線連接連接到電池（圖12），以消除引線電阻的影響。

圖12 - 源表2460測試電池充放電連接圖

對于充電和放電周期，該儀器配置為加載電壓和測量電流。即使儀器配置為電壓源，它也將在恒流模式下工作。圖13顯示了充電和放電循環的簡化電路圖。

圖13 - 充放電電路圖

電池通常是使用恒流充電，因此我們將源表配置為電壓源設置為電池的額定電壓，并將源限制設置為所需的充電電流。在測試開始時，電池電壓小于儀器的電壓輸出設置。這個電壓差驅動一個電流，該電流立即被限制在用戶定義的電流限值內。當處于電流限制時，儀器作為恒流源工作，直到達到我們設定的電壓水平。

當電池放電時，源表將作為接收器來使用，因為它是耗散功率而不是輸入功率。儀器電壓源設置為低于電池電壓的電平，電流限制設置放電速率。當使能輸出時，來自電池的電流流入儀器的Hi端子。因此，電流讀數將為負。圖14所示為測量2500mAh電池放電特性的結果。

圖14 - 使用源表測試2500mAh D芯電池放電特性

電氣器件特性

源表和4200A-SCS半導體參數分析儀是電氣設備表征的理想選擇，因為它們可以產生和測量電流和電壓。4200A-SCS除了包含多個SMU外，還可以包括電容電壓單元CVU或脈沖測量單元PMU。可以表征的組件可以包括碳納米結構和器件、傳感器、太陽能電池、有機半導體器件和其他結構。

特定應用所需的源表數量取決于設備上的終端數量和所需的測試應用。在圖15所示的有機場效應管（OFET）示例中，需要兩臺 SMU 儀器來表征器件。在這種情況下， SMU1連接到柵極終端，SMU2連接到器件的漏極終端。OFET的Source端接到common。OFET的傳輸特性是通過使用SMU1步進柵極電壓和使用SMU2掃過漏極電壓并測量漏極電流來確定的。

圖15 - 使用4200A-SCS表征OFET I-V特性

4200A-SCS參數分析儀測量并繪制的OFET傳輸特性如圖16所示。

圖16 - 4200A-SCS參數分析儀測量的OFET傳輸特性

注 : OFET由肯特州立大學提供

4200A-SCS半導體參數分析儀為電氣表征器件提供了許多優點。這種可配置的測試系統可以簡化敏感的電氣測量，因為它將多個儀器集成到一個系統中，包括交互式軟件，圖形和分析功能。

電鍍/電沉積

電鍍是將金屬薄膜涂在導電表面上的過程。該工藝有許多應用，包括裝飾涂層，防腐，甚至納米線和納米結構制造。傳統上，該工藝涉及連接兩個電極（陽極和陰極）之間的電流源。電流驅動金屬離子從陽極流向陰極，如圖17所示。在這個簡單的例子中，6220電流源使陽極的Ag+離子被吸引到陰極。

圖17 - 采用恒流源進行電鍍的電路

電沉積可能需要使用恒定的直流電流或電壓，或者可能需要脈沖或階梯信號去控制沉積時間。除了提供電流或電壓外，特定應用可能還需要監測電流或電壓。2400系列或2600B系列源表可以自動控制源的參數，以及監控電路中產生的電流或電壓。四線制控制從儀器到電極的兩端可以用來消除引線電阻的影響。

｜結語｜

Keithley生產適用于各種電化學應用的靈敏設備，包括I-V特性測試，低電阻率和高電阻率測量，電池測試，電位測定法，電沉積，電氣器件特性以及其他涉及加載和測量電流和電壓以及高精度測量電容的測試。Keithley儀器可以通過遠程控制實現自動化測試，多臺同步和定時控制。

將您的靈感變為現實

我們提供專業的測量洞見信息，旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉化為現實。

泰克設計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復雜性的層層壁壘，加快您的全局創新步伐。我們攜手共進，一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準確地創造和實現技術進步。