應(yīng)用
在半導(dǎo)體制造過程中,晶圓的質(zhì)量控制至關(guān)重要。晶圓缺陷檢測系統(tǒng)是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵工具之一。該系統(tǒng)主要利用非接觸式激光傳感器對晶圓進(jìn)行缺陷測試,通過同步位置信號和傳感器信號來確定缺陷的具體位置。
挑戰(zhàn)
同步精度:實(shí)現(xiàn)位置信號與傳感器信號的高度同步,是精準(zhǔn)檢測缺陷的關(guān)鍵。位移傳感器和激光傳感器必須在微秒級別的精度下協(xié)同工作,才能保證檢測結(jié)果的可靠性。
數(shù)據(jù)采集精度:傳感器的精度非常高,達(dá)到了千分之一的精度,這對數(shù)據(jù)采集設(shè)備提出了更高的要求。采集設(shè)備不僅需要與傳感器匹配,還必須能夠處理大量的高精度數(shù)據(jù),以確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。
解決方案
針對這些挑戰(zhàn),簡儀提供了一套有效的解決方案。使用PCIe-5515搭配數(shù)字重觸發(fā)功能,可以將位置傳感器的信號發(fā)送到數(shù)字觸發(fā)口。這樣,在觸發(fā)的時(shí)刻可以快速采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析,從而實(shí)現(xiàn)位置信號與數(shù)據(jù)的同步。此外,5500系列數(shù)采模塊即使在高采樣率下也能保持極高的精度,能夠?qū)`敏的傳感器信號進(jìn)行高精度采集。后期通過加入濾波等功能進(jìn)一步優(yōu)化信號處理,確保了數(shù)據(jù)采集的準(zhǔn)確性和可靠性。
使用的簡儀產(chǎn)品
PCIe-5515:16通道模擬輸入,2通道模擬輸出,24通道數(shù)字輸入輸出,高精度數(shù)據(jù)采集模塊。具有數(shù)字重觸發(fā)功能,確保數(shù)據(jù)采集的精準(zhǔn)同步。
5500系列數(shù)采模塊:提供高精度、高采樣率的數(shù)據(jù)采集能力,支持靈敏傳感器的信號采集。
軟件
開源免費(fèi)的銳視測控軟件平臺
為什么選擇簡儀
銳視測控平臺:提供了一個(gè)強(qiáng)大且易于使用的開發(fā)環(huán)境,幫助客戶快速實(shí)現(xiàn)項(xiàng)目開發(fā)。
快速開發(fā):基于銳視開發(fā)軟件,客戶可以迅速完成從概念到實(shí)際應(yīng)用的轉(zhuǎn)變。
成熟的產(chǎn)品:簡儀產(chǎn)品經(jīng)過長期市場驗(yàn)證,具有可靠的性能和穩(wěn)定性。
POC驗(yàn)證服務(wù):簡儀提供售前的POC驗(yàn)證服務(wù),幫助客戶驗(yàn)證產(chǎn)品性能和適用性。
供貨速度:簡儀能夠快速供貨,確保項(xiàng)目按時(shí)進(jìn)行。
技術(shù)支持和快速響應(yīng)能力:簡儀提供優(yōu)質(zhì)的本地化技術(shù)支持,快速響應(yīng)客戶需求,幫助客戶解決問題,確保了測試任務(wù)的順利進(jìn)行。
通過采用簡儀的解決方案,客戶成功克服了晶圓缺陷檢測系統(tǒng)中的挑戰(zhàn),實(shí)現(xiàn)了缺陷的精準(zhǔn)定位和高效數(shù)據(jù)采集。簡儀的產(chǎn)品不僅滿足了系統(tǒng)所需的高性能技術(shù)需求,還通過完善的服務(wù)和支持簡化了開發(fā)流程,加速了項(xiàng)目的落地實(shí)施。
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原文標(biāo)題:晶圓缺陷檢測系統(tǒng):簡儀助力實(shí)現(xiàn)高精度缺陷定位
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