我們經(jīng)常提及到測(cè)試，是硬件產(chǎn)品的測(cè)試，它又分為板級(jí)測(cè)試（PCBA），部件測(cè)試，整機(jī)測(cè)試。

PCBA電路板是核心組件，一般需要嚴(yán)格的測(cè)試，常見(jiàn)的測(cè)試類型有：ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI。

一、在線測(cè)試(ICT)

ICT—IN CIRCUIT TESTER即自動(dòng)在線測(cè)試，是現(xiàn)代PCB制造廠商必備測(cè)試設(shè)備，非常強(qiáng)大。它主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCB layout出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCBA的線路開(kāi)路、短路、所有零件的故障情況.這里需要用到工裝治具。如下圖：

由于pcb板類型多，產(chǎn)品數(shù)量多，治具的數(shù)量和種類也就較多，在測(cè)試設(shè)備和治具件，就需要用到快換的連接器，如下圖：

二、功能測(cè)試FCT

功能系統(tǒng)測(cè)試使用生產(chǎn)線中部和末端的專用測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板的功能模塊進(jìn)行全面的測(cè)試，以確認(rèn)電路板的質(zhì)量。功能測(cè)試主要有最終產(chǎn)品測(cè)試(Final Product Test)和ICT類似，需要用到工裝治具，一般是直接從板子的IO口進(jìn)行測(cè)試，可搭載M系列連接器。

三、老化測(cè)試burn-in test

老化測(cè)試是，指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程。目的是檢測(cè)產(chǎn)品在特定環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

根據(jù)設(shè)計(jì)要求，將產(chǎn)品放置特定溫度、濕度條件下，持續(xù)模擬工作72小時(shí)~7天，記錄表現(xiàn)數(shù)據(jù)，反推生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行改善，以確保其性能滿足市場(chǎng)需求。老化測(cè)試通常指電氣性能測(cè)試，類似的測(cè)試還有跌落測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、鹽霧測(cè)試等。

老化測(cè)試不是一項(xiàng)必須項(xiàng)，成本高，當(dāng)前在新能源賽道，老化測(cè)試比較常見(jiàn)，多采用自動(dòng)化測(cè)試方案，搭載CMW模塊連接器。

四、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI

AOI使用單個(gè)2D相機(jī)或兩個(gè)3D相機(jī)拍攝PCB的照片，然后把電路板照片與詳細(xì)的原理圖進(jìn)行比較。如果電路板在一定程度上與原理圖不匹配，則會(huì)將該電路板不匹配的地方標(biāo)記為由技術(shù)人員檢查，AOI能及時(shí)檢測(cè)故障問(wèn)題。

但是，AOI檢測(cè)不會(huì)為電路板供電，無(wú)法100%檢測(cè)所有元器件的問(wèn)題，因此AOI一般會(huì)與其他測(cè)試方法結(jié)合使用，常用的測(cè)試組合是：

● AOI和飛針

● AOI和在線測(cè)試(ICT)

● AOI和功能測(cè)試

PCBA測(cè)試是確保電路板質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié)，想要了解更多可關(guān)注騰方中科，持續(xù)分享測(cè)試測(cè)控相關(guān)知識(shí)點(diǎn)。

審核編輯 黃宇