BJT即雙極性晶體管，俗稱三極管，是一種具有三個終端的電子器件，由三部分摻雜程度不同的半導體制成，晶體管中的電荷流動主要是由于載流子在PN結處的擴散作用和漂移運動。雙極性晶體管能夠放大信號，并且具有較好的功率控制、高速工作以及耐久能力，所以它常被用來構成放大器電路，或驅動揚聲器、電動機等設備，并被廣泛地應用于航空航天工程、醫療器械和機器人等應用產品中。

01BJT的結構與主要特性

一個雙極性晶體管由三個不同的摻雜半導體區域組成，它們分別是發射極區域、基極區域和集電極區域。這些區域在NPN型晶體管中分別是N型、P型和N型半導體，而在PNP型晶體管中則分別是P型、N型和P型半導體。每一個半導體區域都有一個引腳端接出，通常用字母E、B和C來表示發射極(Emitter)、基極(Base)和集電極(Collector)。

直流輸入特性曲線是通過測量不同VCE下的IB和VBE關系得到的。當VCE=0V時，發射結處于正向偏壓狀態，IC=0;當VCE增加時，集電結進入反偏狀態，開始收集電子，IC增加，特性曲線向右移動。這些曲線展示了晶體管在不同VCE下的工作狀態。

直流輸出特性曲線描述了集電極電流IC與集電極-發射極電壓VCE之間的關系。當VCE=0V時，集電極無收集作用，IC=0;隨著VCE增加，集電結反偏電壓增大，IC增加;當VCE足夠大時，IC達到飽和，特性曲線進入與VCE軸平行的區域。這些曲線分為三個區域：?截止區、?放大區和?飽和區。

02實測案例

ITECH專業的SPS5000半導體參數測試軟件是與IT2800系列高精密源/測量單元配套使用，可以幫助用戶快速實現半導體器件檢定，器件電性能參數以及器件I-V特性測試。軟件支援直流DC、脈沖、單向和雙向等多種掃描測試模式，配合其直觀的圖形化用戶界面，可以幫助高校實驗室、半導體企業以及研究機構快速執行器件特性分析，而無需具備任何的編程知識。我國BJT行業起步較早，市場參與者眾多，仍有較大測試需求。

接下來將詳細介紹如何通過SPS500半導體參數測試軟和IT2800圖形化源測量單元/源表實現BJT輸出特性曲線測試。

測試背景：

?SS8050是一種NPN型三極管，常用于低功率放大和開關應用。?它以其高電流增益、低飽和壓降和優良的開關特性而受到青睞。SPS5000測試SS8050 NPN BJT的Ic-Vc特性，Ib掃描，該三極管的規格參數為：

測試過程：

1)用戶需要在SPS5000軟件中選擇對應的測試項，填寫BJT的規格參數，掃描電流，起始結束電壓等;

2)按照測試項的接線示意圖，連接好IT2800源表和待測物BJT，然后在軟件中配置好對應的機器連接對應的基極和集電極;

3)運行測試項目結束后，會在下方運行結果窗口生成測試報告，雙擊測試報告后，可以看到測試的曲線以及所有記錄的參數。

用戶可以利用軟件提供的各種圖表分析工具，如曲線自動縮放、恒值線、區域標記、切線、分布線等，快速完成對測試結果的分析。用戶無需導出圖表后借助其他輔助工具，更加方便快捷。

此外，軟件還支持多Y軸功能，并允許用戶根據分析需求靈活配置X軸和Y軸的數據類型，以及選擇log或linear刻度顯示格式，讓曲線顯示更直觀和符合分析的意圖。

03ITECH測試優勢

選配ITECH艾德克斯SPS5000軟件結合IT2800高精度源表，可以實現自動化的半導體靜態特性測試。SPS5000軟件內建的半導體模型及豐富的靜態指標測試項目，只需要進行簡單的參數配置即可快速完成測試。當測試完成后，上位機軟件可以對多次測試進行綜合的分析，顯示測試參數和曲線，幫助工程師提升測試效率。

SPS5000軟件提供內置的MOSFET、 BJT、二極管以及其他雙端器件結構模型，并為每種類型的器件提供即用型測試項。測試人員可以根據測試需求，選擇單一測試項進行手動器件驗證，或選擇多個測試項構建測試序列(適用于相同的測試接線)，以快速執行器件的多參數分析。

SPS5000同時提供了出色的數據記錄、曲線描繪以及導出分析等功能，是一款能夠幫助用戶立即提高測試效率的專業測試軟件。