紅外熱像儀是一種非接觸的測溫儀器,通過對物體表面的熱(溫度)分布成像與分析,能夠快速發現物體的熱缺陷。在電子和半導體行業的溫度分布、散熱效果分析、功耗設計和研究、PCB布局優化、維修檢測等方面,紅外熱像儀會顯著提高工程們的效能:
?“看見”熱,比經驗和直覺耗時更少,定位更準確;
? 非接觸,不用擔心觸電風險;
? 不用布線,不用涂膠,也不用擔心高溫熔化熱電偶粘膠;
?“看”小物體的熱成為可能;
電子產品熱評估
好的產品應該至少滿足2點:1.滿足法規和標準要求;2.用戶體驗好。
法規和標準會對電子產品的極限溫升做出規定,這是保護消費者人身和社會公共安全。
體驗是在功能之外給客戶帶來的舒適性與愉悅感提升,比如A和B兩個配置相似的手機,同時“吃雞”,A手機運行20分鐘后散熱沒做好,處理器開始降頻卡頓,而B手機一直流暢,自然B手機體驗更好。
紅外熱像儀的“火眼精金”,在極限溫升實驗中彌補熱電偶等溫度檢測手段不足,發現漏網的“異常熱點之魚”。同時,紅外熱像儀可以將難以文字描述、也難以理解的溫度主觀感受具象化,研發人員按圖索驥,改進無疑更有效率。
▲吹風機
▲LED燈泡
▲點煙器
▲加熱器
▲充電器
散熱分析
熱管理工程師如果能“看見”熱,無疑有助于更好的散熱分析,制定更好的散熱方案。
▲電路板熱分布
▲電源熱分布
▲電感熱分布
▲改進后的散熱
故障維修
PCB板上元件眾多,如果有短路、擊穿、焊接不良等故障,排查和定位需要豐富的經驗,同時耗時較多。借助紅外熱像儀,維修人員可以將故障電路板的熱像圖和正常熱像圖比對,定位溫度異常的元器件,再有針對性的測試,可顯著提高工作效率。
▲貼片電容異常
▲故障電路板升溫
芯片失效分析
溫度過高會導致芯片內部的晶體管P-N不能正常通斷,導致芯片失效。使用紅外熱像儀檢測芯片封裝表層的溫度,可以計算出內部的大致溫度。也可以將芯片的封裝層磨掉,使用紅外熱像儀直接檢測晶圓、金線、連接點等溫度。
▲已封裝芯片
▲未封裝芯片
FOTRIC作為熱像儀、云熱像、熱像系統的生產廠家,為研發人員提供創新的研發熱像產品,提高散熱設計工作效率,助力企業開發有市場競爭力的產品。FOTRIC科研系列熱像儀已被北京大學、清華大學、復旦大學、浙江大學、武漢大學、電子科技大學等全國二百多所高校使用,獲得老師和科研人員普遍贊譽,值得信賴。
?既可便攜使用,也可通過全輻射視頻掌握熱擴散路徑和溫升曲線;
?旁路電源設計,支持1TB單個視頻文件深度存儲,外接電源后可超長時間不間斷進行數據采集;
?支持20μm分辨能力,可檢查細小對象的溫度
?支持分區域發射率設定,為同一畫面中的不同被測材料設置不同發射率,測溫更精準;
?支持溫度閾值、時間、持續時長等觸發,實現自動數據采集,提升工作效率;
?功能強大的專業分析軟件,實現二維、三維、時域、溫差等全方位分析。
FOTRIC熱像儀,品質有保障
FOTRIC是全球資深熱像品牌之一,服務全球客戶,中國總部位于上海,美國總部位于達拉斯(Dallas),同時在北京、無錫、南京、濟南、西安設有辦事處,在歐洲、韓國、新加坡、澳大利亞、***等十多個國家和地區設有分銷商。
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原文標題:用它“看見”熱,電子熱缺陷不再難找
文章出處:【微信號:icunion,微信公眾號:半導體行業聯盟】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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