半導體激光器是半導體光電轉換器件。如圖1所示，半導體激光器由多層材料構成。自下而上包括背電極，襯底，下光限制層，下波導層，有源層，上波導層，上限制層，上電極。不同層由不同的外延材料組成。

如此層狀結構是為了達到

1）載流子（電子，空穴）的注入復合發光，

2）光子橫向限制，形成光波導的目的。外延完成的層狀結構要經過刻蝕工藝，形成脊波導，在脊波導上制備接觸電極。

如此脊波導的目的是

1）限制電流側向擴散，

2）形成光子的側向波導。制備完的圓片經過解理，鍍膜，燒焊，壓焊引線等工藝得到待測量的激光器，當向激光器電極注入電流時，激光器PN結兩側的電子和空穴大量的涌入有源區，在有源區電子空穴對復合，產生大量的光子，光子在波導的作用下沿軸方向傳播，在激光器端面，反射光形成激射條件，透射光則為激光器輸出的激光。

激光器工作特性主要體現在

1）PN結特性，串聯電阻，

2）激光器的激射閾值，激光器斜率效率。

這些特性決定了激光器的出光功率PO，功率轉換效率ηP，工作壽命等性質。生產和科研過程中經常采用PIV測量方法獲得這些重要參數。

半導體激光器PIV特性即對激光器注入電流I時，激光器的出光功率P和激光器兩極電壓V的響應特性。與普通的PN結二極管等兩端器件不同，半導體激光器PIV測試不僅要測量激光器的電壓-電流（V-I）特性，重要的是同時完成激光器的功率-電流（P-I）特性的測試。因此，半導體激光器PIV測試系統包括精密電流源，電壓表，功率計和負責控制、儀器間通訊、數據采集和處理的軟件部分。傳統的PIV測試系統由分立的電流源（集成有電壓表），電流計和控制軟件組成。電流源用于提供激光器注入電流和測量電壓，電流計連接積分球用于測量激光器功率，電流源和電流計通過GPIB端口與軟件聯接，完成測量觸發，數據傳輸等任務。

復雜的PIV測試系統存在很多問題，包括

1）測量速度不高，單位時間內測量的點數少，增加了測量耗時；

2）系統的穩定性差，由GPIB端口連接的儀器間會出現數據傳輸阻塞的問題，系統容易癱瘓；

3）系統的可控性差，測量速度、掃描點數，掃描方式不可根據測量要求進行調整。在大量的半導體激光器光電測試過程中，傳統的PIV測試系統出現了效率低、可靠性、可控性差的問題。