ARM系列處理器正是通過JTAG 接口使用內部集成的ICE 功能, 并采用這種方式實現在線調試。此外CPLD、FPGA 等器件大多都可以使用JTAG 接口實現在線編程或下載。因此,JTAG 接口已經成為復雜芯片系統的必備接口, 在芯片測試、調試及實現其他特殊功能方面發揮著重要作用。

基本原理

JTAG 標準即IEEE 1149.1 標準。聯合測試行動組JTAG(Joint Test Action Group ) 起草了邊界掃描測試BST(Boundary Scan Testing)規范, 該標準為數字集成電路規定了一個測試訪問口(TAP) 和邊界掃描結構,解決了由于數字電路高度集成化帶來的一些測試難題。它還提供了一種訪問和控制芯片內部仿真(ICE) 模塊的方法, ICE 模塊一般包括內部掃描和自測試的功能, 可以很好地支持集成電路的開發。

JTAG 標準工作原理

邊界掃描技術的基本思想是在靠近芯片的輸入輸出管腳增加一個移位寄存器單元。通過這些邊界掃描寄存器單元, 可以實現對芯片輸入輸出信號的觀察和控制。另外, 靠近芯片輸入輸出管腳的邊界掃描(移位) 寄存器單元可以相互連接起來, 在芯片的周圍形成一個邊界掃描鏈(Boundary- Scan Chain) 。一般的芯片都會提供幾條獨立的邊界掃描鏈, 用來實現完整的測試功能。

在JTAG標準中, 寄存器被分為兩大類: 數據寄存器(DR- Data Register)和指令寄存器(IR- Instruction Register),邊界掃描鏈寄存器即為一種很重要的數據寄存器, 邊界掃描鏈可用來觀察和控制芯片的輸入輸出。指令寄存器用來實現對數據寄存器的控制。TAP 是一個通用的端口, 通過TAP 可以訪問芯片提供的所有數據寄存器和指令寄存器, 對整個TAP的控制是通過TAP控制器完成的。TAP包括5個信號接口: (1)TCK(Test Clock), 為TAP操作提供了一個獨立的基本的時鐘信號。(2)TMS(Test-Mode Selector) , 用來控制TAP狀態機的轉換。(3)TDI(TestData Input), 是JTAG指令和數據的串行輸入端。在TCK的上升沿被采樣, 結果送到JTAG寄存器中。(4)TDO(Test Data Output), 是JTAG指令和數據的串行輸出端。在TCK的下降沿被輸出到TDO。(5)TRST, 是JTAG電路的復位輸入信號, 低電平有效。

通過TAP控制器的狀態轉移即可實現對數據寄存器和指令寄存器的訪問, 從而實現對JTAG測試電路的控制。TAP控制器共有16 種狀態, 如圖1 所示。通過測試模式選擇TMS 和時鐘TCK可控制狀態的轉移。

指令寄存器允許特定的指令被裝載到指令寄存器當中, 用來選擇需要執行的測試, 或者選擇需要訪問的測試數據寄存器。每個支持JTAG調試的芯片必須包含一個指令寄存器。JTAG標準要求芯片支持的基本指令有:EXTEST、INTEST、SAMPLE/PRELOAD、BYPASS、HIGHZ等。

ARM7TDMI 調試原理

從功能上看, ARM7TDMI 處理器主要包括三大部分:

(1)ARM CPU Main Processor Logic , 包括了對調試的硬件支持; (2)嵌入式ICE- RT Logic , 包括了一組寄存器和比較器, 用來產生調試異常、設置斷點和觀察點; (3)TAP控制器, 它通過JTAG接口控制和操作掃描鏈。

ARM7TDMI 提供了4 條掃描鏈, 分別是掃描鏈0、1、2 和3。通過掃描鏈0可以訪問ARM7TDMI內核的外圍電路,包括數據總線。該掃描鏈長度為113位, 具體包括數據總線的0￣31位、內核控制信號、地址總線的0￣31 位、嵌入式ICE-RT的控制信號等。掃描鏈1是掃描鏈0的子集, 長度為33位, 具體包括數據總線的0￣31位和BREAKPT信號,掃描鏈1比掃描鏈0的長度短了很多,通過掃描鏈1可以更快地將指令或數據插入到ARM7TDMI的內部。掃描鏈2長度為38位, 該掃描鏈專門用來訪問嵌入式ICE-RT內部的寄存器, 通過訪問嵌入式ICERT的內部寄存器, 可以讓ARM7TDMI進入調試狀態、設置斷點、設置觀察點。通過掃描鏈3, ARM7TDMI可以訪問外部的邊界掃描鏈, 該掃描鏈用得很少。

ARM7TDMI 的調試狀態和正常運行狀態是有區別的。在正常運行狀態下, ARM7TDMI由MCLK( MemoryClock)驅動, 正常運行。在調試狀態下, ARM7TDMI的正常運行被打斷, 并且和系統的其他部分隔離開來。可以通過掃描鏈插入特定的ARM/THUMB指令來讀寫ARM7TDMI的內部寄存器和修改內存的內容。在完成需要的操作后,可以用RESTART JTAG 指令讓ARM7TDMI返回到正常運行狀態,恢復原來的運行。

JTAG 調試器的嵌入式系統實現

JTAG調試器硬件是以基于ARM7芯片的嵌入式系統實現的。該系統以帶以太網接口的ARM芯片S3C4510B為核心處理器, 以μClinux為嵌入式操作系統。JTAG調試器軟件主要包括兩部分: JTAG調試器與目標機的接口模塊和與調試主機的接口模塊。具體結構框圖如圖2 所示。

嵌入式系統設計

設計并制作標準的S3C4510B應用系統, 主要配置為2MBFLASH、16MBSDRAM、10/100Mbps 自適應以太網口、終端接口、并行I/O 接口等。利用S3C4510B 的通用I/O口中的P[4]、P[5]、P[6]、P[8]分別模擬JTAG標準中TAP的4個信號接口, 即TCK、TMS、TDI、TDO。

從軟件上看, 需要將μClinux 操作系統移植到設計制作的基于S3C4510B的JTAG調試器硬件平臺上, 以便開發基于網絡的調試器軟件。μCLinux是為沒有內存管理單元(MMU)的處理器設計的一種嵌入式操作系統,它繼承了桌面Linux的強大網絡功能,其內核采用模塊化的組織結構,通過增減內核模塊的方式來增減系統的功能。

通常, 在PC機上通過并口模擬JTAG時序,也可以按照標準仿真器設計JTAG調試器。與上述方案不同,本設計采用開放源代碼軟件設計JTAG調試器應用軟件,主要參考了Open- JTAG小組開發的通過PC機并口實現JTAG操作的軟件jtager - 1.0.0,將其中對PC 機并口的操作改為對S3C4510B口線的操作,通過設置S3C4510B的通用I/O口模式寄存器IOPMOD 的值可將P[4]、P[5]、P[6]設置為輸出模式,將P[8]設置為輸入模式,然后通過編程設置I/O口數據寄存器IOPDATA的值,控制P[4]、P[5]、P[6]、P[8]的狀態實現JTAG標準要求的時序。隨后,根據ARM7TDMI調試特性,修改操作代碼,增加通過網絡的遠程調試功能。

ARM7TDMI 的JTAG 指令實現

ARM7TDMI 的指令寄存器長度是4位, 通過TAP和JTAG接口, 可以把指令裝載到指令寄存器中。在CAPTURE-IR狀態下, 固定值B0001總是被裝載到指令寄存器中。在SHIFT- IR狀態下, 可以把ARM7TDMI支持的新指令從TDI串行輸入,同時固定值B0001會從TDO 串行輸出。通過輸出的這個固定值,可以判斷當前的操作是否正確。在UPDATE- IR狀態下, 新輸入的指令被裝載到指令寄存器中。在回到RUN- TEST/IDLE狀態后,新指令立即生效。

IDCODE和SCAN_N是ARM7TDMI調試中經常用到的JTAG命令。IDCODE命令的二進制代碼是1110。IDCODE命令將Device Identification Code寄存器連接到TDI和TDO之間。Device Identification Code寄存器的長度是32 位,通過TAP可以讀到ARM7TDMI的ID。SCAN_N命令的二進制代碼是0010。ARM7TDMI提供了4 條掃描鏈,通過SCAN_N指令可以選擇需要訪問的掃描鏈。選擇掃描鏈的過程是:先把SCAN_N指令裝載到指令寄存器中,該指令會將長度為4位的掃描鏈選擇寄存器連接到TDI和TDO之間;通過TAP狀態的轉移便可使選擇的掃描鏈連接到TDI和TDO之間。

另外BYPASS、INTEST、RESTART等JTAG指令的實現方法與上面兩條指令的實現方法類似。

嵌入式ICE- RT 邏輯實現

嵌入式ICE- RT是ARM處理器內部集成的在線仿真功能模塊,通過JTAG調試接口與外界交互,其中包含的常用寄存器如表1所示。

要訪問嵌入式ICE- RT內部的寄存器,可通過掃描鏈2對Debug Control Register進行訪問。實現過程:通過TAP將SCAN_N指令寫入JTAG指令寄存器中,通過TDI將數值2寫到掃描鏈選擇寄存器中,即選擇了掃描鏈2,在通過掃描鏈2訪問任何嵌入式ICE- RT內部寄存器之前,還需要用INTEST指令將當前通過SCAN_N指令選擇的掃描鏈置為內部測試狀態。寫入INTEST指令的過程和寫入SCAN_N指令的過程類似。接下來就可以通過掃描鏈2訪問嵌入式ICE- RT內部寄存器,實現對ARM7TDMI的基本調試功能。

ARM7TDMI 寄存器和內存訪問的實現

邊界掃描鏈分布在ARM7TDMI的32位數據總線的周圍, ARM7TDMI每次取指令或者進行數據存儲時都要通過32位數據總線進行。這樣, 通過邊界掃描鏈1, 就可以插入新指令或者新數據, 同時也可以捕獲出現在數據總線上的數據。通過這種方式, 可以檢查和修改ARM7TDMI的通用寄存器和系統內存。

以讀取寄存器R0 的值為例, 介紹邊界掃描鏈1 的操作過程, 如圖3 所示。

讀取寄存器R0的值可以用指令STR R0, [R0] ( 機器碼為0xE5800000) 來實現。該指令可將寄存器R0 的值存儲到內存單元R0中去。因為在ARM7TDMI處于調試狀態時, ARM7TDMI和外部是隔離開的, 所以該指令實際上不能訪問內存單元, 也不會對內存單元產生任何影響。使用指令STR R0, [R0]可使得寄存器R0的值出現在數據總線上, 這樣就可以通過掃描鏈1將其捕獲, 然后從TDO輸出。指令STR R0, [R0]的執行需要兩個指令執行周期。在第一個指令執行周期, 執行地址計算; 在第二個指令執行周期, 將寄存器R0的值放到數據總線上去。對ARM寄存器寫操作及訪問內存的方法與此類似,都是通過掃描鏈1, 只是所使用的指令不同而已。

網絡編程

通過網絡編程, 可以對目標系統實現遠程調試。圖4是PC與仿真器的網絡通信流程圖。網絡通信通過μClinux下的socket編程實現, 首先PC(調試主機)通過網絡向仿真器發送命令, 仿真器通過統一的程序接口分析調試命令, 并將調試命令轉換成JTAG標準所要求的時序, 通過I/O口線發送到目標板; 然后目標板執行命令,并將命令執行后得到的調試信息返回給仿真器, 接著仿真器將調試信息通過網絡發送給PC, 這樣用戶在PC上便得到了調試信息。

JTAG調試器測試及部分執行結果

本設計最終完成了一種在Linux終端下操作的JTAG調試器。調試器上電后便在μClinux 下自動運行調試器客戶端程序, 同時在PC的Cygwin環境下運行JTAG調試器服務器端程序jtager , 建立網絡連接。然后在Cygwin下鍵入用戶調試命令, 執行下列操作: (1)寫目標板上的CPU狀態; (2)讀寫編址在統一內存空間的外部設備寄存器; (3)讀寫目標機上的RAM; (4)讀寫目標機上的固態存儲設備, 如Flash; (5)對嵌入式ICE- RT進行調試。

設計實現的調試器的用戶命令較多, 下面僅列出兩條典型命令IDCODE 和REG 執行后的結果。

執行IDCODE命令后, 讀出了一個基于S3C4510B的目標開發板內的CPUID號, 從而得到Device ID="0x1F0F0F0F"。通過邏輯分析儀分析幾個JTAG接口信號的時序關系, 可以觀察到JTAG掃描連的訪問過程以及該過程中各種狀態的轉移, 結果與JTAG_調試原理吻合。

執行RE命令后, 得到了寄存器R0~R15及CPSR內容, 即讀出了目標開發板處理器S3C4510B在當前處理器模式下的所有寄存器值, 而且還可以通過其他命令對其進行修改。

此外, 通過掃描鏈2可以訪問嵌入式ICE- RT的17個寬度不同的內部調試寄存器, 通過這些寄存器使目標ARM7TDMI分別進入調試狀態的3種方式, 即控制DBGRQ信號、斷點和觀察點, 實現在線調試功能。

本文實現的JTAG調試器具有基本的調試功能, 尚不具備完善的用戶操作界面, 特別是圖形操作界面, 另外網絡功能也需要進一步完善。但調試器的設計和實現方法對于設計類似調試器具有參考價值。為了提高JTAG調試器速率, 還可以采用CPLD或FPGA實現JTAG時序,通過存儲器形式與調試器CPU接口, 這將在提高速度的同時, 減輕調試器CPU的負擔。