電子技術的電控電路常采用CMOS邏輯控制系統，通過多年的維修實踐，我們自行設計和安裝了簡易集成邏輯門電路測試儀。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關系，通過該測試儀即可很快判斷集成電路的好壞。

一、測試儀電路構成及原理

1.電路構成該測試儀電路由+12V直流電源、16只小型豆型開關、15只發光二極管、15只普通碳膜電阻（1kΩO.25W）和一個16腳的集成電路管座等組成。為了便于測試判斷和分析，對于14腳集成電路，開關K1和發光二極管D1對應控制集成塊的①腳，開關K2和發光二極管D2對應控制集成塊的②腳，依次類推，直到開關K13和發光二極管D13對應控制集成塊的⑩腳，一般⑦腳接地。由K7控制選擇，K14必須合上控制⑩腳接+12V電源，對于測試14腳的集成電路管腳號見圖中內部標識。一定要與集成塊管腳對號插入。對于16腳集成電路，開關K1和發光二極管D1對應控制集成塊的①腳，開關K2和發光二極管D2對應控制集成塊的②腳，依次類推到第⑦腳（開關K7置于+12V電源位置），⑥腳接地，從開關K9'、K10'、K11'、K12'、K13'、K14'、K15'、K14分別控制⑨腳到⑩腳的輸入和控制發光二極管D9、D10'一直到D16'的指示，根據各種集成塊選擇接+12V電源。

2.基本測試原理集成邏輯門電路各個管腳輸入電平高或低可以由開關K來選擇，當輸入為高電平時，將對應的開關合上；輸入電平為低時對應的開關斷開，當各組對應的邏輯輸出電平為高電平時。對應的發光二極管點亮：輸出電平為低時，發光二極管不發光。通過不同輸入電平作用使輸出電平變化和實際邏輯運算電平關系相對比，可以判定和分析其好壞。制作本測試器，有兩點要引起注意：（1）必須考慮集成電路的管腳第⑦腳與第⑧腳的接地轉換。（2）集成電路的最后腳⑩腳不一定接電源正端，需要增加開關K14隔離。如：CD1413的16腳就不接電源正端。

二、測試舉例
將各型號的集成電路制作成卡片，根據卡片的對應腳接通相應的開關K，合上電源開關K0。

1.測CC4011時。卡片如圖2測量時先將K14合上（加電源），K7置在接地位置。此被測集成電路為2輸入四與非門，將K1、K2開關接通，③腳輸出低電平。

D3不亮，D1、D2亮。如果Kl、K2斷開，則對應的輸出端③腳輸出高電平，D3亮，D1，。D2不亮。只接通K1、K2一個時，D1、D2有一個亮，③腳也輸出低電平，發光二極管D3也不亮。其他門測量也如此。不再敘述。。

2.測CC4001.卡片如圖3測量時先將K14合上加電源，K7置接地位置。當K12、K13都未接通時，對應的輸出端⑩腳輸出高電平，D11亮，只要K12、K13一個合上，則11腳輸出低電平，D11不亮，K12、K13都合上，則11腳輸出低電平，D11不亮。其他門測量也如此。

3.測量CC4071卡片如圖4測量時先將K14合上（加電源）.K7置接地位置。當K12、K13都未接通時，對應的輸出端11腳輸出低電平，D11不亮，只要K12、K13合上一個，D13，D12有一個對應發光二極管亮，則11腳輸出高電平，D11亮，K12、K13都合上。D13、D12都亮，則⑩腳輸出高電平，D1l亮。其他門測量也如此。

4.測量CC4069卡片如圖5測量時先將K14合上（加電源），K7置接地位置。當合上K1時。Dl發光二極管亮，②腳輸出低電平，D2不亮。當斷開K1時，②腳輸出高電平，D2亮。其他門測量也如此。

5.測CC4081.卡片如圖6此集成電路為2輸入四與門。

測量時先將K14合上加電源。K7置接地位置。將K1、K2開關接通，Dl、D2發光二管亮，輸出端③腳輸出高電平，發光二極管D3亮。

如果Kl、K2斷開，則③腳輸出低電平，D1不亮，只接通Kl、K2一個時，Dl、D2有一個發光二極管亮，⑧腳也輸出低電平，Dl也不亮。其他門測量也如此。

6.測CC4072.卡片如圖7.此集成電路為4輸入雙或門。

測量時先將K14合上（加電源）.K7置接地位置。只要輸入端②、③、④、‘⑤有一腳是高電平（K2、K3、K4、K5腳有一個接通或全接通，D2、D3、D4、D5有一個發光二極管亮或全亮），①腳輸出高電平。

發光二極管Dl亮，K2、K3、K4、K5全斷開，①腳輸出低電平。Dl不亮。注：另一個或I-]測試也如此。

7.測CDl413，卡片如圖8CDl413為16腳集成電路，測量時先將K9'合上給集成塊供電（D9亮），Kl置于+12V電源位置（Dl亮），說明此路非門工作正常。用此方法可以依次測量其他6路非門是否正常。NEC公司生產的斗PC2002系列同CDl413功能作用和管腳排列完全一樣。

8.測／VICl4043卡片如圖9MCl4043為16腳集成電路（其第⑧腳直接接地），將K7由接地轉換為接高電平。將E⑤接高電平（D5亮），④腳輸入低電平（K4斷開），③腳輸入高電平（K3接通，D3亮），則②腳輸出低電平，D2不亮，④腳輸入高電平（K4接通，D4亮），③腳輸入低電平（K3斷開），則②腳輸出高電平，D2亮，④腳輸入高電平（K4接通，D4亮），③腳輸入高電平（K3接通，D3亮），則②腳輸出高電平，D2亮，其他門測量也如此。9.測量MC14066，卡片如圖10測量時先將K14合上（加電源），K7置接地位置。

將控制端⑤接高電平（K5接通），D5發光二極管亮，④腳接高電平（K4接通），D4亮，則③腳輸出高電平（D3亮）。

K4不接通，D4不亮，D3也不亮。將K3接通（D3亮），K4斷開，D4亮。③、④腳互為輸入、輸出端。控制端K5斷開，D5不亮，③、④腳不論哪一端加高電平，另一端都是低電平。

三、小結
本測試儀可測MC、CD、CC、HEF等系列集成電路。還有許多集成電路也可以在此測試儀上測試。如：CD4541、CD40175、CD4023、CD4025、CD4002、CD4012、CI）4073、CD4082、CD4013、4N25、2G03D等等。（注：CC、CD、MC、HEF等系列通用，可直接代換）。