色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

led芯片失效原理

工程師 ? 來源:網絡整理 ? 作者:h1654155205.5246 ? 2019-03-27 16:54 ? 次閱讀

LED芯片失效原理

由于環境中存在不同程度的靜電,通過靜電感應或直接轉移等形式LED芯片的PN結兩端會積聚一定數量的極性相反的靜電電荷,形成不同程度的靜電電壓。當靜電電壓超過LED的承受值時,靜電電荷將以極短的時間(納秒)在LED芯片的兩個電極間放電,從而產生熱量。在LED芯片內部的導電層、PN結發光層形成1400℃以上的高溫,高溫導致局部熔融成小孔,從而造成LED漏電、變暗、死燈,短路等現象。

被靜電擊損后的LED,嚴重的往往會造成死燈、漏電。輕微的靜電損傷,LED一般沒有什么異常,但此時,該LED已經有一定的隱患,當它受到二次靜電損傷時,那就會出現暗亮、死燈、漏電的機率增大。通過案例分析總結,當LED芯片受到輕微的、未被覺察的靜電損傷,這時候需要掃描電鏡放大到一萬倍以上進一步確診,以防更高機率的失效事故發生。

led芯片失效原因

1、芯片抗靜電能力差

LED燈珠的抗靜電指標高低取決于LED發光芯片本身,與封裝材料預計封裝工藝基本無關,或者說影響因素很小,很細微;LED燈更容易遭受靜電損傷,這與兩個引腳間距有關系,LED芯片裸晶的兩個電極間距非常小,一般是一百微米以內吧,而LED引腳則是兩毫米左右,當靜電電荷要轉移時,間距越大,越容易形成大的電位差,也就是高的電壓。所以,封成LED燈后往往更容易出現靜電損傷事故。

2、芯片外延缺陷

LED外延片在高溫長晶過程中,襯底、MOCVD反應腔內殘留的沉積物、外圍氣體和Mo源都會引入雜質,這些雜質會滲入磊晶層,阻止氮化鎵晶體成核,形成各種各樣的外延缺陷,最終在外延層表面形成微小坑洞,這些也會嚴重影響外延片薄膜材料的晶體質量和性能。

3、芯片化學物殘余

電極加工是制作LED芯片的關鍵工序,包括清洗、蒸鍍、黃光、化學蝕刻、熔合、研磨,會接觸到很多化學清洗劑,如果芯片清洗不夠干凈,會使有害化學物殘余。這些有害化學物會在LED通電時,與電極發生電化學反應,導致死燈、光衰、暗亮、發黑等現象出現。因此,芯片化學物殘留引發后期高溫導致的焊點開路性死燈通常封裝廠很難發現,芯片廠一般會一筆帶過而封裝廠只能提升焊線工藝,因此判斷芯片表面的化學物殘留對LED封裝廠來說至關重要。

4、芯片的受損

LED芯片的受損會直接導致LED失效,因此提高LED芯片的可靠性至關重要。蒸鍍過程中有時需用彈簧夾固定芯片,因此會產生夾痕。黃光作業若顯影不完全及光罩有破洞會使發光區有殘余多出的金屬。晶粒在前段制程中,各項制程如清洗、蒸鍍、黃光、化學蝕刻、熔合、研磨等作業都必須使用鑷子及花籃、載具等,因此會有晶粒電極刮傷的情況發生。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • led
    led
    +關注

    關注

    242

    文章

    23254

    瀏覽量

    660598
  • LED芯片
    +關注

    關注

    40

    文章

    619

    瀏覽量

    84350
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    芯片失效性分析與應對方法

    在汽車、數據中心和人工智能等關鍵領域,半導體芯片的可靠性成為系統穩定運行的核心要素。隨著技術發展,芯片面臨著更為復雜的使用環境與性能需求,其失效問題愈發凸顯。本文將深入探討芯片
    的頭像 發表于 12-20 10:02 ?652次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>的<b class='flag-5'>失效</b>性分析與應對方法

    電路失效模式:LED失效模式分析

    LED驅動技術的進步與市場挑戰在LED照明技術迅速發展的今天,市場對LED產品的需求激增,吸引了大量專業人才投身于LED行業。隨著眾多LED
    的頭像 發表于 12-14 19:46 ?155次閱讀
    電路<b class='flag-5'>失效</b>模式:<b class='flag-5'>LED</b><b class='flag-5'>失效</b>模式分析

    從外觀到參數,芯片失效的檢測方法

    眾所周知,芯片作為智能設備的“心臟”,承載核心功能;其設計復雜度與集成度提升,加之應用環境多樣化,致失效問題凸顯,或將成為應用工程師設計周期內的重大挑戰。 圖源:Google 首先,芯片失效
    的頭像 發表于 12-09 14:08 ?788次閱讀
    從外觀到參數,<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>失效</b>的檢測方法

    FIB技術:芯片失效分析的關鍵工具

    芯片失效分析的關鍵工具在半導體行業迅速發展的今天,芯片的可靠性成為了衡量其性能的關鍵因素。聚焦離子束(FIB)技術,作為一種先進的微納加工技術,對于芯片
    的頭像 發表于 11-28 17:11 ?282次閱讀
    FIB技術:<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>失效</b>分析的關鍵工具

    顯微鏡在芯片失效分析中的具體應用場景及前景

    ??? 在芯片這個微觀且精密的領域,失效分析猶如一場探秘之旅,旨在揭開芯片出現故障背后的秘密。而顯微鏡,作為一種強大的觀察工具,在芯片失效
    的頭像 發表于 11-26 11:32 ?256次閱讀

    IV測試助力解芯片失效原因

    芯片這個微觀而又復雜的世界里,失效分析如同一場解謎之旅,旨在揭開芯片出現故障的神秘面紗。而 IV(電流-電壓)測試作為一種重要的分析手段,在芯片
    的頭像 發表于 11-21 17:13 ?265次閱讀
    IV測試助力解<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>失效</b>原因

    X-ray在芯片失效分析中的應用

    本文簡單介紹了X-ray 在芯片失效分析中的應用。 X-ray 在芯片失效分析中的應用廣泛,主要體現在以下幾個方面: 1.檢測封裝缺陷: 焊點異常檢測:可以精準地檢測出
    的頭像 發表于 11-21 10:29 ?278次閱讀
    X-ray在<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>失效</b>分析中的應用

    真空回流焊爐/真空焊接爐——LED失效分析

    LED失效模式有多種形式,本文將分析LED的幾種主要失效模式的機理幫助大家了解,以便提前規避來提高LED的質量。
    的頭像 發表于 10-22 10:42 ?326次閱讀
    真空回流焊爐/真空焊接爐——<b class='flag-5'>LED</b><b class='flag-5'>失效</b>分析

    廣電計量|功率場效應管過壓失效機理及典型特征分析

    失效分析最常觀察到的現象是EOS過電失效,分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率器件為代表的EOS過電
    的頭像 發表于 09-18 10:55 ?909次閱讀
    廣電計量|功率場效應管過壓<b class='flag-5'>失效</b>機理及典型特征分析

    季豐對存儲器芯片失效分析方法步驟

    由于存儲器中包括結構重復的存儲單元,當其中發生失效點時, 如何定位失效點成為存儲器失效分析中的最為重要的一步。存儲器芯片的集成度高,字線(WL)和位線(BL)之間發生微小漏電,或前段D
    的頭像 發表于 08-19 15:48 ?574次閱讀
    季豐對存儲器<b class='flag-5'>芯片</b>的<b class='flag-5'>失效</b>分析方法步驟

    芯片失效分析中常見的測試設備及其特點

    芯片失效分析中,常用的測試設備種類繁多,每種設備都有其特定的功能和用途,本文列舉了一些常見的測試設備及其特點。
    的頭像 發表于 08-07 17:33 ?838次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>失效</b>分析中常見的測試設備及其特點

    芯片失效問題解決方案:從根源找到答案

    芯片失效分析是指對電子設備中的故障芯片進行檢測、診斷和修復的過程。芯片作為電子設備的核心部件,其性能和可靠性直接影響整個設備的性能和穩定性。 隨著半導體技術的迅速發展,
    的頭像 發表于 07-29 11:22 ?2060次閱讀

    芯片開封decap簡介及芯片開封在失效分析中應用案例分析

    DECAP:即開封,業內也稱開蓋,開帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕,使得IC可以暴露出來 ,同時保持芯片功能的完整無損,為下一步芯片失效分析實驗做準備,方便觀察或做其他測試。通過芯片
    的頭像 發表于 07-08 16:11 ?781次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>開封decap簡介及<b class='flag-5'>芯片</b>開封在<b class='flag-5'>失效</b>分析中應用案例分析

    LED芯片封裝如何選擇錫膏?

    封裝LED芯片
    jf_17722107
    發布于 :2024年02月28日 13:10:20

    聚焦離子束與芯片失效分析與運用

    去除表面鈍化層、金屬化層和層間介質后有時依然無法觀察到失效點,這時候就需要對芯片進行進一步處理,對于多層布線的芯片干法腐蝕或者濕法腐蝕來逐一去除,直至最后一層金屬化和介質層。
    的頭像 發表于 01-09 15:17 ?330次閱讀
    主站蜘蛛池模板: 伊人亚洲综合网色| 国产婷婷午夜无码A片| 长篇高h肉爽文丝袜| 新新电影理论中文字幕| 且试天下芒果免费观看| 美女乱草鲍高清照片| 久99久热只有精品国产99| 国产精品久久久久久日本| yin荡体育课羞耻play双性| 中文字幕在线不卡精品视频99| 污漫日本E同人| 乌克兰内射私拍| 性生大片免费看| 亚洲精品久久久久一区二区三 | 777久久人妻少妇嫩草AV蜜桃| 一色狗影院| 6080yy亚洲久久无码| 18日本人XXXXXX18| 3d在线看小舞被躁视频| 99re热有精品国产| 啊灬啊灬啊灬快高潮视频 | 国产日韩欧美三级| 久久99re6热在线播放| 久久久久九九| 秋霞鲁丝片Av无码| 爽娇妻快高h| 亚洲乱码AV久久久久久久| 伊人久久国产| 4484在线观看视频| tube69hdxxxx日本| 国产成年人在线观看| 花蝴蝶高清影视视频在线播放| 久久精品国产免费播放| 麻豆成人AV久久无码精品| 漂亮的保姆3集电影免费观看中文| 全黄h全肉细节文在线观看| 性色AV一区二区三区咪爱四虎| 亚洲综合色五月久久婷婷| thermo脱色摇床安卓下载| 国内精品伊人久久久久| 女人一级毛片免费视频观看|