動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-12-20 10:02
芯片的失效性分析與應(yīng)對(duì)方法
在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問(wèn)題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理，揭示芯片失效問(wèn)題的復(fù)雜性，并提出針對(duì)性的應(yīng)對(duì)策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01
【漢通達(dá)科技】引領(lǐng)未來(lái)測(cè)試技術(shù)，ATX中國(guó)區(qū)獨(dú)家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備
在這個(gè)日新月異的科技時(shí)代，每一個(gè)細(xì)微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國(guó)ATX公司在中國(guó)區(qū)的獨(dú)家代理商，北京漢通達(dá)科技有限公司攜手ATX，為您帶來(lái)一場(chǎng)前所未有的測(cè)試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對(duì)品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測(cè)試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來(lái)。一、產(chǎn)品介紹1 -
發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04
北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國(guó)ATX公司，成為中國(guó)獨(dú)家代理商
近日，北京漢通達(dá)科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“漢通達(dá)”）與德國(guó)ATX公司達(dá)成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國(guó)地區(qū)的獨(dú)家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達(dá)在測(cè)試夾具及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)一步拓展，也意味著中國(guó)客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司，作為歐洲市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者，自1997年成立以來(lái)，始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試夾具和自 -
發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02
IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測(cè)試方案設(shè)計(jì)：-選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場(chǎng)景和預(yù)期使用條件，確定合適的測(cè)試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計(jì)測(cè)試持續(xù)時(shí)間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用 -
發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03
芯片測(cè)試程序
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程序的主要功能是指引ATE在測(cè)試中如何與被測(cè)器件（DUT）交互，具體包括如何對(duì)DUT施加不同的輸入激勵(lì)，如何測(cè)量其響應(yīng)信號(hào)，以及將測(cè)量結(jié)果與設(shè)定的門限值（Limit）進(jìn)行比較，最終判定測(cè)試結(jié)果為“通過(guò)”（Pas -
發(fā)布了文章 2024-11-02 08:03
CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別
在集成電路（IC）制造與測(cè)試過(guò)程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測(cè)試）和FT（FinalTest，最終測(cè)試）是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測(cè)試與FT測(cè)試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個(gè)芯片制造和測(cè)試過(guò)程比喻成“篩選和包裝水果”的過(guò)程。CP測(cè)試：相當(dāng)于在水果采摘 -
發(fā)布了文章 2024-10-25 13:00
芯片大廠們：不好意思，明年也已售罄
最近，芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見，但在一些特定情況下會(huì)發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮，在這一年，全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴(yán)重的芯片短缺問(wèn)題，多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時(shí)期的大多數(shù)芯片缺貨不同，這次是缺的是細(xì)分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近，英偉達(dá)的BlackwellGPU未來(lái)12個(gè)月的供應(yīng)量 -
發(fā)布了文章 2024-10-12 08:03
IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越困難。因此，研究和發(fā)展IC測(cè)試，有著重要的意義。而測(cè)試向量作為IC測(cè)試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。1IC測(cè)試1.1IC測(cè)試原理IC測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件（DUT）特點(diǎn) -
發(fā)布了文章 2024-09-28 08:02
聚焦‘芯’科技，第12屆半導(dǎo)體設(shè)備展圓滿落幕，漢通達(dá)與業(yè)內(nèi)同仁共繪產(chǎn)業(yè)藍(lán)圖"
隨著“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會(huì)”的圓滿閉幕，北京漢通達(dá)科技有限公司在此向所有關(guān)注和支持我們的朋友致以最誠(chéng)摯的感謝！經(jīng)過(guò)數(shù)日的精彩展示與深入交流，我們滿載而歸，不僅展示了公司的最新科技成果，更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會(huì)亮點(diǎn)回顧：尖端技術(shù)，震撼亮相：我們精心策劃的展示內(nèi)容，涵蓋了半導(dǎo)體設(shè)備的最新進(jìn)展與核心部件的創(chuàng)新突破。無(wú)論是高精度281瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-09-20 08:05
【展會(huì)盛事，邀您共鑒】共赴CSEAC 2024，引領(lǐng)半導(dǎo)體新未來(lái)！
在這個(gè)充滿機(jī)遇與挑戰(zhàn)的半導(dǎo)體行業(yè)新時(shí)代，北京漢通達(dá)科技有限公司始終與您并肩前行，共同探索技術(shù)創(chuàng)新與市場(chǎng)拓展的新路徑。我們非常榮幸地受邀參加“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會(huì)”，作為中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)的年度盛會(huì)，本次展會(huì)不僅匯聚了行業(yè)精英，更是技術(shù)交流與合作的絕佳平臺(tái),借此機(jī)會(huì)誠(chéng)摯地邀請(qǐng)您及貴公司團(tuán)隊(duì)一同蒞臨展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)。展會(huì)時(shí)間：2024年9月25日至9月27日展
