動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:51

  案例解析||照明LED的失效模式問題及改善措施

  

  LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見光和輻射能的發(fā)光器件，具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點，目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品，并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來，隨著LED技術(shù)的不斷進步，其發(fā)光效率也有了顯著的提升，現(xiàn)有的藍光LED系統(tǒng)效率可以達到60%，而白光LED的光效已經(jīng)超過150lm/W，這些特點都使得LED受到越來越多的關(guān)注

  led 發(fā)光器件 失效模式

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:49

  AEC-Q102之推拉力測試

  

  在汽車智能化與電動化的浪潮中，光電半導(dǎo)體器件（如LED、激光雷達、光傳感器等）的可靠性直接決定了車輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車電子領(lǐng)域針對分立光電半導(dǎo)體的核心測試標準，其推拉力測試是評估器件機械強度的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。推拉力測試的技術(shù)原理與標準要求推拉力測試旨在評估半導(dǎo)體器件內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)（如鍵合線、焊點、端子）的機械強度，防止因振動、沖擊或組裝應(yīng)力導(dǎo)致

  AEC 推拉力測試機 汽車電子

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47

  透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術(shù)（FIB）在材料分析中的應(yīng)用

  

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）和高角度環(huán)形暗場成像（HAADF）。金鑒實驗室配備先進的TEM設(shè)備，擁有經(jīng)驗豐富的操作團隊，可為客戶提供專業(yè)的材料分析服務(wù)。1.能量色散X射

  TEM 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30

  元器件失效分析有哪些方法？

  

  失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學過程，如疲勞、腐蝕、過應(yīng)力等。通過失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問題再次出現(xiàn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26

  聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望

  

  聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術(shù)和服務(wù)，成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)

  fib 檢測 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11

  AEC-Q102認證之器件可焊性

  

  可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標準為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴格的規(guī)范。其中，可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一，對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機械固定的基礎(chǔ)。只有

  AEC 汽車電子 認證

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06

  雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測元件

  

  雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時，光生載流子在強電場中獲得足夠的動能，與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對，從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強條

  二極管 汽車電子 雪崩二極管

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03

  聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種先進的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設(shè)備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20

  FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術(shù)對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關(guān)系

  fib TEM 電池材料

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28

  AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同

  

  汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標準為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標準中的一個重

  AEC 半導(dǎo)體 試驗

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