武漢萬象奧科文章

• 超詳細(xì)!萬象奧科親測8款不同品牌TF卡性能測試2023-03-29 16:55

  

  TF卡作為一種微型存儲卡，可以在手機(jī)、平板、相機(jī)等設(shè)備中存儲數(shù)據(jù)。不同的TF卡有不同的容量和速度，可以滿足不同的需求。而對于開發(fā)板來說，TF卡的讀寫速度也直接影響了傳輸數(shù)據(jù)的快慢。如果TF卡的讀寫速度過慢，可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，系統(tǒng)崩潰，文件損壞等問題。因此，選擇一款高品質(zhì)、高規(guī)格、高兼容性的TF卡是很必要的。

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• 瑞薩G2UL工業(yè)核心板內(nèi)存測試,您想了解的內(nèi)容全都有2023-03-28 15:43

  

  武漢萬象奧科HD-G2UL-CORE核心板支持512MB/1GB DDR4配置，本文檔主要評估測試核心板內(nèi)存512MB（DDR4）性能（讀寫速率）。

  內(nèi)存 內(nèi)存測試 工業(yè)級嵌入式 開發(fā)板 瑞薩 927瀏覽量

• 瑞薩G2UL開發(fā)板-U盤讀寫速度測試2023-03-23 16:50

  

  U盤是一種便攜的存儲介質(zhì)，可以在不同設(shè)備之間傳輸數(shù)據(jù)和文件，也可以作為啟動或擴(kuò)展設(shè)備，運(yùn)行、調(diào)試和測試不同的操作系統(tǒng)或應(yīng)用程序。要選擇合適的U盤來配合開發(fā)板進(jìn)行項(xiàng)目開發(fā)，則需要考慮容量、讀寫速度、接口類型、兼容性和可靠性等因素。

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• 基于RZ/G2UL Cortex-A55開發(fā)板以太網(wǎng)打流測試方法2023-03-21 17:38

  

  為了保證以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，需要進(jìn)行一些測試和優(yōu)化。其中一種常用的測試方法是iperf3：它是一種用于測量IP網(wǎng)絡(luò)上最大可達(dá)帶寬的工具，支持TCP、UDP等協(xié)議，并可以調(diào)節(jié)各種參數(shù)來模擬不同的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境。

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• 無懼高溫,穩(wěn)定運(yùn)行!RZ/G2UL工業(yè)級核心板2023-03-20 17:11

  

  評估測試RZ/G2UL核心板（未安裝散熱片和封閉外殼）高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。這種測試可以模擬電子設(shè)備在高溫環(huán)境下運(yùn)行時(shí)可能會面臨的情況，如長時(shí)間高負(fù)載運(yùn)行、溫度波動等，以檢驗(yàn)產(chǎn)品的工作能力和可靠性。

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• STM32MP157核心板僅售139,源碼-原理圖-PCB全開放!2023-03-17 15:01

  

  MP157核心板基于ST經(jīng)典的MPU STM32MP157(兼容153/151系列)研發(fā)設(shè)計(jì)，該核心板性能穩(wěn)定、體積小巧，適用于多種工業(yè)應(yīng)用場景。為降低應(yīng)用門檻，Vanxoak開放核心板所有設(shè)計(jì)資料、生產(chǎn)資料！文末附獲取方式。

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• 不容錯過!物聯(lián)網(wǎng)AIoT實(shí)用方案開源！2023-03-16 16:11

  

  武漢萬象奧科基于Rockchip RK1808K/RK1808處理器的AIoT核心板（雙核Cortex-A35處理器，最高主頻可達(dá)1.6GHz，硬件VPU支持1080P H.264，內(nèi)置NPU算力最高可達(dá)3.0 TOPs）！核心板設(shè)計(jì)資料、生產(chǎn)資料全部開放！包含核心板原理圖、PCB、BOM、Linux內(nèi)核所有驅(qū)動源碼、文件系統(tǒng)等！ 武漢萬象奧科為NXP..

  AIoT AIoT芯片 物聯(lián)網(wǎng) 780瀏覽量

• 開發(fā)板中的內(nèi)存壓力測試，你了解多少？2023-03-15 09:56

  

  內(nèi)存壓力測試的目的是評估開發(fā)板中的內(nèi)存子系統(tǒng)性能和穩(wěn)定性，以確保它能夠滿足特定的應(yīng)用需求。開發(fā)板通常用于嵌入式系統(tǒng)、物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備、嵌入式智能家居等場景，這些場景對內(nèi)存的要求通常比較高。

  RK3568 壓力測試 開發(fā)板 測試 1518瀏覽量

• G2L千兆網(wǎng)性能測試2023-03-14 09:24

  

  通過長時(shí)間運(yùn)行iperf3測試，可以測試評估板在高負(fù)載和長時(shí)間使用下的表現(xiàn)，并幫助開發(fā)人員發(fā)現(xiàn)潛在的網(wǎng)絡(luò)問題和性能瓶頸。此外，iperf3測試還可以幫助開發(fā)人員優(yōu)化網(wǎng)絡(luò)性能，提高網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的吞吐量和穩(wěn)定性，從而提升系統(tǒng)的可靠性和性能。

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• 超詳細(xì)!工業(yè)級RK3568核心板性能測試與壓力測試記錄2023-03-10 16:59

  

  該程序需要在空閑的機(jī)器上運(yùn)行才能精確的獲取到設(shè)置的CPU負(fù)載率，如果有其他占用CPU的進(jìn)程在運(yùn)行則實(shí)際的利用率會比設(shè)定值要高，所以與實(shí)際設(shè)置的CPU負(fù)載率存在一定的誤差。

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