失效分析是指研究產品潛在的或顯在的失效機理,失效概率及失效的影響等,為確定產品的改進措施進行系統的調查研究工作,是可靠性設計的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:233510 失效分析(FA)是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051332 `本文將普通的LED的功能和設計總結,指出一些常見的故障原因,并介紹適合每個類型的故障修復方法。】LED 失效分析報告(英文)[hide][/hide]`
2011-10-25 16:13:54
原因均會導致LED光源發黑的現象。由于缺乏專業的檢測設備和人員,大多數LED公司做黑化失效分析時通常是靠經驗和和猜測,缺乏科學的檢測數據。針對此現象,金鑒檢測推出LED光源黑化初步診斷的業務,旨在2
2014-10-23 10:12:00
原因均會導致LED光源發黑的現象。由于缺乏專業的檢測設備和人員,大多數LED公司做黑化失效分析時通常是靠經驗和和猜測,缺乏科學的檢測數據。針對此現象,金鑒檢測推出LED光源黑化初步診斷的業務,旨在2
2014-10-23 10:14:42
原因均會導致LED光源發黑的現象。由于缺乏專業的檢測設備和人員,大多數LED公司做黑化失效分析時通常是靠經驗和和猜測,缺乏科學的檢測數據。針對此現象,金鑒檢測推出LED光源黑化初步診斷的業務,旨在2天時
2014-10-23 10:04:40
不當使用都可能會損傷芯片,使得芯片在使用過程中出現失效。芯片失效涉及的分析非常復雜、需要的技術方法較多。 金鑒實驗室擁有一支經驗豐富的LED失效分析技術團隊,針對LED芯片失效分析,金鑒實驗室首先會明確
2020-10-22 09:40:09
不當使用都可能會損傷芯片,使得芯片在使用過程中出現失效。芯片失效涉及的分析非常復雜、需要的技術方法較多。 金鑒實驗室擁有一支經驗豐富的LED失效分析技術團隊,針對LED芯片失效分析,金鑒實驗室首先會明確
2020-10-22 15:06:06
,形成反復迭代升級的有效循環模式;再通過第④步進行復現性實驗,驗證根因;最終輸出失效分析報告,對失效根因給出針對性的改善方案。第二步:失效根因故障樹建立以化學沉鎳金板金面可焊性不良為例,闡述建立失效
2020-03-10 10:42:44
內容包含失效分析方法,失效分析步驟,失效分析案例,失效分析實驗室
2020-04-02 15:08:20
`失效分析方法累積1.OM 顯微鏡觀測,外觀分析2.C-SAM(超聲波掃描顯微鏡)(1)材料內部的晶格結構,雜質顆粒,夾雜物,沉淀物,(2) 內部裂紋。(3)分層缺陷。(4)空洞,氣泡,空隙等。3.
2020-03-28 12:15:30
多種可靠性測試手段,對樣品進行精準、充分的失效分析顯得尤為重要 杭州柘大飛秒檢測技術有限公司立足浙江大學國家大學科技園光與電技術開放實驗室,利用飛秒檢測技術,通過觀測分子、原子、電子、原子核等粒子飛秒
2017-12-01 09:17:03
`1. 芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bondpads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。2. SEM
2019-11-22 14:27:45
為一體的公司。汐源科技失效分析技術:開蓋(Decap)、I/V測試、FIB電路修改、RA高低溫實驗、SEM/EDX檢測等項目。并且提供快速封裝服務。汐源科技電子材料:灌封膠:洛德、漢高、道康寧
2016-04-24 19:58:56
(2)完全失效 (3)輕度失效 (4)危險性(嚴重)失效 (5)災難性(致命)失效 失效分析的分類 失效分析的分類一般按分析的目的不同可分為: (1) 狹義的失效分析 主要目
2011-11-29 16:46:42
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX
2019-12-16 10:16:21
分析委托方發現失效元器件,會對失效樣品進行初步電測判斷,再次會使用良品替換確認故障。如有可能要與發現失效的人員進行交流,詳細了解原始數據,這是開展失效分析工作關鍵一步。確認其失效機理,失效機理是指失效
2020-08-07 15:34:07
失效分析案例案例1:大電流導致器件金屬融化 某產品在用戶現場頻頻出現損壞,經過對返修單板進行分析,發現大部分返修單板均是某接口器件失效,對器件進行解剖后,在金相顯微鏡下觀察,發現器件是由于EOS導致
2009-12-01 16:31:42
步驟和內容芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM 掃描電鏡
2016-05-04 15:39:25
靜電的產生及來源是什么 靜電敏感由什么組成 靜電放電損傷特征是什么 ESD、EOS與缺陷誘發失效如何鑒別
2021-03-11 07:55:13
`v失效:產品失去規定的功能。v失效分析:為確定和分析失效器件的失效模式,失效機理,失效原因和失效性質而對產品所做的分析和檢查。v失效模式:失效的表現形式。v失效機理:導致器件失效的物理,化學變化
2011-11-29 17:13:46
:樣品本體顏色會出現紅藍色,則會再次對可疑樣品進行掃描確認。(超聲波掃描后的樣品成像如圖)元器件及IC產品失效分析不止MLCC失效分析,專業實驗室還可以對其他電子元器件及IC產品進行失效分析。檢測創新
2020-03-19 14:00:37
及PCBA的失效現象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產品質量,改進生產工藝,仲裁失效事故有重要意義。2、服務對象印制電路板及組件(PCB&PCBA)生產商:確認
2020-02-25 16:04:42
程中出現了大量的失效問題。對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。1.外觀檢查外觀檢查就是目測
2018-11-28 11:34:31
在生產和應用過程中出現了大量的失效問題。對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。1.外觀檢查
2020-04-03 15:03:39
程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,為此,作為PCB打樣行業的資深企業,深圳捷多邦科技有限公司
2018-09-12 15:26:29
/透射電鏡,EDS能譜等分析手段對可靠性試驗后不良失效線路板樣品進行分析。PCB常見不良失效現象:鍍層開路、鍍層裂紋、鍍層空洞、柱狀結晶、孔壁分離等失效分析,金鑒實驗室面向PCB板廠,藥水廠商等客戶,可提供
2021-08-05 11:52:41
,Interposer+TSV,PoP,甚至WLP等,與其對應的新失效模式也層出不窮,因此封裝級別的失效分析顯得日趨重要。有些封測領域的大廠已經擁有自己的失效分析實驗室,而有些工廠則在搭建中或沒有自己的實驗室,只能依靠
2016-07-18 22:29:06
檢驗的經驗和設備,通常不對芯片進行來料檢驗,在購得不合格的芯片后,往往只能吃啞巴虧。金鑒檢測在累積了大量LED失效分析案例的基礎上,推出LED芯片來料檢驗的業務,通過運用高端分析儀器鑒定芯片的優劣情況
2015-03-11 17:08:06
的失效分析和技術咨詢。金鑒實驗室擁有專業的團隊、技術與積累的行業經驗,能夠準確快速的找到可靠性測試或者認證測試后燈具失效的原因。通過失效分析確定LED的失效機制,在生產工藝以及應用層面進行研究改善
2019-08-31 15:56:31
芯片側面形成枝晶狀遷移路徑,并最終橋連LED有源區P-N結,從而使芯片處于離子導電狀態,造成漏電甚至短路故障。金鑒檢測LED品質實驗室積累大量失效分析案例,站在全行業角度上,有效預警,規范行業發展,幫助
2015-06-19 15:28:29
,注重溝通,講求團隊合作以達到工作目標5、思維敏捷、細致、條理清晰候選人來源: 失效分析實驗室(IST/MAtek)、IC design house 、FAB(TSMC、UMC )
2013-07-24 19:01:18
的對應,定位缺陷位置。該方法常用于LED芯片內部高阻抗及低阻抗分析,芯片漏電路徑分析。金鑒實驗室LED芯片漏電失效點分析(Obirch+FIB+SEM)檢測報告數據!
2021-02-26 15:09:51
在此事件中做出的貢獻。其實,在LED照明行業的人早有所聞,金鑒實驗室公司做為第三方專業檢測機構一直匍匐在LED照明行業里,默默為LED照明行業的健康發展耕耘,在LED失效分析市場占有率為80%。近來
2018-10-10 20:13:39
效率下降,熒光粉層與灌封硅膠之間的脫層最高可使取光效率下降20%以上。硅膠與基板之間的脫層甚至有可能導致金線斷裂,造成災難性失效。 通過有關高濕環境實驗研究發現,濕氣的侵入不但使得LED光效下降,而且
2018-02-05 11:51:41
缺陷失效、誤用失效和超負荷失效。產品的種類和狀態繁多,失效的形式也千差萬別。因此對失效分析難以規定統一的模式。失效分析可分為整機失效分析和零部件殘骸失效分析,也可按產品發展階段、失效場合、分析目的進行
2011-11-29 16:39:42
、電測并確定失效模式3、非破壞檢查4、打開封裝5、鏡驗6、通電并進行失效定位7、對失效部位進行物理、化學分析,確定失效機理。8、綜合分析,確定失效原因,提出糾正措施。1、收集現場數據應力類型試驗方法
2016-12-09 16:07:04
。連接性失效包括開路、短路以及電阻值變化。這類失效容易測試,現場失效多數由靜電放電(ESD)和過電應力(EOS)引起。電參數失效,需進行較復雜的測量,主要表現形式有參數值超出規定范圍(超差)和參數不穩定
2016-10-26 16:26:27
上海華碧檢測技術有限公司-蘇州實驗室作為國內最大的微電子失效分析與可靠性技術服務平臺,上海華碧檢測技術有限公司以服務客戶提高電子產品可靠性水平為己任,為客戶打造永遠的研發、試制
2009-03-30 15:38:19
,對集成電路展開失效分析相關實驗分析時勢必要涉及這些相關產業。實驗室也可以提供非集成電路樣品的微區觀測,元素鑒別,樣品形貌處理,斷層分析等相關服務。 失效分析主要項目: 金相顯微鏡/體式顯微鏡:提供
2020-05-15 10:49:58
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,SAT,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX
2020-09-01 16:19:23
和內容芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM 掃描電鏡
2011-11-29 11:34:20
和內容芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM 掃描電鏡
2013-01-07 17:20:41
元器件失效分析的幾個關鍵點
2021-06-08 06:12:14
`以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應用,但廣泛的應用場景也意味著可能會出現各種各樣令人頭疼的失效情況,進而導致機械設備發生故障!因此,正確分析電力電子器件的失效情況,對于
2019-10-11 09:50:49
都沒有發現類似的爆板失效,試驗后的樣品的顏色也沒有實際失效的樣品深。同時用熱分析方法(TGA 和DSC)對爆板區域的材質進行,發現該材質的熱分解溫度和玻璃態轉化溫度均符合材質的技術規范。根據以上分析
2012-07-27 21:05:38
或整機測試﹑實驗條件幾程序﹐甚至以此為根據不合格的組件供貨商。因此﹐失效分析對加快電子元器件的研制速度 ﹐提高元器件的整機的成品率和可靠性有重大意義。[size=17.1429px][size
2019-07-16 02:03:44
2001年畢業于中國科學院上海微系統與信息技術研究所,材料物理博士。曾任職上海新代車輛技術有限公司電子封裝和質量中心部項目經理和技術經理;現任職于某知名公司失效分析實驗室經理。在電子產品可靠性和失效分析領域具有豐富
2010-10-19 12:30:10
選取、缺陷定位、電性能分析、納米探針分析元器件性能等環節。杭州柘大飛秒檢測技術有限公司立足浙江大學國家大學科技園光與電技術開放實驗室,利用飛秒檢測技術,通過觀測分子、原子、電子、原子核等粒子飛秒級
2017-12-07 16:28:00
,即去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備。 封裝去除范圍包括普通封裝
2013-06-24 17:04:20
標題:芯片失效分析方法及步驟目錄:失效分析方法失效分析步驟失效分析案例失效分析實驗室介紹
2020-04-14 15:08:52
在一個管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構。實驗室主要對集成電路進行相關的檢測分析服務。 集成電路的相關產業,如材料學,工程學,物理學等等,集成電路的發展與這些相關產業密不可分,對集成電路展開失效
2020-04-07 10:11:36
`芯片失效分析探針臺測試簡介:可以便捷的測試芯片或其他產品的微區電信號引出功能,支持微米級的測試點信號引出或施加,配備硬探針和牛毛針,宜特檢測實驗室可根據樣品實際情況自由搭配使用,外接設備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
聲學顯微鏡,是利用超聲波探測樣品內部缺陷,依據超聲波的反射找出樣品內部缺陷所在位置,這種方法主要用主集成電路塑封時水氣或者高溫對器件的損壞,這種損壞常為裂縫或者脫層。二、有損失效分析技術1. 打開
2020-05-18 14:25:44
條件好,還能確認是電過應力損壞還是靜電損壞。知道了這兩點就可以幫助開發人員檢查設計,而如果是靜電損傷,則可改善生產使用的防護條件了。 如果想要再進一步分析,則需要建立一個金相分析實驗室了。這所需要的設備
2011-12-01 10:10:25
失效分析屬于芯片反向工程開發范疇。芯片失效分析主要提供封裝去除、層次去除、芯片染色、芯片拍照、大圖彩印、電路修改等技術服務項目 失效分析流程: 1、外觀檢查,識別crack,burnt
2012-09-20 17:39:49
步驟和內容1,芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。2,SEM
2020-04-24 15:26:46
?芯片級失效分析方案turnkey?芯片級靜電防護測試方案制定與平臺實驗設計?靜電防護失效整改技術建議?集成電路可靠性驗證?材料分析技術支持與方案制定半導體材料分析手法業務咨詢及技術交流:李紹政 lisz@grgtest.com
2020-04-26 17:03:32
:FIB切片芯片測試分析案例金鑒實驗室的FIB小組趙工一大早趕到實驗室做芯片制樣做聚焦離子束 FIB切片芯片分析測試設備:這臺是蔡司家的雙束聚焦離子FIB-SEM 測試的效果,(棒棒噠,有沒有^-^)對芯片
2021-08-05 12:11:03
失效預防及失效分析(由金鑒實驗室羅工整理)PCB檢測(可焊性、錫須、抗拉/剪切強度、染色起拔、切片、電遷移等)可靠性與環境試驗(溫循、鹽霧、振動沖擊)失效分析(潤濕不良、爆板、分層、CAF、開路、短路)可靠性評價
2019-10-30 16:11:47
的事實清楚、邏輯推理嚴密、條理性強,切忌憑空想象。 分析的過程中,注意使用分析方法應該從簡單到復雜、從外到里、從不破壞樣品再到使用破壞的基本原則。只有這樣,才可以避免丟失關鍵信息、避免引入新的人為的失效
2018-09-20 10:59:15
瑕疵原因之分析服務C/P , F/T ,PCBA 等流程后之樣品分析服關于宜特:iST宜特始創于1994年的***,主要以提供集成電路行業可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海,全球現已有7座實驗室12個服務據點,目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
2018-08-16 10:42:46
鋰電池正極片氬離子拋光(CP離子研磨)制樣后效果圖(正極片氬離子拋光制樣后效果圖-如上圖所示-金鑒實驗室羅工提供)鋰電池負極片氬離子拋光(CP離子研磨)制樣后效果圖(負極片氬離子拋光制樣后效果圖-如上圖所示-金鑒實驗室羅工 提供)電池隔膜氬離子拋光制樣后效果圖
2020-12-16 15:47:23
概述了滾動軸承失效分析的基本概念及意義;著重論述了失效的基本模式、影響軸承失效的因素、軸承失效分析的工作思路及方法;對軸承失效預測預防的前景也做了一些探討。
2009-12-18 11:21:4550 失效分析中的模式思維方法:對事故模式和失效模式的歸納總結,從中引伸出預防事故或失效的新認識或新概念.關健詞:失效模式;失效分析;安全性工程
2009-12-18 11:28:1034 LED失效分析方法簡介
和半導體器件一樣,發光二極管(LED)早期失效原因分析是可靠性工作的重要部分,是提高LED可靠性的積極主動的
2009-11-20 09:43:531357 針對一般失效機理的分析可提高功率半導體器件的可靠性. 利用多種微分析手段, 分析和小結了功率器件芯片的封裝失效機理. 重點分析了靜電放電( electrostatic d ischarge, ESD)導致的功率器
2011-12-22 14:39:3267 判斷失效的模式, 查找失效原因和機理, 提出預防再失效的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 熱分析技術在PCB失效分析的應用介紹
2017-04-13 08:38:041 ,光衰加重,甚至出現死ce燈現象,靜電對LED品質有非常重要的影響。LED的抗靜電指標絕不僅僅是簡單地體現它的抗靜電強度,LED的抗靜電能力與其漏電值、整體可靠性有很大關系,更是一個整體質素和可靠性的綜合體現。因為往往抗靜電高的LED,它的光特性、電特性
2017-10-12 18:00:3210 你知道LED靜電失效原理和檢測方法嗎?隨著LED業內競爭的不斷加劇,LED品質受到了前所未有的重視。
2020-08-01 09:22:111274 電子產品在生產制造過程中的靜電放電損傷是引起半導體器件失效的重要原因。產品在生產線上出現批量下線時,應當懷疑是否由于靜電放電引起。這種情況,不僅需要對生產線進行排查,而且需要對失效器件開展深入分析
2021-01-12 21:04:0035 IC集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。華碧實驗室整理資料分享芯片IC失效分析測試。
2021-05-20 10:19:202646 現。因為往往抗靜電高的LED,它的光特性、電特性都會好。金鑒實驗室為LED產業客戶提供第三方LED抗靜電能力測試服務,協助客戶采購到高質量的產品。
2021-07-15 15:40:27854 使得LED燈具經常出現大批量的LED失效現象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效,二是來源于LED器件本身的失效,若需要充分分析這類失效,牽涉到光學、化學、材料學、電子物理學等領域的專業知識,并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-04 10:15:32560 哲學上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產和使用過程中往往受到各種應力和環境因素的影響,達不到預期的壽命或功能,即發生失效現象。失效分析是一門新興發展中的學科,在提高產品質量
2021-11-04 10:13:37571 不當使用都可能會損傷芯片,使得芯片在使用過程中出現失效。芯片失效涉及的分析非常復雜、需要的技術方法較多。 ? 金鑒實驗室擁有一支經驗豐富的LED失效分析技術團隊,針對LED芯片失效分析,金鑒實驗室首先會明確分析對象的背景,確認
2021-11-01 11:14:411728 相對于LED光源來說,LED驅動電源的結構更復雜,需要權衡的地方會更多,使得LED驅動電源往往比LED光源先失效。據統計,整燈失效中超過80%的原因是電源出現了故障。經過金鑒實驗室長期的實證分析
2021-11-01 15:16:321862 失效分析在產品的可靠性質量保證和提高中發揮著重要作用,在產品的研發、生產、使用中都需要引入失效分析工作。金鑒實驗室提供電子元器件失效分析的檢測服務,金鑒實驗室擁有專業LED質量工程師團隊及高精度電子
2021-11-01 10:56:011327 結合金鑒實驗室的大數據分析總結,金鑒工程師總結出關于燒燈珠失效分析,并且金鑒實驗室對此特推出燒燈珠失效分析檢測服務,總結了以下可能的一些原因: 1.芯片內部缺陷。 2.引線鍵合工藝不當,鍵合線尺寸
2021-11-04 10:05:18515 談談UV LED失效分析案子,金鑒實驗室提供 “UV LED失效分析檢測” 服務,找出的原因有哪些: ? 1. 發熱量大 ? 目前UV LED的發光效率偏低,不同的波段,其出光效率不太相同,波段
2021-11-02 17:27:19633 已是影響國內光電產品可靠性的一大要素。光熱分布檢測除了用于表征器材的光熱分布性能,也是失效分析中不可或缺的測試手段,通常應用于LED芯片、燈珠、燈具、電源以及功率器材等各個領域。金鑒實驗室根據行業檢測需求,自主研發了 金鑒顯微光
2021-11-04 10:02:00606 使得LED燈具經常出現大批量的LED失效現象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效,二是來源于LED器件本身的失效,若需要充分分析這類失效,牽涉到光學、化學、材料學、電子物理學等領域的專業知識,并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-06 09:37:06639 哲學上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產和使用過程中往往受到各種應力和環境因素的影響,達不到預期的壽命或功能,即發生失效現象。失效分析是一門新興發展中的學科,在提高產品質量
2021-11-06 09:35:14538 LED(Light emitting diodes)產品在生產與使用過程中,往往容易因各種應力或環境等因素的影響,導致失效不良的產生,即發生LED失效。
針對LED產品發生的失效問題,主要
2022-07-19 09:33:052296 本文主要介紹了芯片失效性分析的作用以及步驟和方法
2022-08-24 11:32:4211860 失效分析是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 SMT PCBA失效分析
2023-01-05 14:18:42914 、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等?。
2023-04-18 09:11:211361 紅光LED芯片是單電極結構,它兩個電極之間的材質、厚度、襯底材料與雙電極的藍綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20424 出現同一類問題是非常可怕的。失效分析基本概念定義:對失效電子元器件進行診斷過程。1、進行失效分析往往需要進行電測量并采用先進的物理、冶金及化學的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機理,提出糾
2021-06-26 10:42:531186 集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發生,提升
2023-06-21 08:53:40572 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發展,各種芯片被廣泛應用于各種工業生產和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112805 1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 ▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04534 金鑒實驗室是半導體行業最知名的第三方檢測機構之一,是專注于第三代半導體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業態科研檢測機構。金鑒實驗室是工業和信息化廳認定的“中小企業LED材料表征與失效分析公共
2022-08-16 14:21:20
評論
查看更多