介紹

　　目前，非信令技術(shù)正方興未艾，主要用于縮減制造測試時間和成本，并且適用于廣泛的技術(shù)。芯片組廠商正在想方設(shè)法為手機制造商提供此類能力。因此開發(fā)針對特定芯片組的專用測試模式，尤其是適合蜂窩驗證測試的測試模式已經(jīng)引起了市場的重視。

　　此前的文章探討了不同測試模式中非信令功能的演進和變化程度，并引入了兩個術(shù)語來描述功能范圍。它們有助于解釋測試工程師縮減測試時間的潛力，而且分別代表非信令領(lǐng)域潛力水平的一極：

　　1.非信令

　　2.快速排序非信令

　　快速排序非信令測試模式能夠顯著地優(yōu)化設(shè)計，最大限度地減少測試時間和成本。

　　受芯片組非信令功能開發(fā)這一趨勢的影響，手機制造商正在尋求指導(dǎo)，以便最大限度地利用這些測試模式的潛力。本文將討論這些測試模式如何影響測試儀器的選擇，包括研發(fā)測試和制造測試。

　　集成這些新的測試模式通常需要引入新的測試技術(shù)。對于非信令測試，引入新的下一代非信令測試設(shè)備有可能帶來額外的收益，主要是該測試模式的技術(shù)優(yōu)勢（見〔1〕中的詳細討論）以及測試設(shè)備的非信令測試技術(shù)。這就是說，信令測試設(shè)備與新一代非信令測試設(shè)備的共存對于能否在整個測試過程中廣泛引入非信令測試至關(guān)重要。

　　非信令測試的出現(xiàn)

　　無線技術(shù)相關(guān)人員可能已經(jīng)認識到使用適合芯片組控制技術(shù)的挑戰(zhàn)。例如，802.11 無線局域網(wǎng)（WLAN）和 IEEE 802.16（WiMAX?）兩種技術(shù)已經(jīng)可以在其整個生命周期中進行測試，但在每個測試階段，尤其是在測試向制造階段過渡的過程中沒有信令或空中（OTA）協(xié)議。Bluetooth? 制造測試在向測試過渡的過程中同樣沒有提出信令測試要求。此類芯片組的測試模式為測試工程師提供了充分的自由，使他們可以讓器件在要求的信道上以特定的預(yù)定義方法發(fā)射和接收信號。這不僅是被測芯片組在制造測試校準階段的一個特性，而且適用于驗證測試。在驗證測試階段，器件有時會產(chǎn)生預(yù)定義序列。

　　芯片組控制可以優(yōu)化蜂窩器件的開發(fā)與測試，并可將多個頻段和制式整合到單個芯片組或解決方案中。新出現(xiàn)的芯片組不再需要 OTA 協(xié)議，并集成了特定的功能，能夠幫助測試工程師驗證測試排序，從而節(jié)約測試時間。

　　隨著下一代芯片組逐步普及，測試廠商正在尋求支持下一代測試技術(shù)的測試儀器。與無線測試技術(shù)的演進模式類似，為了滿足特定測試模式的要求，芯片組設(shè)計人員與測試設(shè)備制造商之間的合作十分重要。借助目前芯片廠商之間現(xiàn)有的聯(lián)系，測試設(shè)備制造商可以提供實現(xiàn)非信令測試的解決方案。

　　此外，測試廠商已經(jīng)推出了針對特定芯片組的商業(yè)測試解決方案，使制造商可以輕松地將器件和測試設(shè)備集成在一起。

　　當前的趨勢正在朝集成預(yù)定義非信令方向發(fā)展，其中芯片組將可以在驗證測試中輸出跨越不同功率和頻率范圍的各種信號。許多手機已經(jīng)具備預(yù)定義發(fā)射的功能（通常至少可以預(yù)定義功率和頻率），這可以規(guī)范校準測試，縮減器件設(shè)置時間，進而縮減測試時間。目前特定芯片組的非信令測試模式和技術(shù)正不斷涌現(xiàn)，其主要目的在于縮短蜂窩器件的驗證測試時間。蜂窩驗證測試是這些技術(shù)的下一個用武之地，它們能夠縮短校準階段中的測試時間。

　　但是，芯片組廠商必須先開發(fā)出測試模式，以供手機制造商使用。芯片組廠商在測試模式中添加的非信令功能越多，則制造測試工程師可能節(jié)約的時間越多。

　　引入下一代測試技術(shù)

　　鑒于非信令測試模式被認為是縮減測試時間的一種手段，下一代制造測試技術(shù)的要求正在發(fā)生顯著變化。芯片組廠商和手機制造商目前處于不同的非信令測試模式整合階段，因此非信令測試整合也處于不同階段。芯片組廠商正在為新測試模式開發(fā)功能，并將新的特性傳遞至手機制造商，因此手機制造商需要將新開發(fā)的功能整合到制造測試過程中。引入非信令（如圖 1 所示）從部分程度上講是一種過渡。測試模式的專用特性和到生產(chǎn)線的后續(xù)整合使得此次過渡與蜂窩技術(shù)上下游的任何實例都不同。快速排序非信令是所有手機制造商的目標，因為這可以產(chǎn)生巨大的成本節(jié)約。實現(xiàn)此目標需要正確選擇測試設(shè)備，以便與技術(shù)要求相匹配，并克服新的挑戰(zhàn)。

　　選擇正確的非信令測試解決方案

　　在非信令領(lǐng)域，器件測試模式的技術(shù)功能會影響對測試儀器的要求。在測試行業(yè)，測試廠商必須提供正確的工具，以便輕松地引入非信令，尤其是在使用多家廠商的芯片組時。這意味著測試設(shè)備要求必須根據(jù)每條生產(chǎn)線上的測試而定，無論測試需要重新使用現(xiàn)有信令/非信令設(shè)備，都要引入新的下一代測試設(shè)備。

　　貫穿非信令測試周期的任意波形文件信號設(shè)計

　　除了適合的測試設(shè)備硬件之外，非信令測試還需要信號設(shè)計軟件包。下一代非信令測試設(shè)備使用任意波形文件向器件傳輸信號，這對測試設(shè)備提供下行鏈路（DL）的方法進行了大幅改變，并對研發(fā)和制造測試工程師提出了挑戰(zhàn)。

　　使用全面的信號創(chuàng)建工具可以解決這一問題，這些工具能***測試模式的要求。對于研發(fā)工程師來說，這些工具必須提供廣泛的功能；對于制造工程師來說，它們必須提供關(guān)鍵信號參數(shù)以及易于使用的接口，以便獲得良好的靈活性。為非信令提供廣泛測試功能的信號設(shè)計工具必須能夠簡化非信令引入過程，并為手機制造商提供幫助。測試廠商可以通過與芯片組廠商以及手機制造商合作來解決關(guān)鍵需求，從而提供此類的專用軟件包。