隨著集成電路設(shè)計(jì)方法與工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，集成電路的可測性已經(jīng)成為提高產(chǎn)品可靠性和成品率的重要因素。文中針對遙測產(chǎn)品中信號處理器的設(shè)計(jì)原理，通過增加BIT以提高信號處理器的測試覆蓋率。
2016-01-19 09:28:38
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代碼覆蓋分析是一種白盒測試方法，因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">覆蓋分析需要訪問測試代碼本身，且經(jīng)常需要重新編譯程序，以程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)來設(shè)計(jì)測試案例。其基本準(zhǔn)則是測試案例要盡可能多地覆蓋程序的內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)，發(fā)現(xiàn)其中的錯誤
2020-09-21 17:36:513315 
作者：默宸? Modelsim代碼覆蓋率功能Code coverage，能報告出statement（語句）、branch（分支）、condition（條件）、expression（表達(dá)
2020-12-09 11:45:054791 度還是從功能安全角度。 對于安全可靠的嵌入式設(shè)備，測試是質(zhì)量保證不可或缺的一部分。 安全關(guān)鍵型軟件開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)對測試方法和測試覆蓋率設(shè)定了精確要求，這并非沒有道理。 通常，應(yīng)用程序越關(guān)鍵，對代碼覆蓋率的要求就越高。 最重要
2022-07-14 14:50:221070 
當(dāng)SoC上有超過80%的芯片面積被各種形式的存儲器占用之時，存儲器的DFT測試已經(jīng)變得非常重要。
2023-12-09 09:56:551201 
在做仿真的時候往往會去做代碼覆蓋率和功能覆蓋率的分析，來保證仿真是做的比較充分完備的。
2024-01-03 12:34:26472 
這里有沒有大神開1688店鋪?zhàn)龅暮芎玫模笸扑]方法！提高店鋪的曝光率和成交率！我是新手小白，希望大神多多指教！謝謝！
2017-11-22 10:16:08
DFT:全稱是 Design for Test，可測性設(shè)計(jì)，通過在芯片原始設(shè)計(jì)中插入各種用于提高芯片可測試性（包括可控制性和可觀測性）的硬件邏輯，從而使芯片變得容易測試，大幅度節(jié)省芯片測試的成本
2021-07-23 07:28:32
雖然可測性設(shè)計(jì)(DFT)與內(nèi)置自檢(BIST)技術(shù)已在SoC(系統(tǒng)級芯片)設(shè)計(jì)中受到廣泛關(guān)注，但仍然只是被看作“后端”的事。實(shí)際上，這些技術(shù)在器件整個設(shè)計(jì)周期中都非常重要，可以保證產(chǎn)品測試錯誤覆蓋率
2011-12-15 09:53:14
設(shè)計(jì)中插入各種用于提高芯片可測試性（包括可控制性和可觀測性）的硬件邏輯，從而使芯片變得容易測試，大幅度節(jié)省芯片測試的成本。DFT工程師經(jīng)典教程書籍 [hide][/hide]
2012-01-11 14:33:22
dft可測試性設(shè)計(jì)，前言可測試性設(shè)計(jì)方法之一：掃描設(shè)計(jì)方法可測試性設(shè)計(jì)方法之二：標(biāo)準(zhǔn)IEEE測試訪問方法可測試性設(shè)計(jì)方法之三：邏輯內(nèi)建自測試可測試性設(shè)計(jì)方法之四：通過MBIST測試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
汽車PCB企業(yè)在測試過程中采用的一些典型技術(shù)：一些PCB制造商采用“二次測試”來提高第一次高壓沖擊后有缺陷的電路板的發(fā)現(xiàn)率。2.故障板上的防呆測試系統(tǒng)越來越多的PCB制造商在光板測試機(jī)上安裝了“功能板
2018-11-17 10:44:54
隨著芯片特征尺寸的縮小和電路復(fù)雜程度的增加，有阻開路和有阻橋接缺陷的數(shù)目也在增加。同時，隨著器件密度、復(fù)雜性和時鐘速度的增加，邏輯測試技術(shù)已不能提供足夠的故障覆蓋率。為了彌補(bǔ)傳統(tǒng)測試方法的不足
2019-09-18 07:31:31
在systemverilog中，對于一個covergroup來說，可能會有多個instance，我們可能需要對這些instance覆蓋率進(jìn)行操作。 只保存covergroup type的覆蓋率
2023-03-21 14:24:14
仿真VCO時候，開關(guān)電容陣列中開關(guān)電容的值取30fF，子帶呈現(xiàn)不規(guī)律變化。當(dāng)取100fF時，子帶才呈現(xiàn)比特位控制那樣規(guī)律變化，但這樣子帶覆蓋率會存在問題。求遇到過同樣問題的大神解答下！感謝!
2021-06-25 06:19:25
進(jìn)行測試。 - 這些電阻在“board.o”文件中具有“放置”和“可測試”的屬性，它們包含在“testorder”和“testplan”文件中。所以，問題是：為什么覆蓋率分析師沒有證明這些電阻器已經(jīng)
2019-01-07 16:06:45
在做RTL仿真驗(yàn)證時，覆蓋率收集往往是我們在驗(yàn)證中需要注意的地方，本篇就SpinalHDL中的驗(yàn)證覆蓋率收集做一個簡單說明。sbt配置在SpinalHDL里進(jìn)行仿真驗(yàn)證時，我們的待測試代碼會生
2022-06-24 15:56:45
直接使用目標(biāo)機(jī)代碼進(jìn)行單元測試聯(lián)合靜態(tài)解析工具[CasePlayer2]，提供C0（語句）,C1（判定）,MC/DC覆蓋率報告，優(yōu)化測試用例制作已取得第三方認(rèn)證機(jī)構(gòu)TUVSUD對適用于汽車機(jī)能安全
2022-06-17 18:26:57
，基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH-G算法的測試時間開銷大大降低。同時，故障覆蓋率會隨著種子數(shù)目的增加而提高，當(dāng)然不同種子數(shù)時所需要的測試時間開銷也不同。在實(shí)際測試應(yīng)用中要根據(jù)測試時間和測試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果。【解密專家+V信：icpojie】
2017-06-28 11:25:02
)方法2 方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH—G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率，但是所需要的測試時間是很大
2011-04-15 09:29:48
1 簡介隨著設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度不斷增加，要求把更多的資源放到驗(yàn)證上，不但要求驗(yàn)證能夠覆蓋所有的功能，還希望能夠給出大量的異常情況來檢查DUT對應(yīng)異常的處理狀態(tài)，這在傳統(tǒng)測試方法下往往是難以實(shí)現(xiàn)的。此外
2019-07-03 07:40:26
方法對循環(huán)優(yōu)化的針對性不足.提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于參數(shù)化分支時序邏輯(pCTL)的循環(huán)優(yōu)化測試用例自動生成方法.并用生成的測試用例對GCC-4.1.1進(jìn)行覆蓋率測試,結(jié)果表明該方法可以生成具有很高針對性
2010-04-24 09:51:28
基于掃描的DFT方法掃描設(shè)計(jì)的基本原理是什么？掃描設(shè)計(jì)測試的實(shí)現(xiàn)過程是怎樣的？基于掃描的DFT對芯片測試的影響有哪些？
2021-05-06 09:56:36
提高DFT設(shè)計(jì)測試覆蓋率的有效方法是什么
2021-05-07 06:37:41
在邊界掃描機(jī)制引入電路設(shè)計(jì)的前提下，如何增加板級互連的故障診斷覆蓋率？
2021-04-26 06:37:15
改善5G覆蓋率的方法
2020-12-15 07:52:51
代碼執(zhí)娜行覆蓋情況的功能，來檢測代碼中未執(zhí)行覆蓋情況。在覆蓋率分析時需要分析嵌入式軟件的指令覆蓋率、指令函數(shù)覆蓋率、指令函數(shù)分支覆蓋率、源代碼行覆蓋率、源代碼函數(shù)覆蓋率、源代碼函數(shù)分支覆蓋率。通過覆蓋率
2021-12-17 07:27:44
的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測試功耗低,故障覆蓋率較高的特點(diǎn)。RAM測試方法方法1:給出一種測試系統(tǒng)ram的方法,該方法是分兩步來檢查
2022-02-23 06:48:46
怎么提高非隨機(jī)圖形設(shè)計(jì)的故障覆蓋率？為LBIST設(shè)計(jì)提高故障檢測能力的技術(shù)是什么？
2021-05-08 07:11:55
評估功能測試的故障覆蓋率推廣邊界掃描技術(shù)電路板的彎曲方式
2021-04-23 07:15:39
百分之百的覆蓋率。另外，結(jié)構(gòu)測試向量在DFT應(yīng)用過程中起著至關(guān)重要的作用，為了得到高效率的此類測試向量，需要在設(shè)計(jì)階段實(shí)現(xiàn)特定的輔助性設(shè)計(jì)；通過增加一定的硬件開銷，獲得最大可測試性。而此類的輔助性設(shè)計(jì)就包括掃描鏈
2016-05-25 15:32:58
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 16:25 編輯
MCU型號：RM48目標(biāo)功能：實(shí)現(xiàn)對時鐘的高覆蓋率診斷背景描述：1. 根據(jù)IEC61508-2：2010對時鐘高覆蓋率診斷
2018-05-22 01:58:19
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 14:58 編輯
最近有RM48芯片做的產(chǎn)品，需要對它的可靠性進(jìn)行評估，但是如何獲得它的失效率λ故障覆蓋率呢？只知道這個芯片滿足SIL3等級，SIL3PFD 10-4~10-3PFH10-8~10-7
2018-05-22 07:30:38
隨著電子電路集成度的提高，電路愈加復(fù)雜，要完成一個電路的測試所需要的人力和時間也變得非常巨大。為了節(jié)省測試時間，除了采用先進(jìn)的測試方法外，另外一個方法就是提高設(shè)計(jì)本身的可測試性。其中，可測試性包括
2011-12-15 09:32:30
較麻煩，工程師們需要針對各種各樣的功能和應(yīng)用場景，使用SV等驗(yàn)證語言去實(shí)現(xiàn)覆蓋率模型（Coverage Model）或斷言（Assertion），并且從大量的回歸測試（Regression）中采集
2022-09-14 11:57:52
本文首先介紹RVM驗(yàn)證方法學(xué)和覆蓋率驅(qū)動技術(shù)，然后詳細(xì)分析如何使用結(jié)合覆蓋率驅(qū)動技術(shù)的RVM驗(yàn)證方法學(xué)對SOC(System On Chip)進(jìn)行完備的功能驗(yàn)證, 最
2009-09-05 08:53:00
15 如何有效地在ATE上提高DDR存儲器接口測試覆蓋率葉慶, 郭錚, 楚中曙, 粟涯上海交通大學(xué)微電子學(xué)院，上海，中國，200122摘要：雙倍數(shù)據(jù)速率（ DDR， Double Data Rate）DRAM由于其速
2009-12-15 14:58:2231 針對功能覆蓋率的驗(yàn)證過程神州龍芯集成電路設(shè)計(jì)公司徐偉俊 楊鑫 陳先勇 夏宇聞[摘要]：本文在介紹傳統(tǒng)驗(yàn)證過程及其局限性的基礎(chǔ)上，闡述了針對功能覆蓋率驗(yàn)證（co
2009-12-23 16:12:4413 DFT:數(shù)字電路(fpga/asic)設(shè)計(jì)入門之可測試設(shè)計(jì)與可測性分析,離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer
可測試性技術(shù)（Design For Testability-
2010-06-07 11:00:4829865 本文通過對一種控制芯片的測試，證明通過采用插入掃描鏈和自動測試向量生成(ATPG)技術(shù)，可有效地簡化電路的測試，提高芯片的測試覆蓋率，大大減少測試向量的數(shù)量，縮
2010-09-02 10:22:522024 
安捷倫科技公司日前宣布推出一款快速易用的測試覆蓋率預(yù)測工具：N1194A 安捷倫測試覆蓋率顧問(ATCC)軟件.
ATCC 軟件可以執(zhí)行兩個重要任務(wù)。首先，該軟件可以在完
2011-01-10 09:42:18610 ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測試相關(guān)的問題上，以達(dá)到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對嵌入式R
2011-05-28 11:56:591356 
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn)，然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗(yàn)證方法，最后
2011-06-29 10:46:0622 介紹了 龍芯2號 配套北橋中PCIB ridge的功能驗(yàn)證系統(tǒng)以及功能覆蓋率建模和分析方法。該系統(tǒng)和方法在開發(fā)和驗(yàn)證PCIB ridge模塊過程中發(fā)揮了重要作用，加快了PCI Bridge的開發(fā)速度，協(xié)助發(fā)
2011-06-29 10:57:2228 為了提高大規(guī)模集成電路可測性設(shè)計(jì)(Design For Test，DFT)的故障覆蓋率，減少測試時間，通過分析自我測試(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG，STUMPS)方法中的測試機(jī)制，找出了其測試效果不
2011-10-28 17:18:2061 Verilog代碼覆蓋率檢查是檢查驗(yàn)證工作是否完全的重要方法，代碼覆蓋率（codecoverge）可以指示Verilog代碼描述的功能有多少在仿真過程中被驗(yàn)證過了，代碼覆蓋率分析包括以下分析內(nèi)容。
2012-04-29 12:35:037899 本內(nèi)容介紹了DFT可測試性設(shè)計(jì)的相關(guān)知識，并列舉了3中常見的可測性技術(shù)供大家學(xué)習(xí)
2012-05-30 16:42:277082 使用 Veloce 完成局部系統(tǒng)級協(xié)議檢查和 覆蓋率收斂
2017-09-05 08:39:514 到的點(diǎn)的準(zhǔn)確性，因此驗(yàn)證過程的整體質(zhì)量存在著重大的風(fēng)險。在對問題進(jìn)行一般性介紹后，本文討論了實(shí)際案例，并提出了實(shí)用的解決方案，以提高驗(yàn)證質(zhì)量和最小化風(fēng)險。最后，我們演示了USCIS API的一個應(yīng)用程序來相互參照功能覆蓋率各個方
2017-09-15 10:49:136 不幸的是，在不同的驗(yàn)證抽象級別的環(huán)境中，沒有用于驗(yàn)證功能覆蓋模型的正確性和完整性的銀彈，考慮到覆蓋結(jié)果在驗(yàn)證流程中的重要性，這代表了重要的風(fēng)險。本節(jié)為改進(jìn)方法提供了一些務(wù)實(shí)的指導(dǎo)，包括覆蓋模型構(gòu)造
2017-09-15 10:53:032 如何在開發(fā)IP的同時去鞏固集成和復(fù)用覆蓋率？IP的某些功能和性能是可以配置的，需要考慮的是IP被各種合理配置后的工作是否都能夠正常，將功能覆蓋率先整理為層次化的抽象功能覆蓋率模型，稱之為cover model。
2018-02-18 12:08:002258 通過此視頻可快速瀏覽 PADS DFT 審核的一些主要功能、優(yōu)點(diǎn)和易用性。在設(shè)計(jì)流程的早期使用 PADS DFT 審核可大幅降低 PCB 的批量投產(chǎn)時間，確保 100% 的測試點(diǎn)覆蓋和制造前所有網(wǎng)絡(luò)的可測試性。
2019-05-21 08:06:002927 如果 PCB 制造廠掌握電路板上所有節(jié)點(diǎn)的電氣接入，則無需費(fèi)力構(gòu)建設(shè)計(jì)原型，并可縮短產(chǎn)品上市時間。現(xiàn)在我們將介紹相關(guān)方法，幫助您實(shí)現(xiàn) 100% 的測試覆蓋率。
2019-05-17 06:25:002903 
PADS 可測試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:003018 
基于架構(gòu)和基于流的DFT方法 ASIC設(shè)計(jì)平均門數(shù)的增加迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)花費(fèi)20％到50％的ASIC開發(fā)工作量測試相關(guān)的問題，以實(shí)現(xiàn)良好的測試覆蓋率。雖然遵循設(shè)計(jì)測試規(guī)則被認(rèn)為是一種良好的做法，但是
2023-11-10 17:01:04190 當(dāng)PCB制造商有電氣測試訪問每個節(jié)點(diǎn)板,原型被淘汰并縮短上市時間。這是你能做什么來幫助達(dá)到100%的測試覆蓋率。
2019-11-05 07:10:002697 路徑覆蓋測試是覆蓋測試中的關(guān)鍵測試技術(shù)之一，目前已應(yīng)用于程序覆蓋率分析、測試用例設(shè)計(jì)、程序調(diào)試、性能優(yōu)化等多個方面，是覆蓋程度最高的測試。其基本原理是用最少的測試用例，覆蓋程序中的所有路徑，發(fā)現(xiàn)程序
2020-03-05 10:55:15812 
前言 大家都知道相比其他的協(xié)議，比如Wifi、藍(lán)牙等，LoRa最大的優(yōu)勢就是長距離。那如何才能使他的優(yōu)勢最大化的體現(xiàn)出來，影響的主要因素有哪些？我們需要如何布網(wǎng)LoRa網(wǎng)絡(luò)，才能提高LoRa網(wǎng)絡(luò)覆蓋率
2020-05-21 14:49:281161 
隨著ASIC電路結(jié)構(gòu)和功能的日趨復(fù)雜，與其相關(guān)的測試問題也日益突出。在芯片測試方法和測試向量生成的研究過程中，如何降低芯片的測試成本已經(jīng)成為非常重要的問題。DFT（可測性設(shè)計(jì)）通過在芯片原始設(shè)計(jì)中插入各種用于提高芯片可測性的邏輯，從而使芯片變得容易測試，大大降低了芯片的測試成本。
2020-08-18 14:57:132880 
例一種安全機(jī)制可以在本附件中具有較高的通用典型診斷覆蓋率，但如果所使用的診斷測試間隔大于符合相關(guān)容錯時間間隔所需的診斷測試間隔，則避免違反安全目標(biāo)的具體診斷覆蓋率將低得多。
2020-08-25 15:30:244792 
用元素和測試點(diǎn)補(bǔ)充您的操作設(shè)計(jì)以促進(jìn)電路板的功能測試被稱為可測試性（ DFT ）設(shè)計(jì)。 DFT 與制造設(shè)計(jì)（ DFM ）不應(yīng)混淆，盡管兩者都是基于 CM 設(shè)備和過程能力的設(shè)計(jì)人員活動。 DFM
2020-10-12 20:42:173771 靈動微電子是國內(nèi)專注于MCU微控制器產(chǎn)品與應(yīng)用方案的可靠供應(yīng)商，成立至今的靈動微電子已經(jīng)完成數(shù)百余MCU微控制器產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。 在供應(yīng)商的品質(zhì)管控和提高測試覆蓋率及完備的可靠性測試方面，靈動微做了很多
2020-11-11 15:13:431202 的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測試功耗低，故障覆蓋率較高的特點(diǎn)。 RAM測試方法 方法1：給出一種測試系統(tǒng)ram的方法，該方法是分兩步來檢查，先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)分別送#0
2020-11-17 14:03:032010 12月1日消息，中國電信官方微博今天宣布全杭州城區(qū)已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了5G連續(xù)覆蓋，覆蓋率達(dá)到92%以上，并對西湖景區(qū)、錢江新城、未來科技城、高校、奧體中心等區(qū)域進(jìn)行了重點(diǎn)保障覆蓋。
2020-12-01 16:23:275940 電視節(jié)目覆蓋率接近100%，達(dá)飽和狀態(tài)，傳統(tǒng)廣播電視節(jié)目銷售收入降幅大，為497.66億元，同比下降22.55%。
2020-12-15 16:57:192035 
代碼覆蓋率是衡量軟件測試完成情況的指標(biāo)，通常基于測試過程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-01-06 15:06:532784 
代碼覆蓋率是衡量軟件測試完成情況的指標(biāo)，通常基于測試過程中已檢查的程序源代碼比例 計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測試代碼的程序被發(fā)布。
2021-01-09 11:12:182750 
代碼覆蓋率是衡量軟件測試完成情況的指標(biāo)，通常基于測試過程中已檢查的程序源代碼比例計(jì)算得出。代碼覆蓋率可以有效避免包含未測試代碼的程序被發(fā)布。 1. 問題背景 代碼覆蓋（Code coverage
2021-03-29 11:58:511575 
芯片前端工程中，測試驗(yàn)證的核心理念：以提高覆蓋率為核心。設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC
2021-06-01 10:13:432351 設(shè)計(jì)工程師需要關(guān)心的主要有行覆蓋率（Block），條件覆蓋率（Expression），翻轉(zhuǎn)覆蓋率（Toggle），狀態(tài)機(jī)覆蓋率。本文從ASIC設(shè)計(jì)的角度上來討論，如何寫出高覆蓋率的Verilog代碼。
2022-05-26 17:30:213633 在本文中，我們檢查了掃描壓縮確實(shí)有助于減少 ASIC 設(shè)計(jì)中的測試時間 （DFT），但掃描通道減少也是一種有助于頂層測試時間的方法。
2022-06-02 14:25:091504 
聲明、決策或 MC/DC 覆蓋率等指標(biāo)并不能保證軟件沒有缺陷。如前所述，真正詳盡的測試可能是不可能的，或者至少是不可行的。然而，結(jié)構(gòu)覆蓋率度量可以更好地了解代碼的可靠性和對測試的更大信心。
2022-06-29 10:20:231090 覆蓋測試數(shù)據(jù)生成方法，將否定選擇策略融入遺傳算法，動態(tài)優(yōu)化遺傳算法的種群數(shù)據(jù)，自動生成覆蓋目標(biāo)路徑的測 試數(shù)據(jù)． 多個基準(zhǔn)程序和工業(yè)程序的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，與隨機(jī)方法和遺傳算法比較，文中方法能夠提高路徑覆蓋率，減少
2022-07-10 09:53:170 測量代碼覆蓋率對于嵌入式系統(tǒng)來說越來越重要，但需要一些經(jīng)驗(yàn)。這是因?yàn)橛幸恍┱系K需要克服，尤其是小目標(biāo)。但是，使用正確的方法和合適的工具，無需過多努力即可測量測試覆蓋率。九個實(shí)用技巧可幫助您入門
2022-07-14 15:58:122301 
為了開發(fā)安全可靠的軟件，測試是質(zhì)量保證不可或缺的一部分。如果沒有充分的記錄測試，就不可能確定軟件是否安全且功能是否正確。在這種情況下，代碼覆蓋率（測試覆蓋率）的測量尤為重要。這是因?yàn)樗梢杂脕泶_定
2022-07-20 18:06:361021 
安全關(guān)鍵型軟件標(biāo)準(zhǔn)高度關(guān)注如何有效地測試軟件。他們指出，有效的軟件測試需要一種規(guī)范的方法，其中代碼覆蓋率用于提供有關(guān)迄今為止測試有效性的反饋。應(yīng)用于系統(tǒng)的測試嚴(yán)格程度必須由系統(tǒng)故障的影響決定。后果越嚴(yán)重，測試必須越嚴(yán)格。
2022-11-01 10:46:42686 軟件測試和分析可以被認(rèn)為是由許多相互依賴的部分組成的整體活動。其中包括需求跟蹤、靜態(tài)和動態(tài)分析、編碼標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性等，包括覆蓋范圍分析。歸根結(jié)底，覆蓋率分析應(yīng)該讓我們了解一段代碼的測試程度和徹底程度
2022-11-11 15:02:22335 測試覆蓋率是軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)，也是軟件維護(hù)的重要組成部分。它通過提供不同承保項(xiàng)目的數(shù)據(jù)來幫助評估測試的有效性。這種洞察力允許通過為未經(jīng)測試的代碼定義新的測試用例來改進(jìn)測試，從而提高代碼質(zhì)量，最終增加代碼覆蓋率并降低成本。
2022-12-08 15:13:341063 
DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時， 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。
2023-03-06 14:47:071371 代碼覆蓋率提供的價值是對V&V（Verification & Validation）過程的提升，它可以幫助我們清除代碼中的缺陷，確保每行代碼都已執(zhí)行，從而滿足團(tuán)隊(duì)或者認(rèn)證的要求。這可以大大提高團(tuán)隊(duì)代碼質(zhì)量的安全性和可靠性。
2023-03-31 13:57:56548 下圖是一個典型的EDA仿真驗(yàn)證環(huán)境，其中主要的組件就是激勵生成、檢查和覆蓋率收集。
2023-04-15 10:13:061231 驗(yàn)證覆蓋率（Verification Coverage）的存在是為了試圖回答這樣一個問題：“你怎么知道驗(yàn)證已經(jīng)完成？”
2023-04-17 10:04:542388 DFT是確保芯片在制造過程中具有可測試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時， 不會破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。DFT不友好的ECO會對芯片的測試和調(diào)試帶來很大的困難，可能導(dǎo)致芯片測試效率降低甚至無法測試。
2023-05-05 15:06:371262 
1 代碼覆蓋率概述 覆蓋率（code coverage rate）是反映測試用例對被測軟件覆蓋程度的重要指標(biāo)，也是衡量測試工作進(jìn)展情況的重要指標(biāo)。在代碼邏輯比較復(fù)雜的情況下，測試工作往往只能覆蓋
2023-05-12 22:26:242422 
Helix QAC 2023.1 對 MISRA C:2012修訂版4和MISRA C:2023的覆蓋率為100%，對 AUTOSAR C++14的覆蓋率為96%。它還更新了CWE最新版本v4.10
2023-04-13 16:44:21682 
為了確保驗(yàn)證的完備性，我們需要量化驗(yàn)證目標(biāo)。SystemVerilog提供了一套豐富的覆蓋率建模方式。
2023-06-25 10:44:16520 編寫 HDL 通常是 FPGA 開發(fā)中耗時最少的部分，最具挑戰(zhàn)性和最耗時的部分可能是驗(yàn)證。根據(jù)最終應(yīng)用程序，驗(yàn)證可能非常簡單，也可能非常復(fù)雜，簡單的話只需對大多數(shù)功能進(jìn)行檢查或執(zhí)行完全獨(dú)立開發(fā)的測試平臺來演示功能和代碼覆蓋率。
2023-08-03 09:23:501208 
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，系統(tǒng)級芯片（SoC）設(shè)計(jì)已成為現(xiàn)代電子設(shè)備中的主流。在SoC設(shè)計(jì)中，可測試性設(shè)計(jì)（DFT）已成為不可或缺的環(huán)節(jié)。DFT旨在提高芯片測試的效率和準(zhǔn)確性，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
2023-09-02 09:50:101513 DFT PLL向量，ATE怎么用？ 自動測試設(shè)備（ATE）對PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測試時，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級芯片（SoC）中的重要性。它是SoC中關(guān)鍵的時鐘或信號同步部件，其性能直接影響
2023-10-30 11:44:17662 
為確保具體的產(chǎn)品（例如，醫(yī)療或航空電子市場）質(zhì)量合格，
通常需要提供語句覆蓋與判定覆蓋認(rèn)證證明。對于各種嵌
入式系統(tǒng)，規(guī)范要求高度優(yōu)化的代碼需要實(shí)時測試。禁止
代碼插裝和運(yùn)行時篡改。勞特巴赫代碼覆蓋率測試系統(tǒng)為
客戶提供實(shí)時的語句覆蓋和判定覆蓋證明。
2023-11-03 11:02:100
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