吉時利儀器公司(NYSE:KEI)，宣布為其功能強大的4200-SCS半導體特性分析系統新增一套C-V測量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以測量模塊的形式插入 4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級電容。在 4200-CVU的創新設計中采用當前最先進的高性能電路，有8項專利正在申請中。該設備具有直觀的點擊式配置界面，線纜連接簡單，內置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測量結果。無論用戶是否具有相關測量經驗，都能使用該儀器實現專業級的C-V測量。

　　4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時利 4200-LS-LC-12結合使用將實現更高測量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關矩陣卡，通過單針探測能實現高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶如I-V測試一樣輕松配置和執行功能全面的C-V測試。

　　廣泛的應用支持

　　通過對4200-SCS系列產品功能的進一步增強，吉時利繼續保持在C-V測量領域領先地位，僅4200這一種半導體測量儀器就能滿足非常廣泛的測量應用需求，其中涵蓋了種類豐富的探測器、器件類型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內的測量方法學。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統無法解決的問題，例如無法提供完整的C-V/I-V/脈沖，或者用戶接口和軟件庫支持不足。此外，該系統靈活而強大的測試執行引擎能夠十分方便地在同一測試序列中整合C-V、I-V和脈沖測試。因此，4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測試工具。

　　此外，吉時利公司4200-SCS仍然支持利用各種第三方測試設備進行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點使得4200-SCS/CVU非常適合于：

　　*半導體技術研發 、工藝研發和可靠性研究實驗室;

　　*材料與器件研究實驗室和機構;

　　*需要臺式DC或脈沖測試設備的實驗室;

　　*需要體積小而功能多、儀器多的非專業實驗室與用戶。

　　強大的軟件

　　現今市場流行的半導體特征分析系統中，吉時利4200-SCS具有最直觀的基于Windows的界面(GUI)。據多年客戶交互和反饋的研發經驗，新型4200-CVU硬件和軟件模塊仍將保持易于使用的特點，是4200-SCS交互式測試環境和執行引擎的自然延伸。吉時利為4200-CVU的硬件提供大量程序范例、測試庫、以及唾手可得的內置參數提取實例。八個軟件庫提供最廣泛的C-V測試和分析功能，涵蓋所有標準應用，其中包括針對高K和低K材料、MOSFET、BJT、二極管、Flash存儲器、光電池單元、III-V族化合物器件、碳納米管(CNT)器件的C-V、C-t、C-f測量與分析。除測量結電容、管腳間電容以及互連線電容之外，系統提供的分析與參數提取軟件還能夠實現摻雜分布、TOX、游離子和載流子壽命的分析功能。這些測試包括各種線性的和自定義的C-V掃描、C與時間的關系、C與頻率的關系分析功能。

　　不同于其它特征分析系統，吉時利C-V/I-V分析提取工具提供定義清晰的開放式環境，用戶能夠很方便地修改和定制測試例程。吉時利工程師根據其豐富的應用經驗開發的多個工程范例，能夠大大縮短用戶程序開發時間。

　　4200-CVU提供多種先進的診斷工具，幫助用戶確保C-V測量結果的正確性。在用戶不能確定測試結果是否準確時，僅需點擊屏幕上“Confidence Check”按鈕，或者使用實時面板屏蔽部分測試設置進行驗證即可。

　　通過簡短學習操作，功能強大的4200-SCS就能提供最佳的使用體驗，并順利解決提高器件特征分析和建模的產能和效率這一長期困擾半導體實驗室管理者的問題。

　　針對更高產能的設計

　　4200-CVU具有無可比擬的測量精度、速度和效率，這主要得益于 4200-SCS的高速數字測量硬件以及軟硬件系統的密切配合，以及吉時利一貫堅持的低噪聲系統設計原則。兩項優勢的結合意味著，無論簡單的任務，如配置一次測量操作或者通過一次鼠標點擊操作執行一個預定的測試序列，還是復雜的任務，如觸發并繪制多重C-V 掃描曲線， 4200-CVU都能極大提高測試產能。4200-CVU系統采用高速數字架構，與其他對手的C-V測量儀器相比，能夠更快速地運行、描繪出實時C-V掃描曲線。

　　高度通用的測試環境

　　除能在功能靈活、高度集成的測試環境中實現I-V、C-V和脈沖測試之外， 4200-SCS還為用戶提供多種備選功能，主要包括8個中、高功率的DC源測量單元(SMU)、雙通道脈沖、波形發生器和一個完整的數字示波器。同 4200-CVU一樣，所有設備都可插入到 4200-SCS的設備插槽中，并且通過功能強大的吉時利交互式測試環境(KTEI，7.0版)進行控制。其點擊式用戶界面能幫助用戶輕松實現一系列測試設置、測試序列控制和數據分析操作。 KTEI還能控制外部設備，包括大部分常用的探測器、高溫卡盤(hot chuck)和測試夾具，以及吉時利高集成度的、當前業界連接功能最靈活的開關矩陣。