2013年4月－ 美國國家儀器公司（National Instruments， 簡稱 NI）于近日發(fā)布NI PXIe-5162數(shù)字化儀，并更新了LabVIEW抖動分析工具包。 該數(shù)字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率，它的高速測量垂直分辨率是傳統(tǒng)8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個通道，適用于高通道數(shù)數(shù)字化儀系統(tǒng)的生產(chǎn)測試、研究和設(shè)備特性記述。 工程師們因此可以結(jié)合使用LabVIEW與數(shù)字化儀，以及LabVIEW抖動分析工具包中專門為高吞吐量的抖動、眼圖和相位噪聲測量優(yōu)化過的函數(shù)庫，以滿足自動化驗(yàn)證和生產(chǎn)測試環(huán)境所需。

　　“NI PXIe-5162數(shù)字化儀結(jié)合了高速、高通道和高分辨率測量三大特點(diǎn)，讓傳統(tǒng)的示波器用戶突破了使用傳統(tǒng)箱型儀器進(jìn)行自動化測試的界限，”NI模塊化儀器研發(fā)總監(jiān)Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數(shù)字化儀與LabVIEW抖動分析工具包，可以幫助工程師借助現(xiàn)代PC的處理性能，而不是箱型示波器上傳統(tǒng)的嵌入式處理器，加快測量系統(tǒng)的速度?！?/p>

　　NI PXIe-5162 特性

　　· 10位垂直分辨率，可更深入地解讀信號

　　· 單個3U PXI Express插槽包含4個通道，在一個PXI機(jī)箱中可擴(kuò)展至68個通道

　　· 一個通道上5 GS/s的最大采樣率或同時(shí)使用四個通道，每通道1.25 GS/s采樣率

　　LabVIEW抖動分析工具包特性

　　· 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)、眼圖、抖動、電平和時(shí)域測量函數(shù)

　　· 眼圖和掩膜測試的示例程序，以及使用雙狄拉克（dual-Dirac）和基于頻譜的分離方法，進(jìn)行隨機(jī)抖動和確定性抖動（RJ/ DJ）分離的示例程序

　　有關(guān)數(shù)字化儀的更多內(nèi)容，請?jiān)L問下列頁面：http://www.ni.com/digitizers/zhs/

　　關(guān)于NI

　　自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI （www.ni.com）一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。 NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺，有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。 長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會的發(fā)展，確?？蛻?、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。