如果你沒有用正確的方法測試出系統的環路增益的波特圖，那么你如何下手去調試這些項目讓他通過測試呢？只有來來回回不停作實驗。然后來來回回跑功能測試。 Oh， my god， 浩大的工作量。而且，對于一些低成本的產品，往往用到了鋁電解電容，MLCC電容等低成本方案（電感，電阻值基本沒有變化）。這些電容的容值會隨著時間變化而減少。如MLCC，系統運行在正常溫度兩年~三年，容值會變到原來的一半。而這一半電容的變化，會對系統的穩定造成很大的影響，這也是為什么很多低價的產品質量不可靠的一個重要原因。那是不是說價格越高，用越多的電容就越好呢，當然不是。這就是為啥要測試phase margin的原因。你需要調試一組合理的值，能夠同時覆蓋全電容以及半電容的要求。這樣同樣能做到低價格高品質。

　　根據奈奎斯特定理對系統穩定性要求，規范要求一個閉環系統的相位裕量最少為60度，45~60度可以考慮為最低限額要求。對于帶寬，200~500K的開關電源的要求在10%~30%的開關頻率。從開關電源的穩定性看帶寬越低，電源越容易穩定。從開關電源的動態指標看，帶寬越高電源的動態性能越好。

　　下圖五為典型的波特圖：

　　另外一點非常重要的是，除了PWM開關電源，有很多線性電源（LDO），其補償網絡在芯片外部的，也要做類似的環路增益的波特圖測試，從而確保其穩定性。LDO的測試，是絕大多數廠家容易忽略掉的。比如如下圖六所示這種電路，很多人會直接測量noise完事。

　　我們有可能會看到的相位裕量不能達到要求。如下圖七，只有30度左右。這個時候，只有調試不同的參數，才能得到比較好的結果。從而滿足系統穩定性的要求。

　　電源紋波（ripple）和噪聲（noise）

　　電源紋波和噪聲，看起來是電源測試里面最簡單的項目。但是也有可能對你的測試結果和功能有比較大的影響。首先是紋波，我們測試的時候，只是看是不是符合規范要求，比如30mV等等。有些時候，紋波和系統的PLL是有關系的。如果你的PLL jitter不過 ，可以考慮進一步減小ripple。噪聲，有人會問，為啥我的系統noise和他的系統noise基本是一個范圍，但是我的系統會跑fail呢？首先我們要排除前面講的系統穩定性原因，然后，親，你有沒有用示波器做過FFT，看看同樣noise在頻域上的區別呢？