在此測試中，我們將生成中心頻率相差1MHz的兩個單頻信號。如果兩個信號源之間沒有足夠的間隔，信號源所產生的互調失真會掩蓋被測接收機的失真。 每個信號源輸出口的AtlanTec（ACC - 20010系列）隔離器、Mini -Circuits功率分配器被用于信號結合，確保信號源失真低于被測失真的接收器水平。上下TOI都會被計算在內（只有上部TOI在視頻中顯示）。計算的上下TOI的方法如下。

IP3 Lower = P1 + (P2- IMD lower)/2

IP3 Upper = P2 + (P1 - IMD Upper)/2

以下設置對于兩個儀器都適用。

0 dB衰減

01 kHz RBW

無平均值

圖7. NI PXIe-5665和Agilent PXA的三階信號成分。NI PXIe-5665的三階信號成分的絕對強度接近-95 dBm。

如果使用更多的衰減，那么你可以獲得更多的TOI測量結果。

列表模式測試

在列表模式測試中，生成了一個1GHz的信號，并使用Agilent PXA和NI PXIe-5665進行讀取。隨機選擇2、 5、10 或14 GHz的諧波，因為兩個儀器的測試結果以3.6GHz頻點為界都會發生變化，而我們希望能正確地測量跳躍到更高次的諧波所需的時間。雖然這并不是一個標準的測試，但是它最好地展示了兩個儀器在列表模式測試中的靈活性。

注意：對兩個儀器均使用列表模式。

總時間由列表模式中的掃描時間+每個頻率跳躍峰值搜索時間+數據返回至兩臺儀器的主機所需時間組成。

圖8.在NI PXIe-5665和Agilent PXA上使用列表模式。相比大多數列表模式測試，NI 5665 要快1.5-2倍。

圖9. 遠程使用Agilent PXA列表模式，在上述條件下需要700ms的時間。

注意：Agilent PXA針對某些諧波上進行了優化。NI 5665 則是在所有的列表模式測試中速度快1.7-2倍。

EVM測量

在EVM測試中，使用NI PXIe-5673矢量信號發生器生成一個LTE信號。兩個儀器均使用如下設置：

RBW = 30 kHz

10 dB 衰減

10 次平均

關閉自動峰值檢測

圖 10. 使用Agilent PXA 和 NI PXIe-5665進行LTE EVM 測試。

使用可編程的FPGA進行在線處理

圖 11. 將信號處理移至FPGA上進行可以節省時間。

NI FlexRIO非常靈活，可以作為一個協處理器。在這一演示的設置中，所有來自PXIe-5665的數據都是在FPGA上進行處理；而在之前的演示設置中，數據是在嵌入式處理器中進行處理。這一特性的應用非常廣泛，例如硬件處理的算法、協議實現以及實時激勵-響應等應用。

測試時間比較（包含設置時間）

前面所有的測試演示都只針對單次測量的時間。而在本項測試中，除了測量時間以外，還將考慮設置時間。這在包含多種測試標準的自動化測試（例如功率放大器測試）之中很有必要。

圖 12. 若考慮設置時間，NI 5665的速度要快20倍。

總結

對于一個典型的測試設置來說，相對于使用Agilent PXA，NI PXIe-5665能夠提供相同或者更好的性能，而且在大多數測試中要快14-15倍。同時，NI PXIe-5665的成本要比傳統臺式儀器小得多。在下表中，對NI 5665以及相對應的Agilent PXA價格進行了比較。

在自動化測試系統中，PXI機箱和MXI控制器的花費通常被系統中的所有儀器均攤。例如，如果一個測試系統中包含兩個NI PXIe-5665矢量信號分析儀，并插在一個PXIe機箱中，則機箱和控制器的費用只會發生一次，因此總的投入要少于2 x $58,597。然而，如果一個測試系統中包含兩套PXA，則投入為2 x $87,745。

注意：對于自動化測試應用來說，Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所選編程語言（如LabVIEW、CVI、Visual Studio等）方面的投入是相同的，因此也沒有將其納入到比較當中。