IC芯片測(cè)試專業(yè)研發(fā)各類BGA/QFN測(cè)試座、老化座(Burn-in & Test Socket)； &
2009-12-05 16:45:29
Flash連接到MCU的嵌入式系統(tǒng)，其約束是完全不同的。了解這些差異將幫助開發(fā)人員避免代價(jià)高昂且耗時(shí)的錯(cuò)誤。明確需求為了在面對(duì)NAND Flash的細(xì)微差別時(shí)，做出良好的設(shè)計(jì)決策，開發(fā)人員必須仔細(xì)確定系統(tǒng)
2020-09-04 13:51:34
求教 對(duì)ad8367進(jìn)行VGA測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊(cè)figure33圖連接，對(duì)DETO 進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對(duì)輸入信號(hào)200MV，68.2HZ的正弦信號(hào)可以嗎？為什么輸出信號(hào)為雜波
2018-12-20 09:11:46
IC卡管腳的特性，進(jìn)行測(cè)試；5.LCD顯示二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測(cè)試，測(cè)試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測(cè)試，打印二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；...
2022-02-11 07:03:24
。請(qǐng)幫我確認(rèn)一下。3、我們的PCB為了節(jié)省空間，只想用兩片16bit的內(nèi)存，也就是只連接DDRC0控制器，總?cè)萘繛?GB，另外一個(gè)DDRC1不連接，請(qǐng)問(wèn)將來(lái)跑linux系統(tǒng)和DSP算法同時(shí)運(yùn)行，這樣設(shè)計(jì)能否滿足要求？希望大家給予幫助，謝謝大家了。
2018-05-28 13:30:39
工具： DVRRDK中的nand-flash-writer.out，CCS編譯通過(guò)；板子DDR3已通過(guò)BSL代碼的測(cè)試，并作了SWleveling
2019-02-22 10:15:44
如圖所示，這個(gè)IC 充電狀態(tài)管腳高低電平的狀態(tài)靠什么檢測(cè)？
2021-01-06 14:41:24
什么以獲得非 XIP 應(yīng)用程序？ 任何 mcubootutility 內(nèi)置示例現(xiàn)在得到的結(jié)果如下： SEMC NAND有沒(méi)有已經(jīng)做好的測(cè)試文件？
2023-03-29 07:39:05
在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域，做為存儲(chǔ)設(shè)備的NOR flash和NAND flash，大家應(yīng)該不陌生。早期NOR flash的接口是并行口的形式，也就是把數(shù)據(jù)線，地址線并排設(shè)置與IC的管腳中。但是由于不同容量
2018-08-07 17:01:06
一般可通過(guò)PAD
連接閃存，比如Cadence公司的Octal-SPI
NAND Flash controller, 支持8-bit的數(shù)據(jù)和地址傳輸，這樣的速度會(huì)比傳統(tǒng)的單比特串行SPI快很多。因?yàn)?/div>
2022-07-01 10:28:37
TSOP48測(cè)試機(jī)，BGA植球返修， IC測(cè)試架(BGA IC測(cè)試治具和BGA 測(cè)試座)。如QFP測(cè)試座，QFN測(cè)試座FPC測(cè)試架內(nèi)存條測(cè)試治具 手機(jī)測(cè)試治具 BGA植球 BGA燒錄座 ,U盤測(cè)試
2011-05-18 13:22:24
VI Tree.vi 程序中可以添加VISA寫入函數(shù)，用示波器觀察RS232接口Txd 引腳波形，與模擬程序的波形比較。
2015-03-28 05:05:39
本公司長(zhǎng)年提供IC測(cè)試服務(wù) ，具體服務(wù)內(nèi)容如下： IC封裝測(cè)試服務(wù)：利用BOUNDARY SCAN（邊界掃描）測(cè)試設(shè)備提供FPGA、PLD、ARM、DSP等常見(jiàn)器件型號(hào)驗(yàn)證及管腳
2009-07-21 11:40:36
arm device tree 設(shè)備樹分享 掙分
2013-04-16 18:21:24
不錯(cuò)的選擇,正好一個(gè)項(xiàng)目在選擇NAND存儲(chǔ)方案, 恰巧論壇中聯(lián)系到雷龍公司申請(qǐng)到了兩片SD NAND,所以就進(jìn)行一下測(cè)試評(píng)估。 SD NAND是什么? 為什么選擇SD NAND? 其與TF/SD卡
2023-04-18 23:03:42
互連的開路與短路故障,可采用外部測(cè)試加以驗(yàn)證: ·測(cè)試PCB上總線的完整性,通過(guò)其測(cè)試可檢測(cè)與總線相連的IC芯片I/O管腳是否存在開路故障。 隨著BST技術(shù)的不斷發(fā)展,PCB測(cè)試將逐步完善。由于
2018-09-10 16:50:00
，通過(guò)我們公司的"基于U盤測(cè)試夾具"測(cè)試后可以將閃存部分沒(méi)有損壞的eMMC IC用作U盤FLASH; C、我們最近推出一拖四、一拖八NAND Flash燒錄器，可以
2013-05-27 22:01:53
同步博客地址：從STM32開始的RoboMaster生活：進(jìn)階篇 V [Clock Tree]項(xiàng)目&教程倉(cāng)庫(kù)：-STM32-RoboMaster-1.0 什么是Clock Tree？1.1
2021-08-11 08:41:57
卡有著本質(zhì)上的區(qū)別。
SD NAND 與 TF卡的區(qū)別：（看圖表）
SD和TF區(qū)別
LGA-8封裝
什么是LGA-8封裝？
LGA-8封裝是一種將芯片引腳通過(guò)電路板的層間連接
2024-01-05 17:54:39
剖析線纜與連接器技術(shù)的測(cè)試要點(diǎn)
2021-05-11 07:17:13
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-27 11:09:07
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-27 11:12:17
如何采用多功能混合信號(hào)管腳實(shí)現(xiàn)汽車IC的高效益低成本測(cè)試？
2021-05-12 07:00:42
求教 對(duì)ad8367進(jìn)行VGA測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊(cè)figure33圖連接，對(duì)DETO 進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對(duì)輸入信號(hào)200MV，68.2HZ的正弦信號(hào)可以嗎？為什么輸出信號(hào)為雜波
2023-11-23 07:03:29
`需求IC與FPC貼片后的成品 測(cè)試軟件與工具,要求如下：因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">IC是舊IC，所以IC在貼片后需要對(duì)FPC成品進(jìn)行測(cè)試1.測(cè)試位置：FPC下面的一排金手指與IC四周的PIN角是否有開短路,如圖片2.要求測(cè)試工具1帶3，直接顯示PASS`
2020-03-23 09:44:03
1目的：[/td] 為了規(guī)范公司對(duì)于元器件的技術(shù)評(píng)定，確保元器件達(dá)到我司質(zhì)量要求，特制定本標(biāo)準(zhǔn)。 2適用范圍： 本標(biāo)準(zhǔn)用于公司工程對(duì)器件選型認(rèn)證測(cè)試。 3測(cè)試方法： 原則
2015-05-16 16:46:45
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-28 10:17:44
測(cè)試應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測(cè)試，IC設(shè)計(jì)等芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試probe測(cè)試內(nèi)容：1.微小連接點(diǎn)信號(hào)引出2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗(yàn)證來(lái)源：知乎`
2020-10-16 16:05:57
Hi, Ti的技術(shù)支持
請(qǐng)幫忙確認(rèn)一下AM335x處理器的Timer7工作是否正常，分下面二種情況進(jìn)行測(cè)試：
1. 在cpsw驅(qū)動(dòng)中，將定時(shí)器改成Timer6和Timer7的組合，測(cè)試網(wǎng)絡(luò)功能是否
2018-06-04 02:30:19
rmii2_crs_dv只復(fù)用到這個(gè)管腳上，在其它管腳沒(méi)有復(fù)用。由am335x技術(shù)手冊(cè)可知從nand啟動(dòng)必須要使用gpmc_wait0這個(gè)管腳，這顯然與rmii2接口沖突了。現(xiàn)在要求從nand啟動(dòng)且使用雙網(wǎng)卡(rmii接口)，該怎么辦
2018-06-20 06:56:29
一、無(wú)線數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測(cè)試技術(shù) 移動(dòng)終端和個(gè)人電腦的無(wú)線數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致對(duì)前端器件需求的迅速增加。目前，簡(jiǎn)單易用、輕便及低成本終端已成為市場(chǎng)趨勢(shì)，由此引起市場(chǎng)對(duì)小巧
2019-06-05 08:12:26
提出了一種適合于數(shù)據(jù)遷移、又能保證分布并行特性的樹結(jié)構(gòu)DPB+-Tree，討論了基于DPB+-Tree的數(shù)據(jù)遷移策略，其中數(shù)據(jù)節(jié)點(diǎn)遷移采用分布式提交協(xié)議來(lái)保證原子性，索引重構(gòu)通過(guò)對(duì)
2009-03-10 20:57:04
8 時(shí)空數(shù)據(jù)的索引結(jié)構(gòu)中，HR-tree可以高效處理時(shí)間片查詢，但對(duì)時(shí)間段查詢效率低下，同時(shí)存在存儲(chǔ)冗余。3D-tree索引的效率較低，雙樹結(jié)構(gòu)使索引維護(hù)較為困難，且磁盤訪問(wèn)開銷大。
2009-04-06 08:57:1311 非接觸IC 卡模塊封裝技術(shù)中電智能卡有限責(zé)任公司1、簡(jiǎn)介非接觸式IC 卡模塊是IC 卡的心臟，是通過(guò)專業(yè)封裝技術(shù)將IC 芯片和引線框架以特定的連接方式組合在一起， 由
2009-12-15 14:37:2768
IC卡座與CPU連接的電路
2009-02-25 21:35:10
1348 
NAND FLASH在儲(chǔ)存測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用
0 引言
計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展，存儲(chǔ)系統(tǒng)容量從過(guò)去的幾KB存儲(chǔ)空間，到現(xiàn)在的T8；乃至不久的將來(lái)要達(dá)到的PB存儲(chǔ)空間，
2009-11-07 10:21:25857 IC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)答提供了IC測(cè)試中最常見(jiàn)到的一些問(wèn)題并給出了解決方法，希望對(duì)您有所幫助！
2012-02-03 16:40:383528 本文通過(guò)分析ZigBee協(xié)議中Cluster-Tree和AODVjr算法的優(yōu)缺點(diǎn)，提出一種基于Cluster-Tree+AODVjr的優(yōu)化路由算法。
2012-11-08 11:02:566161 近期在學(xué)校如何寫linux的設(shè)備驅(qū)動(dòng)，這片文章告訴我們?yōu)槭裁匆M(jìn)設(shè)備樹Device Tree，以及舉例說(shuō)明設(shè)備樹是怎樣寫的
2015-11-17 18:16:0821 IC測(cè)試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證，可以下來(lái)看看。
2016-12-14 21:50:0353 集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得
2017-10-20 09:57:4370 集成電路（Integrated Circuit，IC）測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分，而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215 NAND Flash控制IC大廠群聯(lián)日前宣布，PCI-e規(guī)格的固態(tài)硬碟（SSD）晶片已經(jīng)通過(guò)3D NAND Flash BiCS3測(cè)試，下半年將成為PC／NB OEM的SSD市場(chǎng)主流規(guī)格，將可望擴(kuò)大SSD市占率。
2018-08-03 16:08:211946 一些背景知識(shí)（例如：為何要引入Device Tree，這個(gè)機(jī)制是用來(lái)解決什么問(wèn)題的）請(qǐng)參考引入Device Tree的原因，本文主要是介紹Device Tree的基礎(chǔ)概念。
2019-05-10 11:33:051080 
DE 10 Nano Power Tree
2021-02-04 16:26:347 DE 10 Nano Power Tree
2021-03-06 10:42:373 HTG-K816 Power Tree
2021-03-10 14:13:400 Basys 3 Power Tree
2021-03-10 14:16:4014 HTG-830 Power Tree
2021-03-10 14:19:401 HTG-Z100 Power Tree
2021-03-10 14:20:412 HTG-K800 Power Tree
2021-03-10 14:28:411 HTG-9100 Power Tree
2021-03-10 14:44:423 i.MX7 96Board Power Tree
2021-03-11 08:55:091 QorIQ LS1088A-RDB Power Tree
2021-03-11 08:59:090 QorIQ LS1043A-RDB Power Tree
2021-03-11 09:01:093 NOVPEK i.MX6Q/D Power Tree
2021-03-11 09:02:091 IC卡管腳的特性，進(jìn)行測(cè)試；5.LCD顯示二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測(cè)試，測(cè)試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測(cè)試，打印二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)
2021-12-07 20:51:137 ? 今天邀請(qǐng)到賽靈思專家和大家分享下如何在?Petalinux?下定位?decice-tree?錯(cuò)誤的一些技巧。? 首先我們來(lái)了解下 Petalinux 工程中 device-tree 的文件位置
2022-07-21 09:16:081668 一．什么是軟件產(chǎn)品測(cè)試？ 確認(rèn)測(cè)試也稱有效性測(cè)試，即驗(yàn)證軟件的功能、性能及其它特性是否與用戶的要求一致。軟件確認(rèn)測(cè)試是在模擬的環(huán)境下，驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說(shuō)明書列出的需求。為此，需要首先制定測(cè)試
2022-10-22 22:52:30793 
大家應(yīng)該熟悉或了解 Linux 中的目錄結(jié)果，它就像樹的根。這正是 tree 命令的概念。它以樹狀方式顯示當(dāng)前目錄及其子目錄的內(nèi)容。
2023-01-04 16:59:561404 
IC測(cè)試座是一種常用于集成電路測(cè)試的工具，它可以通過(guò)將芯片插入座子中進(jìn)行信號(hào)傳輸、功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試等多項(xiàng)檢測(cè)。IC測(cè)試座的主要用途包括以下幾個(gè)方面：
2023-06-02 14:23:36518 IC測(cè)試座是一種專門用于測(cè)試集成電路（IC）的工具，也被稱為IC插座或者IC測(cè)試夾。
2023-06-19 15:07:23576 
德索五金電子工程師指出，鹽霧測(cè)試通常用于水下環(huán)境并且通常用來(lái)評(píng)估金屬連接器外殼的耐腐蝕性通過(guò)檢查絕緣電阻來(lái)確認(rèn)暴露后的零件的性能，來(lái)確定殼體密封件是有效的。
2023-05-05 17:27:06237 
IC測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路（IC）和其他電子元件的工具，它將元件安裝在座上，可以用來(lái)連接電源和測(cè)試設(shè)備，并將測(cè)試結(jié)果反饋給用戶。
2023-06-29 13:50:05541 
芯片測(cè)試座又稱：IC Socket 、 IC 測(cè)試座、IC插座。
2023-07-08 15:13:181447 
測(cè)試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用，用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器，可以讓芯片的更換測(cè)試更方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達(dá)到快速高效的測(cè)試效果。
2023-07-11 10:11:32455 
它的主要作用是將待測(cè)的IC芯片插入其中，與測(cè)試儀器連接，進(jìn)行信號(hào)測(cè)試、功耗測(cè)試、溫度測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試。
2023-07-18 14:21:09313 在IC芯片測(cè)試中，芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50632 ic芯片電源管腳并聯(lián)小電容的作用? IC（Integrated Circuit）芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的重要組成部分，其能夠集成多個(gè)晶體管、電容、電阻等器件，從而實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜的電路功能。在IC
2023-09-05 14:41:161231 集成電路（Integrated Circuit，IC）是現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件之一，而為了確保IC的質(zhì)量和性能，需要進(jìn)行各種測(cè)試。IC測(cè)試是一個(gè)多層次、復(fù)雜而關(guān)鍵的過(guò)程，旨在檢測(cè)和驗(yàn)證IC是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。本文將介紹IC測(cè)試的分類，涵蓋了各種類型的測(cè)試，以及其在半導(dǎo)體制造和電子設(shè)備領(lǐng)域中的重要性。
2023-10-20 09:00:231292 
IC測(cè)試原理 IC 測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測(cè)試激勵(lì)（X），通過(guò)測(cè)量DUT 輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測(cè)試的基本原理模型
2023-10-30 11:16:58845 
IC芯片測(cè)試基本原理是什么？ IC芯片測(cè)試是指對(duì)集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測(cè)試，以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測(cè)試的基本原理是通過(guò)引入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)和分析芯片的響應(yīng)，以判斷
2023-11-09 09:18:37903 目前，Marvell以自主開發(fā)或外包的方式，為掌握nand閃存ic市場(chǎng)而展開競(jìng)爭(zhēng)。因此，Marvell在企業(yè)市場(chǎng)上的運(yùn)營(yíng)受到了影響，Marvell正在縮小相關(guān)團(tuán)隊(duì)。
2023-11-17 10:28:48362 
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