隨著物聯網時代的來臨，我們不應該再注意手機或是任何移動式裝置，而是應該注意新的需求。***要放手一搏扭轉產業的機會是把握物聯網，而不是專注于硬件開發，這并不意味著要放棄硬件，而是要學會掌握硬件可以發展的智能服務。***若繼續做硬件，也許還是會有未來，但贏家又會是誰呢？因此不能只是看硬件，要看在這些平臺上還有哪些應用還沒被挖掘。

　　那么要如何創造出『萬物聯網』的價值呢？首先就是要讓開發物聯網的硬件的價格能夠低廉到讓許多『創客（Maker）』可以接受，讓有興趣開發物聯網的智慧服務的『創客』，可以輕易的拿到相關的硬設備。所以，如何降低物聯網相關芯片的價格，成為物聯網商務模式一個值得探討的課題。物聯網芯片的硬件架構都需要嵌入式閃存（Embedded Flash; EFlash）來儲存程序（Program）。所以EFlash的測試費用也會決定物聯網芯片的開發成本，在這微利時代且錙銖必較的物聯網開發平臺上，成本將是關鍵，它會決定此物聯網開發平臺是否將會廣泛被『創客』采用！

　　厚翼科技為目前全球唯一專注于開發內存測試解決方案的硅智財（Intellectual Property; IP）與整合性內存測試開發工具的供貨商。而BIST （Built-In Self-Test） 是嵌入式內存測試的一種標準。過去幾年來，內存的BIST需求，隨著各種新興市場包括物聯網與車用電子的需求而日益增高，現今的內存測試解決方案需要支持各種型態的內存檢測方案包括嵌入式閃存（Embedded Flash; EFlash）靜態隨機存取內存（Static Random Access Memory; SRAM）、動態隨機存取內存（Dynamic Random Access Memory; DRAM）等。

　　厚翼科技在內存測試的解決方案中擁有許多專利，基于特有的內存測試專利，厚翼科技開發出嵌入式閃存的測試解決方案（EFlash BIST）。EFlash BIST將傳統的BIST架構做了很大的變革，EFlash BIST充分利用硬件架構分享（Hardware Sharing） 的設計來達到優化的面積和測試時間。EFlash BIST是一個客制化的IP，厚翼科技的研發團隊，針對客戶所用的EFlash與所需要的測試項目開發出專屬的EFlash BIST IP。此客制化的EFlash BIST IP將可以大幅度的縮短EFlash的測試時間。

　　傳統的EFlash測試方案可以直接使用自動化測試機臺（Automation Test Equipment; ATE）或是使用EFlash的供貨商提供的BIST。采用ATE做EFlash的測試，由于測試時間過長，導致測試費用太高，相當不符合物聯網開發平臺對于費用的要求。然而，采用EFlash供貨商提供的BIST方案，對于使用者而言，非常難以在短時間內將BIST電路與EFlash做整合（圖一），導致整個物聯網芯片的開發時間過長。

　　圖一：傳統的EFlash BIST的實現流程

　　基于以上兩點使用上的不便之處，厚翼科技將傳統的EFlash BIST的實現流程簡化如下（圖二）。

　　圖二：厚翼科技的EFlash BIST的實現流程

　　厚翼科技的EFlash BIST IP可根據客戶在測試項目上的需求提供各項測試方案如CP1、CP2、CP4、FT等測試項目。此外，厚翼科技的EFlash BIST IP僅需要非常少的測試針腳（Pin），并且厚翼科技的EFlash BIST IP可以提供下列可程序化（Programmable）的功能包括Change ATE Setting、Algorithm、Program Time、Erase Time、Address Sequence、Data Background等。厚翼科技的EFlash BIST IP更可以提供診斷（Diagnosis）方案，包括Algorithm、Command、Address、Data等，讓物聯網芯片開發商作為芯片錯誤分析的依據。

　　物聯網的來臨，許多新興應用出現。如何讓『創客』可以輕易上手一個物聯網的開發平臺，是眾多物聯網硬件開發商的共同目標，除了功能性要足夠之外，『價格』是另外一項決定物聯網開發平臺是否會被廣泛使用的決定性因素。厚翼科技的EFlash BIST IP能大幅縮短EFlash的測試時間，保護客戶的測試樣本（Test Pattern）與縮短EFlash BIST的開發時間。因此厚翼科技的EFlash BIST IP絕對是物聯網時代性價比最好的內存測試解決方案。