掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結構進行觀測時，常常會遇到充電效應，本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12
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雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品
2017-06-29 14:08:35
金鑒檢測雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構的服務發布時間：2017-04-26聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體
2017-06-28 16:40:31
金鑒檢測雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構的服務發布時間：2017-04-26聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體
2017-06-28 16:50:34
金鑒檢測雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構的服務聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種
2017-06-28 16:45:34
攝像目鏡放大率X數字放大率這公式對于任何一臺顯微鏡都合適，無論是金相顯微鏡，生物顯微鏡等等。北京芯片失效分析實驗室介紹IC失效分析實驗室北軟檢測智能產品檢測實驗室于2015年底實施運營，能夠依據國際
2020-02-06 13:09:57
`顯微鏡放大倍數是怎么得出來的很多實驗室都在使用顯微鏡，但對顯微鏡的相關專業知識并不了解，只是知道怎么去操作，但對于一些基本常識可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關顯微鏡的放大倍率是如何計算
2020-04-26 14:57:38
物鏡是顯微鏡最重要的光學部件，利用光線使被檢物體第一次成象，因而直接關系和影響成象的質量和各項光學技術參數，是衡量一臺顯微鏡質量的首要標準。
2019-09-29 10:22:32
顯微鏡成像原理圖我知道目鏡的作用相當于放大鏡,但放大鏡成的像是物相同側而顯微鏡當中的物鏡將物體放大后,所成的像應在顯微鏡管內.如果目鏡的原理和放大鏡一樣,那它的像豈不是朝人眼反方向放大(物相同側
2019-07-24 08:18:44
電子顯微鏡是將高能電子束幾乎平行樣品表面的角度入射，然后收集經表面小角度反射出來的電子束來成像。這是反射式和穿透式電子顯微鏡最大的差別所在。另外由于反射式顯微術是應用平行式的取像法，不像掃描是顯微術是用
2009-03-10 09:09:08
有沒有電子顯微鏡維護維修人員？
2012-09-17 16:31:38
最近搞了一個電子顯微鏡，渣渣。放大倍數為500倍，看不了什么細菌哈。但是還是可以看見一些人眼所不及的東西。我拿出來給大家分享下，你們說想看什么東西的顯微效果，我這里只要有的話，我就盡量滿足。拍了之后
2016-06-02 13:35:52
生理測量熒光染料成像膜片鉗技術TIRFM全內反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：SEM:掃描電子顯微鏡TEM:透射電子顯微鏡STEM:掃描透射電子顯微鏡微電子/加工技術精密測量：分析天平熒光染料成像顯微
2018-09-02 16:35:11
在20世紀70年代起出現了國產的連續變倍體視顯微鏡，由于明顯優于間隔變倍類型的體視顯微鏡，從此在體視顯微鏡領域占據了主導地位。連續變倍體視顯微鏡有兩種基本形式：一是有一組主物鏡中間像平面平行于物鏡
2020-04-16 08:27:24
`1.設備型號TF20 場發射透射電鏡，配備能譜儀 2.原理透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束
2020-01-15 23:06:28
雙筒顯微鏡已成為過去！Aven Cyclops 單筒數字顯微鏡 (243-1349-ND) 具有 1080p HDMI 輸出，使技術人員可以在自己的監視器上輕松地對標志、焊點和 PCB 進行光學檢查
2018-10-31 15:48:05
Beam FIB，能針對樣品中的微細結構進行奈米尺度的定位及觀察。離子束最大電流可達65nA，快速的切削速度能有效縮短取得數據的時間。應用范圍：半導體組件失效分析(能力可達14nm高階制程)半導體生產線制程異常分析磊晶與薄膜結構分析電位對比測試穿透式電子顯微鏡試片制作奈米級結構制作
2018-09-04 16:33:22
、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測試鍵生長5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 17:00:22
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術、金屬、半導體、陶瓷、醫學和生物學等各種領域。此外，SEM的應用范圍正在不斷擴大，不僅涉及基礎研究，還涵蓋制造現場的質量控制。因此，對更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大約等于其使用光源的波長（~1?m）。1940 掃描電子顯微鏡（SEM）為了改良傳統的光學顯微鏡的不足，于1940 年左右發展出掃描電子顯微鏡（SEM），利用
2009-03-10 09:51:51
壓改建（C IVA ）·電壓襯度像（Voltage Contrast）·電子背散射衍射（EBSD ）·能量色散X射線能譜（ EDS ）·透射電子顯微鏡（ TEM ）& gC&
2015-05-28 16:06:54
時間，增加產品成品率。 我們將為研究人員提供，截面分析，二次電子像，以及透射電鏡樣品制備。我們同時還為聚焦離子束系統的應用客戶提供維修，系統安裝，技術升級換代，系統耗材， 以及應用開發和培訓。
2013-09-03 14:41:55
快速自動化測量，并提供高度、寬度和角度等一系列輪廓尺寸參數對表面質量進行表征。
VT6000激光共聚焦顯微鏡依托弱光信號解析算法可以完整重建出近70°陡峭的復雜的結構形狀。如：
1.對太陽能電池片微觀
2023-08-22 15:19:49
們脫坑一個幫助，文筆不好，大家見諒！一：掃描電子顯微鏡由于透射電鏡是TE進行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內。為此需要通過各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉變到透射電鏡可以接受的程度。能否直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，成為科學家追求的...
2021-07-29 07:49:43
俄歇電子能譜儀 (Auger, AES)是一種利用電子束作為激發源的高靈敏度表面分析(Surface Analysis)技術，樣品偵測深度小于10nm。俄歇電子顯微鏡(Auger, AES)具有奈米
2018-09-27 14:38:01
樂意效勞。透射電子顯微鏡（TEM）可用于觀察樣品的微觀形貌、可進行樣品的晶體結構分析、可進行納米尺度的微區或晶粒的成分分析，其廣泛應用于材料、物理、化學、生物、電子等領域。公司專注于芯片、激光器件等
2022-03-15 12:08:50
～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結構，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數萬倍FIB-TEM測試過程：采用對芯片選取合適位置做FIB剪薄
2024-01-02 17:08:51
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產生微細位移，以測得樣品表面形貌起伏。原子力顯微鏡(AFM)具有原子級解析
2018-11-13 09:48:43
先進電子顯微鏡成像技術揭露垂直共振腔面射雷射的制程細節
2021-02-22 07:36:15
，有時即使在高倍鏡下也不能分辨電子顯微鏡檢測在可見波長方面達到光學顯微鏡的極限。a.透射電鏡排查電學不穩定因素：缺點：需對樣品進行減薄處理，減薄處理易破壞器件，只能進行晶體缺陷觀察。品牌：JEOL
2017-12-01 09:17:03
、Decap芯片開封2、IC芯片電路修改3、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測試鍵生長5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 15:38:33
很多實驗室都在使用顯微鏡，但對顯微鏡的相關專業知識并不了解，只是知道怎么去操作，但對于一些基本常識可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關顯微鏡的放大倍率是如何計算的？ 也許有人會說這不是很簡單
2020-02-11 09:57:12
是可以被看清的距離范圍。掃描電子顯微鏡的景深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。由于圖像景深大，所得掃描電子像富有立體感。電子束的景深取決于臨界分辨本領d0和電子束入射半角αc。其中，臨界
2019-07-26 16:54:28
、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體；滿足無毒，無放射性，無污染，無磁，無水，成分穩定要求。制備原則：表面受到污染的試樣，要在
2020-02-05 15:15:16
，微區形貌觀察2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體
2020-02-06 13:13:24
掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？有什么優點？
2021-10-28 06:39:54
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
完全由計算機控制的場發射掃描電子顯微鏡，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光學性能，清晰的數字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點。基于Windows?平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作
2019-05-17 10:50:32
了掃描隧道顯微鏡，可以拍攝表面單個原子圖像，它速度至少比現有顯微鏡的速度快100倍。掃描隧道顯微鏡可以使用量子穿越隧道或電子通過隧道穿越障礙的能力，測量針型探測器和一個傳導表面之間的距離。 科研人員通過增加一
2013-06-19 17:22:54
攝像頭圖傳做維修用電子顯微鏡http://www.dt830.com/forum.php?mod=viewthread&tid=3909(出處: 儀表愛好者)`
2020-02-18 16:23:18
方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷（印刷錯位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等，落射式檢測顯微鏡將實物
2009-07-07 09:36:14
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)與微光顯微鏡(EMMI)其偵測原理相同，都是用來偵測故障點定位，尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具，其原理都是偵測電子-電洞結合與熱載子所激發出的光子。差別
2018-10-24 11:20:30
穿透式電子顯微鏡TEM穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，影像分辨率可達0.1奈米的原子等級
2018-08-21 10:23:10
、光學儀器配件等各種精密儀器。產品廣泛應用于教育、醫療、機械 、電子、冶金、生物、農業、軍工、大學、科研機構、航空航天、模具、五金、汽車、半導體、太陽能等各個專業領域。立體顯微鏡觀察物體時能產生正立
2009-07-07 09:35:25
，利用飛秒檢測技術，通過觀測分子、原子、電子、原子核等粒子飛秒級(一千萬億分之一秒)的振動、能級躍遷，開展分析工作。 下面是飛秒測試中心的一款用于科研分析檢測工作的電子顯微鏡SEM+EDX 冷場發射
2017-12-06 09:45:42
` 設備型號：Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品
2020-01-16 22:02:26
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
離子束對材料進行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。2.工作原理聚焦離子束(ed Ion
2020-02-05 15:13:29
電子顯微鏡(SEM)，利用聚焦離子束轟擊器件面表，面產生許多電子信號，將這些電子信號放大作為調制信號，連接顯示器，可得到器件表面圖像。透射電子顯微鏡(TEM)，分辨率可以達到0.1nm，透射電子顯微鏡可以
2020-05-18 14:25:44
熒光顯微鏡上海應捷儀器有限公司是集光學儀器、儀器配件、及計算機圖像處理軟件和顯微鏡測量軟件等的研發、生產、銷售、服務為一體的企業。擁有光機電領域技術與產品的成套開發的豐富經驗
2009-07-07 09:31:08
按細分的原理不同，讀數顯微鏡通常分為直讀式、標線移動式和影象移動式3種。
2019-10-22 09:12:09
只能算是單純的顯微鏡詢價，而對顯微鏡的選購知識卻是了解的不多，云飛公司技術人員依據多年的咨詢經驗為廣大顯微鏡求購者總結一些選購顯微鏡之前一些最常見的問題，希望可以為您的選型提供幫助。 問題一、顯微鏡
2016-08-31 10:23:21
電子顯微原理與技術【教學內容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復型技術5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 由NiCl2、NaBH4等組成的微乳液體系發生氧化還原反應制備NiO納米棒前驅物，在熔融鹽環境中860℃焙燒2.5h前驅體發生氧化反應，成功地制備了NiO納米棒，用透射電子顯微鏡、X射線衍
2009-04-26 22:37:1330 VT6000系列高清工業電子顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-02-03 11:13:55
本文以物鏡磁透鏡穩流電源為例，介紹了透射電子顯微鏡透鏡穩流電源的結構和工作原理。透鏡穩流電源由前置高精度穩壓電源模塊、數模轉換器、低漂移電壓比較放大器、高精度
2010-02-23 11:38:3821 采用自行研制的高真空三槍直流電弧金屬納米粉體連續制備設備，通過控制充氣壓力制備不同粒徑的納米鉍粉。利用X 射線衍射(XRD)、透射電子顯微鏡(TEM)和相應的選區電子衍射(SAE
2010-08-12 17:24:280 透射電子顯微鏡的結構與成像原理透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。
2009-03-06 22:20:1211737 
掃描電子顯微鏡原理和應用2.4.1 掃描電鏡的特點與光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305129 電子顯微術(Electron Microscopy,EM)
電子顯微術可分為靜態式和掃描式。靜態式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包
2009-03-10 09:02:582506 20世紀80年代中期,在數字化電子顯微鏡商品化之前,模擬式電鏡發展到了相當高的水平,很多操作被先轉換成指令,通過接口電路與單板機的識別處理后,發出控制指令,由各種功能電路來實現
2011-04-09 11:21:5464 愛德萬測試 （Advantest） 宣布已開發出全新光罩缺陷檢驗掃描式電子顯微鏡系統E5610，不僅可檢測光罩基材中超細微缺陷，還能加以分類。 E5610承襲Advantest一貫的高穩定性、全自動影像擷
2012-11-26 09:22:231386 透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向
2017-12-12 15:04:04128876 /神經系統科學：??電子生理測量??熒光染料成像??膜片鉗技術??TIRFM全內反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：??SEM:掃描電子顯微鏡??TEM:透射電子顯微鏡??STEM:掃描透射電子顯微鏡
2018-08-28 11:29:504929 本書系統地介紹了透射電子顯微鏡圖像襯度的形成原理和實驗分析枝術。第一章簡要論述電子衍射原理和行射譜的分析方法。第二、三章敘述成象的運動學和動力學理論。以后各章詳細介紹從電鏡照片來分析各種微觀組織的方法。
2019-03-11 08:00:000 半導體逆向工程和IP服務公司ICmasters已使用透射電子顯微鏡（TEM）對Apple的A14仿生芯片系統（SoC）進行了初步檢查。SemiAnalysis撰寫的一份有見地的報告揭示了蘋果這顆
2020-11-04 14:33:114375 透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM），可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想
2020-12-03 15:37:2536846 主要體現在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發射電子，經過聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續的電磁透鏡繼續放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品
2020-12-03 15:52:2934706 透射電子顯微鏡中主要有三種光闌：光闌。在雙系統中，該光闌裝在第二下方。作用：限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1011558 新一代儀器提升數據可靠性，控制圖像畸變≤1% 2021年3月17日，上海——科學服務領域的世界領導者賽默飛世爾科技（以下簡稱：賽默飛）宣布推出Talos F200E掃描透射電子顯微鏡（以下簡稱
2021-03-18 10:35:093056 電子發燒友網為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載，更有其他相關的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設計、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導體失效分析領域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場作透鏡，將經過加速
2021-06-21 09:42:417788 隨著材料科技的發展，需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結構特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結構的有效工具
2021-08-06 14:57:341325 隨著材料科技的發展，需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結構特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結構的有效工具
2021-11-26 17:46:001206 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導體失效分析領域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場作透鏡，將經過加速
2021-09-18 10:49:167641 隨著材料科技的發展，需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結構特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結構的有效工具
2022-04-01 22:06:564894 透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源，利用電子束與物質的相互作用，對物質的微結構進行成像與分析的一種儀器。
2022-07-27 15:47:1312494 No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等，對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392732 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273078 為了支持半導體制造商的自動化需求，先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數據生成時間并提高人力和工具資源的生產效率。
2023-05-05 17:17:25500 透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40783 
場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30573 
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現樣品表面微觀區域內的成分和織構分析
2023-07-26 10:48:06650 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內部結構的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:152349 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究，人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351420 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測工程師對客戶指定樣品區域內定點制備高質量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151373 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對生物體的生命活動規律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關鍵。
2023-11-07 15:23:26798 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:02:19465 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:16:41235 
本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理，未來這種技術有望用于探測遠離穩定谷的核。
2023-12-13 15:59:12227 
中國近年來向著科技自立自強的方向邁出了堅定的步伐，核心技術不斷突破，高端儀器設備持續涌現。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡稱博眾儀器）自主研發的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經進入
2023-12-28 11:24:09766 
數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5299 
由于電子在空氣中行進的速度很慢，所以必須由真空系統保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會阻撓電子束的發射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當電子顯微鏡啟動時，第一
2024-01-09 11:18:33165 1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國電鏡”新品發布會，正式發布首臺國產商業場發射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標志著我國已掌握透射電鏡整機研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 X射線衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用于物質成分剖析;發射式電子顯微鏡用于自發射電子外表的研討。因電子束穿透樣品后，再用掃描電鏡成像縮小而得名，它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接取得一個樣本的投影。
2024-02-01 18:22:15609
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