隨著現(xiàn)在社會(huì)的發(fā)展，筆記本電腦成為學(xué)習(xí)、工作的日常用品。筆記本行業(yè)在過(guò)去的幾十年里，不斷突破極限，一次又一次將筆記本的重量降低、厚度壓縮，目前世界上最輕的筆記本僅500多克，最薄的筆記本平均厚度不足1厘米。筆記本輕薄化的極致追求，對(duì)裝配工藝和制造精密度提出了更高的要求。此外，消費(fèi)者不僅注意筆記本的性能，還更加注重筆記本的外觀(guān)。

因?yàn)橥庥^(guān)缺陷、產(chǎn)品性能下降和潛在故障可能導(dǎo)致直接成本和間接成本迅速上升。所以廠(chǎng)商在生產(chǎn)的時(shí)候都是有一道工序來(lái)做質(zhì)檢。

而傳統(tǒng)人工檢測(cè)存在招工難人工成本高、人工檢測(cè)費(fèi)時(shí)費(fèi)力、容易出現(xiàn)誤差，更是難以匹配高節(jié)拍的生產(chǎn)力。

所以機(jī)器視覺(jué)設(shè)備可以很好的彌補(bǔ)這一問(wèn)題。

檢測(cè)缺陷類(lèi)型

01?筆記本外觀(guān)缺陷檢測(cè)

平板電腦的外殼具有極強(qiáng)的裝飾性，不光機(jī)械性能要好，而且外觀(guān)要求美觀(guān)。

所以對(duì)經(jīng)過(guò)機(jī)加工和表面處理后的鋁外殼，不允許有黑點(diǎn)、雜點(diǎn)、斑紋、劃痕等肉眼所能發(fā)現(xiàn)的缺陷。

因?yàn)椴捎玫臋C(jī)加工均為數(shù)控加工，故對(duì)加工前的鋁板尺寸精度要求非常高（250mm寬的平面間隙不能超過(guò)0.05mm），所以給生產(chǎn)帶來(lái)極大的挑戰(zhàn)。

目前，國(guó)內(nèi)有很多廠(chǎng)家在生產(chǎn)該產(chǎn)品，但真正做得好的為數(shù)極少，均存在成品率低，廢品率高，特別是加工處理后報(bào)廢量大，造成加工成本大幅提高。

主要缺陷如下：

1、平面間隙超差；?

2、尺寸精度超差；?

3、縮尾過(guò)長(zhǎng)；?

4、氧化物或其它夾雜物產(chǎn)生的渣點(diǎn)；?

5、晶粒粗大；?

6、強(qiáng)度偏低；?

7、成層、氣泡、起皮；?

8、黑斑、雪花斑。

以上缺陷有些是在機(jī)加工之前發(fā)現(xiàn)的，這種報(bào)廢造成的單件損失還不是很大，但數(shù)量較大。

這種報(bào)廢往往是由于平面間隙超差、尺寸超差和強(qiáng)度偏低等原因造成的，因?yàn)檫@些缺陷在機(jī)加工之前能夠檢驗(yàn)出來(lái)。

有相當(dāng)一部分缺陷是要在機(jī)加工之后經(jīng)過(guò)化學(xué)表面處理才能發(fā)現(xiàn)，這種報(bào)廢所造成的單件損失是非常大的。而該種報(bào)廢往往是由于縮尾、氧化物或其它夾雜物產(chǎn)生的渣點(diǎn)、晶粒粗大、成層、氣泡、起皮、黑斑、雪花斑等原因造成的。

筆記本電腦外殼結(jié)構(gòu)復(fù)雜，分為ABCD四個(gè)面。

筆記本A面指的是帶有LOGO的那個(gè)面，屏幕所在這一面一般被稱(chēng)為“B面”，也是人們注視最多的部分；

C面則承擔(dān)著布局鍵盤(pán)的功能，D面則是帶有電池的那一面。而當(dāng)筆記本正對(duì)著用戶(hù)的時(shí)候，屏幕與鍵盤(pán)對(duì)用戶(hù)而言，構(gòu)成一臺(tái)筆記本的主要“顏值”，及主要功能。

需要檢測(cè)長(zhǎng)寬尺寸、翹曲度、平整度、卡鉤尺寸等多個(gè)項(xiàng)目，精度要求高。

如何來(lái)保證產(chǎn)品的質(zhì)量是各大廠(chǎng)商生產(chǎn)加工過(guò)程中面臨的棘手難題。

02?電腦鍵盤(pán)缺陷的檢測(cè)

鍵盤(pán)缺陷檢測(cè)要求：

檢測(cè)鍵盤(pán)是否存在鍵位錯(cuò)位、倒置、按鍵印刷殘缺、漏字、模糊、污點(diǎn)、飛墨等瑕疵以及鍵盤(pán)上字符質(zhì)量、印刷質(zhì)量、位置和方向、按鍵的放置或按鍵的間距檢測(cè)。

檢測(cè)系統(tǒng)采用工業(yè)相機(jī)快速獲取產(chǎn)品圖像，通過(guò)圖像識(shí)別、分析和計(jì)算，計(jì)算相應(yīng)位置尺寸，檢測(cè)到不良產(chǎn)品時(shí)按檢測(cè)時(shí)間命名保存不良圖像，并在顯示屏顯示當(dāng)前NG圖像，報(bào)警燈閃爍蜂鳴器輸出聲音信號(hào)。

直到人工恢復(fù)報(bào)警，期間檢測(cè)不受影響。

03?筆記本鍵盤(pán)漏光缺陷檢測(cè)

背光鍵盤(pán)起源于普通鍵盤(pán)，它能帶給用戶(hù)更好的使用感，滿(mǎn)足更個(gè)性化的需求。背光鍵盤(pán)的按鍵或者面板發(fā)光，在夜晚不開(kāi)燈的情況下，也能清楚的看到按鍵上的字母。

以某品牌筆記本電腦發(fā)光鍵盤(pán)為例，通過(guò)視覺(jué)檢測(cè)背光鍵盤(pán)的漏光缺陷，防止缺陷品流入市場(chǎng)給品牌帶來(lái)不可逆的影響。

檢測(cè)范圍設(shè)定在每個(gè)鍵盤(pán)帽除了底部外的其他五個(gè)面，不允許存在除字符發(fā)光區(qū)外其他的漏光區(qū)域（缺陷單方向長(zhǎng)度不允許超過(guò)0.2mm）。

在工位架設(shè)上，共設(shè)計(jì)了4個(gè)工位，分別在左右方向移動(dòng)掃描一次；旋轉(zhuǎn)后，在上下方向移動(dòng)掃描三次。完成整體掃描后，將局部缺陷結(jié)果標(biāo)識(shí)在整體圖示上。

檢測(cè)效果如下：

OK（無(wú)缺陷）

NG（有缺陷）

局部缺陷效果圖

編輯：黃飛

?