WD4000國產晶圓幾何形貌量測設備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV、BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。可實現砷化鎵
2024-03-15 09:22:08
實驗名稱:翼型壓電振動除冰實驗研究
實驗原理:壓電除冰技術利用壓電材料的逆壓電效應,通過安置在結構表面的壓電作動器的激振,引起待除冰結構振動,從而在結構與冰層交界面產生剪切應力,當剪切應力
2024-03-08 17:37:09
中圖儀器VT6000系列共聚焦高精度三維顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于
2024-02-21 13:55:40
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統是通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。可兼容不同材質
2024-02-21 13:50:34
領域帶來了全新的研究方向和應用前景。
COMSOL Multiphysics是一款功能強大的多物理場仿真軟件,能夠對超表面進行精確的仿真分析。通過建立三維模型,并設置相應的物理場參數,可以實現對超表面
2024-02-20 09:20:23
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維測量系統具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高
2024-01-12 11:37:08
反應表面形貌的參數。通過非接觸測量,WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設備將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV、BOW、WARP、在
2024-01-10 11:10:39
WD4000半導體晶圓厚度測量系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
一個芯片上可以包含數億~數百億個晶體管,并經過互連實現了芯片的整體電路功能。經過制造工藝的各道工序后,這些晶體管將被同時加工出來。并且,在硅晶圓上整齊排滿了數量巨大的相同芯片,經過制造工藝的各道工序
2024-01-02 17:08:51
TC-Wafer是將高精度溫度傳感器鑲嵌在晶圓表面,對晶圓表面的溫度進行實時測量。通過晶圓的測溫點了解特定位置晶圓的真實溫度,以及晶圓整體的溫度分布,同還可以監控半導體設備控溫過程中晶圓發生的溫度
2023-12-21 08:58:53
)及分析反映表面質量的2D、3D參數。廣泛應用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業。WD
2023-12-20 11:22:44
中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術,完成非接觸式掃描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
SuperViewW1中圖光學3D表面輪廓儀是以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓
2023-12-12 11:34:22
晶圓測溫系統tc wafer晶圓表面溫度均勻性測溫晶圓表面溫度均勻性測試的重要性及方法 在半導體制造過程中,晶圓的表面溫度均勻性是一個重要的參數
2023-12-04 11:36:42
在工業應用中,SuperViewW三維光學輪廓檢測儀超0.1nm的縱向分辨能力能夠高精度測量物體的表面形貌,可用于質量控制、表面工程和納米制造等領域。與其它表面形貌測量方法相比,SuperViewW
2023-11-30 10:14:52
中圖儀器SuperViewW系列3D光學檢測儀器用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸,典型結果包括:1、三維表面
2023-11-17 08:59:04
中圖儀器GTS大尺寸三維空間測量儀激光跟蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標測量機,同時具高精度(μm級)、大工作空間(百米級)的高性能,能夠解決大型、超大型工件和大型科學裝置、工業母機等全域高精度
2023-11-15 09:26:26
請問像AD8233一樣的晶圓封裝在PCB中如何布線,芯片太小,過孔和線路都無法布入,或者有沒有其他封裝的AD8233
2023-11-14 07:01:48
高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。典型結果包括:1、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等;2、二維圖像分析:距離,半
2023-11-10 11:50:45
白光干涉儀廣泛應用于科學研究和工程實踐各個領域中。它作為一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器,在測量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。
白光干涉儀怎么測量坑的形貌?它是利用
2023-11-06 14:27:48
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
、SORI、等反應表面形貌的參數。WD4000自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TT
2023-11-06 10:47:07
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量,以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-11-01 09:39:26
SuperView W1光學三維輪廓測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。數秒內可以獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數。也可以選擇拼接功能軟件升級來組合多個
2023-10-30 09:24:38
WD4000半導體晶圓表面三維形貌測量設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可廣泛應用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、顯示
2023-10-23 11:05:50
WD4000半導體晶圓檢測設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000無圖晶圓幾何量測系統自動測量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三維形貌 、單層膜厚 、多層膜厚 。使用光譜共焦對射技術測量晶圓 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法共同組成測量系統,能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測量。能測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46
SuperViewW1三維光學3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是基于白光干涉原理研制而成,采用擴展型的相移算法EPSI,集合了相移法PSI的高精度和垂直
2023-10-08 09:24:40
Novator系列三維全自動影像測量儀將傳統影像測量與激光測量掃描技術相結合,采用高精度光學成像技術和計算機數字處理技術,能夠快速、準確地獲取三維物體表面形態信息,并進行精密的尺寸、角度等多項測量
2023-10-08 09:17:18
【探索】單孔銷浮動(三):DTAS在圓內均勻分布的實現與驗證!
概要:上幾期文章中為實現均勻分布我們通常對半徑r在區間[0,R]內按均勻分布采樣,對角度θ在區間[0,2π)內按均勻分布采樣,實際這種
2023-09-20 12:09:57
噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環境中能穩定使用,獲得高測量重復性。SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表
2023-09-13 10:30:22
SuperViewW1國產三維白光干涉儀以白光干涉技術原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對各種精密器件表面進行納米級測量,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之
2023-09-13 10:25:07
SuperViewW1白光干涉儀三維輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于
2023-09-07 09:25:42
Mars系列三坐標三維測量儀是移動橋式的三坐標測量機。能夠對各種零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關系進行檢測,也可以對軟材質或復雜零件進行光學掃描測量。可用于機械制造、汽車工業、電子工業、航空航天
2023-08-25 15:05:36
結構進行三維形貌重建:
2.快速重建出被測晶圓激光鐳射槽的三維輪廓并進行多剖面分析,獲取截面的槽道深度與寬度信息:
3.對光學膜表面微結構實現快速自動化測量,提供高度、寬度和角度等一系列輪廓尺寸參數對表面質量進行表征:
2023-08-22 15:19:49
、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等;
2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;
3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12
測量金屬制品的長度、寬度、高度等維度參數。
除了測量金屬表面的形狀和輪廓外,光學3D表面輪廓儀還可以生成三維點云數據和色彩圖像,用于進一步分析和展示:
1、三維點云數據可以用于進行CAD模型比對、工藝
2023-08-21 13:41:46
CHOTEST中圖儀器SuperViewW1三維白光形貌干涉儀集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。主要應用于半導體制造及封裝工藝檢測
2023-08-08 11:27:05
、高等數據的具體化,還可以精確測量工件的表面平面度。 CHOTEST中圖儀器Novator系列三維光學影像測量儀是全自動影像測量儀,將傳統影像測量與激光測
2023-07-31 09:05:19
CHOTEST中圖儀器SuperViewW1白光干涉表面三維輪廓儀通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,是一款對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小
2023-07-20 13:55:55
激光跟蹤儀是建立在激光和自動控制技術基礎上的一種高精度三維測量系統,主要用于大尺寸空間坐標測量領域。它集中了激光干涉測距、角度測量等技術,基于球坐標法測量原理,通過測角、測距實現三維坐標的精密測量
2023-07-18 13:41:17
新材料表面檢測,多會面臨表面缺陷檢測、表面瑕疵檢測、表面污染物成分分析、表面粗糙度測試、表面失效分析等需求,以下為常備實驗室資源這是Amanda王莉的第57篇文章,點這里關注我,記得標星01表面檢測
2023-07-07 10:02:45567 晶圓測溫系統,晶圓測溫熱電偶,晶圓測溫裝置一、引言隨著半導體技術的不斷發展,晶圓制造工藝對溫度控制的要求越來越高。熱電偶作為一種常用的溫度測量設備,在晶圓制造中具有重要的應用價值。本文
2023-06-30 14:57:40
激光跟蹤三維測量儀在大尺度空間測量工業科學儀器中具有高精度和重要性,是同時具有μm級別精度、百米工作空間的高性能光電儀器。 在大尺寸精密測量領域,激光跟蹤儀具有測量范圍大、精度高、功能多
2023-06-29 14:26:42
的尺寸、形狀及相互位置關系進行檢測,也可以對軟材質或復雜零件進行光學掃描測量。 中圖儀器MarsClassic系列三維掃描儀移動橋架三坐標測量儀結構特點是開
2023-06-25 10:54:11
激光跟蹤儀是建立在激光和自動控制技術基礎上的一種高精度三維測量系統,主要用于大尺寸空間坐標測量領域。它集中了激光干涉測距、角度測量等先進技術,基于球坐標法測量原理,通過測角、測距實現三維坐標的精密
2023-06-20 10:16:46
Mars系列三維坐標測量機是移動橋式的三坐標測量機。采用中圖儀器自主研發的設計與測量系統,提供了測量機的高精度性能,測量行程500*700*500mm延伸到900*1200*600mm,結合多樣化
2023-06-20 10:12:21
。適用于對芯片進行科研分析,抽查測試等用途。探針臺的功能都有哪些?1.集成電路失效分析2.晶圓可靠性認證3.元器件特性量測4.塑性過程測試(材料特性分析)5.制程監控6.IC封裝階段打線品質測試7.液晶面板
2023-05-31 10:29:33
在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統光學顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02
中圖儀器GTS激光三維跟蹤測量儀集激光干涉測距技術、光電檢測技術、精密機械技術、計算機及控制技術、現代數值計算理論于一體,主要用于百米大尺度空間三維坐標的精密測量。功能強的主機測量系統1.集成化控制
2023-05-16 16:34:32
。 中圖儀器Novator二次元三維影像測量儀將傳統影像測量與激光測量掃描技術相結合,還支持頻閃照明和飛拍功能,可進行高速測量,大幅提升測量效率;具有可獨立升降和
2023-05-15 11:29:26
;VT6000系列共聚焦顯微鏡是一款顯微檢測設備,廣泛應用于半導體制造及封裝工藝,能夠對具有復雜形狀和陡峭的激光切割槽的表面特征進行非接觸式掃描并重建三維形貌。共聚焦顯微鏡重
2023-05-09 14:12:38
中圖SJ5700三維輪廓測量儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達到0.1nm,因此非常適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量,同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能
2023-05-06 16:06:14
;VT6000系列共聚焦顯微鏡是中圖儀器傾力推出的一款顯微檢測設備,廣泛應用于半導體制造及封裝工藝,能夠對具有復雜形狀和陡峭的激光切割槽的表面特征進行非接觸式掃描并重建三維形
2023-04-28 17:41:49
以共聚焦技術為原理的共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
SuperViewW1中圖國產白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件
2023-04-14 14:07:34
PCB 方面的需求。華秋與創想三維建立了長期穩定的合作關系,雙方合作過程中,華秋持續向創想三維供應高可靠的雙面及多層PCB。華秋向客戶承諾:樣板準交率達到 99%,提供加急服務,按需選擇,滿足客戶快速
2023-04-14 11:29:30
PCB 方面的需求。華秋與創想三維建立了長期穩定的合作關系,雙方合作過程中,華秋持續向創想三維供應高可靠的雙面及多層PCB。華秋向客戶承諾:樣板準交率達到 99%,提供加急服務,按需選擇,滿足客戶快速
2023-04-14 11:27:20
因項目需求,需外包Labview 三維云圖程序編寫,做過類似項目的請回復,我聯系您。
2023-03-31 09:36:47
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