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電子發燒友網>今日頭條>彈片微針模組可解決測試探針效率低下、成本高的難題

彈片微針模組可解決測試探針效率低下、成本高的難題

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2023-06-08 15:42:22593

使用帶有RT1170EVK 的 MCU-LINK-PRO調試器報異常怎么解決?

我目前正在使用 MCU-Link Pro 調試探針和 RT1170EVK。我的目標是針對將使用 RT1172 且不包括 EVK 的板載調試器電路的電路板測試 MCU-Link Pro 的調試功能
2023-06-02 09:04:08

探針臺的功能有哪些

探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規格芯片,并提供多個可調測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測
2023-05-31 10:29:33

LTCC/HTCC基板在晶圓測試探針卡中的應用

在半導體產業的制造流程上,主要可分成IC設計、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試,就是對晶圓上的每顆晶粒進行電性特性檢測,以檢測和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導體晶圓測試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術有著怎樣的聯系。
2023-05-26 10:56:55730

深度剖析邏輯探針電路

這些簡單而通用的3 LED邏輯探針電路可用于測試數字電路板,如CMOS、TTL或類似電路板,以排除IC和相關級的邏輯功能故障。
2023-05-18 17:36:48979

Multisim中測試探針的使用

Multisim的虛擬測試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開,使得待測電流導線與鉗子相互環繞,利用變壓器變電流的原理測量電流。其特點就是可以實現在線測量。
2023-05-18 11:26:007264

基于微懸臂梁的MEMS探針中與傾斜相關定位誤差的量化和校正

就微型探針而言,已經研究了避免誤差的自動定位技術。量化并控制傾斜誤差,對于利用微懸臂梁優化自動化探針測試至關重要。然而,后者的研究還沒有考量潛在的微型MEMS探針的機械柔韌性。微懸臂梁可用于制造各種微型電氣探針,包括射頻探針
2023-05-17 09:51:30500

什么是半導體測試探針?半導體測試探針的需求來自哪里?

Chiplet將復雜芯片拆解成一組具有單獨功能的小芯片單元die(裸片),通過die-to-die將模塊芯片和底層基礎芯片封裝組合在一起。相較于傳統SoC,Chiplet能有效提高芯片良率、集成度,降低芯片設計、制造成本,加速迭代速度。
2023-05-16 15:45:291063

晶圓測試設備的指尖—探針

晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯動,在測試過程中,測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構成電性接觸
2023-05-11 14:35:142362

PCBA測試常見ICT測試方法

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講什么是PCBA測試的ICT測試?PCBA測試常見ICT測試方法。 PCBA測試的ICT測試主要是通過測試探針接觸PCBA板上的測試點,可以檢測出線路的短路、開路
2023-05-09 09:25:082172

晶圓測試設備的“指尖”——探針

探針卡是半導體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件,被認為是測試設備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機臺有所不同,針對不同的芯片都需要有定制化的探針
2023-05-08 10:38:273458

半導體晶圓測試探針卡與LTCC/HTCC的聯系

晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯動,在測試過程中,測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

模組推拉力測試設備焊點強度測試

點焊模組
力標精密設備發布于 2023-05-06 18:09:55

思達科技推出3D/2.5D MEMS微懸臂WAT探針

思達科技多年來致力在MEMS探針的技術研發,持續推出先進的測試探針卡,以滿足各種行業的產業測試需求,Virgo Prima系列是專為微型化程序IC而設計,用在產線WAT(晶圓驗收)/ 電性測試
2023-04-13 11:24:371155

如何使用PE微型探針偵聽和恢復鎖定的kinetis設備?

當我在 MKV42F64 定制板上測試我的定制引導加載程序時,閃存配置字段似乎已損壞,因此設備是安全的,我無法使用 PE 微型探針再次對其進行編程。嘗試通過 SWD 擦除或編程芯片時,我從 PE
2023-04-04 06:27:50

【電測】飛測試的流程有哪些?

后按小板進行測試,目前常用都是自動測試機,所以效率很高,節省時間。飛測試的子流程主要有3個。1.做測試資料。根據客戶原稿制作生產資料,以避免用生產稿而生產稿與原稿偶有不一致導致的漏測。測試。飛測試
2023-03-31 11:41:43

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