針對現今工業薄膜生產過程中薄膜大幅寬且生產速度更快，無錫賽默斐視科技有限公司經過潛心研究試驗，開發設計出基于FPGA的快速薄膜瑕疵檢在線測系統方案。賽默斐視薄膜在線污點檢測設備通過采用相關系數法準確求出薄膜灰度圖像的最小重復周期，根據最小重復周期確定兩個比對圖像塊并求出差值圖像，再將差值圖像二值化再進行形態學處理，最后經過面積約束條件找出薄膜瑕疵所在位置。充分利用FPGA并行處理的優勢，提高了圖像處理的速度。實踐應用證明，該系統能夠在300 m/min的薄膜生產線上成功檢測出瑕疵面積僅10個像素的瑕疵，滿足現代薄膜瑕疵在線檢測的應用需求。

目前薄膜瑕疵檢測系統大多采用工業計算機、線掃描相機、旋轉編碼器和線型光源的方案。在生產時，由高亮LED組成的線型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通過與薄膜運行同步的旋轉編碼器觸發，使架設在生產線上的線掃描相機同步掃描，將相機采集到的薄膜圖像通過工業計算機上的采集卡實時傳送給圖像處理系統軟件進行瑕疵識別處理。由于瑕疵圖像的灰階分布與正常圖像的灰階分布存在明顯差異，從而使系統能夠發現瑕疵，同時對瑕疵進行有效的判定、分類及后續處理。

在薄膜的實際生產過程中，由于各方面因素的影響，薄膜表面會出現諸如孔洞、蚊蟲、黑點、晶點、劃傷、斑點等瑕疵，嚴重影響了薄膜的質量，給生產商帶來了不必要的損失。人眼往往不能及時準確的判斷出瑕疵，SIMV薄膜表面瑕疵缺陷檢測系統能在線對生產過程中產生的表面缺陷瑕疵進行高速、精確的檢測，顯示和識別薄膜表面上的所有表面缺陷。能檢測分別出直徑 0.01mm-2mm的臟污點、條紋、破損、邊緣裂縫、皺折、暗斑、亮斑、邊緣破損、黑點疵點、毛發，蚊蟲，等常見表面缺陷。強大的表面缺陷模式識別功能，根據表面缺陷的特征，在報警的同時，會指出導致該表面缺陷的設備、工藝問題所在，指導工人及時處理，從而有效的節約了生產成本、提高了產品質量。因此薄膜瑕疵在線檢測系統成為高速薄膜生產線中不可或缺的檢測設備。

賽默斐視薄膜在線污點檢測設備原理

將工業線陣CCD 相機架設在生產線上方，同時采用高亮的LED線性聚光冷光源進行背打光，通過線陣CCD相機和高速圖像處理系統進行實時的在線掃描。當薄膜在線生產出現瑕疵時，由于瑕疵的成像與正常的薄膜產品存在明顯的灰階差異，使得系統能夠及時發現瑕疵缺陷。系統自動記錄瑕疵的圖像、位置等信息，同時通過信號控制實現打標機對瑕疵的自動貼標定位。

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