。SJ5900光學型輪廓儀提供自動化測量、數據分析,提高效率和一致性,準確檢測微觀輪廓參數,適用于各種光學元件要求,保障工藝一致性。
2024-03-19 09:44:10221 、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試(2)常?失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
服務范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED燈具、燈具驅動電源。檢測標準● GB/T15651-1995半導體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
光學檢測攝像頭CMOS 1/2.5"
2024-03-14 20:44:54
開封以及機械開封等檢測方法。結合OM,X-RAY等設備分析判斷樣品的異常點位和失效的可能原因。服務范圍IC芯片半導體檢測標準GB/T 37045-2018 信息技
2024-03-14 10:03:35
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數外最為關注的,也是特性參數測試無法評估的,失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業界領先的專家團隊及先進
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態熱阻測試(DVDS)失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
、微觀幾何輪廓、曲率等參數。SuperViewW光學平面度檢測設備具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了
2024-03-06 11:09:55
射線,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ;
定位測試點,如在失效分析中可以用來定位失效點,在異物分析中可以用來定位異物點。
博****仕檢測測試案例:
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
經過電參數測試合格的產品2N**經過客戶SMT(無鉛工藝260±5℃)生產線貼裝后,發現大量產品電參數失效,出現的現象是D、S間漏電,產品短路,失效比例超過50%。
2024-02-25 10:35:42429 可見光LED主要用于開關、光學顯示和照明,不使用任何光傳感器。隱形LED的應用包括使用光傳感器的光學開關、分析和光通信等。
2024-02-20 14:39:12410 貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產品中常見的元件之一。在電路中起著調節電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而,就像其他電子元件一樣,貼片電阻也可能發生故障或失效。其中最常見的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179 勝科納米(蘇州)股份有限公司(以下簡稱“勝科納米”)作為一家半導體檢測分析廠商,近日在科創板上市的申請獲得了上交所的受理,并已回復審核問詢函。據上交所發行上市審核官網顯示,勝科納米主要的服務內容包括失效分析、材料分析與可靠性分析,其目標是成為半導體產業的“芯片全科醫院”。
2024-02-02 15:52:55573 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
服務范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED燈具、燈具驅動電源。檢測標準● GB/T15651-1995半導體器件分立器件
2024-01-29 22:04:38
什么是鋰離子電池失效?鋰離子電池失效如何有效分析檢測? 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失,導致電池無法提供持久且穩定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的,包括電池化學反應
2024-01-10 14:32:18216 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢?答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應的專業技能作為背景,對整機進行的測試也需要相應的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱,由三菱電機于1997年正式推向市場,迄今已在家電、工業和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-12-22 15:15:27241 常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施來減緩失效的發生? 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式,它能夠將動力從一個軸傳遞到另一個軸上。然而,在長時間使用過程中,齒輪也會出現各種失效
2023-12-20 11:37:151051 ESD失效和EOS失效的區別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設備和電路中經常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題,但其具體產生的原因、影響、預防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069 ▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 檢測儀器來進行檢測。因此「美能光伏」生產了美能Poly在線膜厚測試儀,該設備采用光伏行業領先的微納米薄膜光學測量創新技術,且適用于大規模產線自動化檢測工序,可幫助
2023-12-16 08:33:09300 計失效模式和影響分析(DFMEA,Design Failure Mode and Effects Analysis)在汽車工業中扮演著非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297 保護器件過電應力失效機理和失效現象淺析
2023-12-14 17:06:45262 成分發現,須莊狀質是硫化銀晶體。原來電阻被來自空氣中的硫給腐蝕了。 失效分析發現,主因是電路板上含銀電子元件如貼片電阻、觸點開關、繼電器和LED等被硫化腐蝕而失效。銀由于優質的導電特性,會被使用作為電極、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020 1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 晶振失效了?怎么解決?
2023-12-05 17:22:26230 待測物的內部結構,在不破壞待測物的情況下觀察內部有問題的區域。 二、應用范圍 ?IC、BGA、PCB/PCBA、表面貼裝工藝焊接性檢測等; ?金屬材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內部裂紋、異物的缺陷檢測,BGA、線路板等內部位移的分析; ?判別空焊
2023-12-04 11:57:46242 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱,由三菱電機于1997年正式推向市場,迄今已在家電、工業和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-11-29 15:16:24414 損壞的器件不要丟,要做失效分析!
2023-11-23 09:04:42181 壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同,如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎,尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 FPC在后續組裝過程中,連接器發生脫落。在對同批次的樣品進行推力測試后,發現連接器推力有偏小的現象。據此進行失效分析,明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先,常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發光二極管的核心部件,它會發出光信號。常見的LED失效原因有兩種:老化和損壞。LED的使用壽命是有限的,長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 中圖儀器SuperViewW系列3D光學檢測儀器用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸,典型結果包括:1、三維表面
2023-11-17 08:59:04
那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 目前國內尚無專業測量設備能夠檢測高精度非球面鏡片參數,比如微觀輪廓參數、水平軸線夾角、光軸位置參數及頂點半徑誤差、斜率參數等,基本依賴進口,只有部分國產機型能夠滿足普通精度的微觀輪廓Pt參數測量,而
2023-11-16 13:46:42
介紹LGA器件焊接失效分析及對策
2023-11-15 09:22:14349 Micro LED顯示面板包含PCB板、LED芯片、封裝膠膜、驅動IC等,Micro LED COB顯示屏的光學性能關鍵指標:亮度、對比度、色域、灰階、刷新率、可視角等。本文通過研究COB單元板光學性能的設計影響因素,為COB單元板的光學性能設計提供參考。
2023-11-13 11:06:34803 中圖儀器SuperViewW系列表面3D光學檢測儀器基于白光干涉原理,能以3D非接觸方式,對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階
2023-11-10 11:50:45
有效的對失效的主板進行FA分析。 在進行FA分析時的時候,是要遵守一定的流程的。 從外觀檢查,電測,信號檢測,其他驗證等一步步進行分析驗證。 外觀檢查 外觀檢查是一片fail板子必須會經過的過程,向一些元件被燒毀,燒焦或者撞
2023-11-07 11:46:52386 電子發燒友網站提供《無創人體血糖光學檢測技術研究與展望.pdf》資料免費下載
2023-11-06 16:16:490 異常品暗電流值 正常品暗電流值 異常品阻值 正常品阻值 測試結果 異常品暗電流為4.9989mA,偏離要求范圍(1mA 以內),且針對關鍵節點的分析未見異常。 2、外觀及X-RAY分析 X-RAY 外觀 測試結果 X-RAY 及外觀檢測,未見異常。 3、針對失效現象的初步
2023-11-03 11:24:22279 電子發燒友網站提供《大功率固態高功放功率合成失效分析.pdf》資料免費下載
2023-10-20 14:43:470 電子發燒友網站提供《基于自動光學檢測儀通信系統設計.pdf》資料免費下載
2023-10-18 10:33:200 本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對策及實戰案例。希望您在閱讀本文后有所收獲,歡迎在評論區發表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 形成參考光路和檢測光路。用于表面形貌紋理,微觀結構分析,用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數,廣泛應用于光學,半導體,材料
2023-09-28 15:36:421805 邏輯分析儀參數有哪些? 邏輯分析儀是一種廣泛應用于數字電子系統測試的工具。其主要功能是通過對數字信號進行采樣和分析,幫助用戶定位和解決電子系統中的故障問題。邏輯分析儀的性能參數是衡量邏輯分析
2023-09-19 16:33:181204 滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細分析滾動軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212 失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及,它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
2023-09-12 09:51:47291 失效分析(FA)是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 集成電路失效分析 隨著現代社會的快速發展,人們對集成電路(Integrated Circuit,簡稱IC)的需求越來越大,IC在各種電子設備中占據著至關重要的地位,如手機、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發展,各種芯片被廣泛應用于各種工業生產和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設備可靠性的重要一環 隨著電子科技的不斷發展,電子設備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導體也是電子設備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉化
2023-08-29 16:29:08736 電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數漂移、非穩定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情,比如某個半導體器件外表完好但實際上已經半失效
2023-08-29 10:47:313729 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優點,因此被廣泛應用于數字電路、模擬電路和電源等領域。然而
2023-08-25 14:27:562133 電參數變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等),部分功能失效
2023-08-23 11:23:17749 測量金屬制品的長度、寬度、高度等維度參數。
除了測量金屬表面的形狀和輪廓外,光學3D表面輪廓儀還可以生成三維點云數據和色彩圖像,用于進一步分析和展示:
1、三維點云數據可以用于進行CAD模型比對、工藝
2023-08-21 13:41:46
AOI檢測設備又名AOI光學自動檢測設備現已成為電子制造業確保產品質量的重要檢測工具和過程質量控制工具,因此,如何從眾多的AOI品牌中選擇和使用適合自已要求的AOI光學自動檢測設備,已成為廣大電子
2023-08-18 09:37:441756 洗地機是我們日常生活中常見的清潔設備,而洗地機的缺水檢測功能對于保證其正常工作非常重要。光電管道液位傳感器的應用有效解決了傳統機械式傳感器的低精度和卡死失效問題,同時也解決了電容式傳感器的感度衰減
2023-08-01 14:17:09
每家汽車主機廠都希望建設高水平的汽車車身沖壓車間,主要生產車身覆蓋件、重要的車身結構件等,車型越多,沖壓件的品種和模具就越多,對沖壓檢測效率提出了更高的要求。 CASAIM光學自動化檢測設備在沖壓
2023-07-28 17:12:10409 本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當,以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數以及封裝環境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結,闡述了鍵合工藝不當及封裝不良,造成鍵合本質失效的機理;并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 隨著市場需求的不斷增加,近年從事LED制造和研發的人員大大增加。LED企業亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅動研發的企業和人眾多,其技術水平參 差不齊,研發出來的LED驅動電路質量好壞不一。導致LED燈具的失效時常發生,阻礙了LED照明的市場推廣。
2023-07-25 09:12:046864 自動光學檢測(AOI)是電子印刷電路板(pcb)制造和測試中的一項關鍵技術。自動光學檢測,AOI能夠快速準確的檢測電子組件,特別是pcb,確保產品出廠質量高,產品制作正確,沒有制造故障
2023-07-08 09:43:26680 新材料表面檢測,多會面臨表面缺陷檢測、表面瑕疵檢測、表面污染物成分分析、表面粗糙度測試、表面失效分析等需求,以下為常備實驗室資源這是Amanda王莉的第57篇文章,點這里關注我,記得標星01表面檢測
2023-07-07 10:02:45567 光學器件偏振相關的參數包括:偏振度、偏振方向、偏振狀態等。以下是它們的詳細介紹。
2023-07-05 15:50:53568 信號板HDMI連接器接地pin腳出現燒毀不良圖源:華南檢測中心本文案例,從信號板HDMI連接器接地pin腳出現燒毀不良現象展開,通過第三方實驗室提供失效分析報告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能輸入
2023-07-05 10:04:23238 與開封前測試結果加以比較,是否有改變,管殼內是否有水汽的影響。進一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機械探針扎在有關節點上進行靜態(動態)測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317 安捷倫86141B光學分析儀 86141B 是安捷倫的光學分析儀。光譜分析儀,也稱為光學分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設備用于監測指定波長范圍內的功率分布。它以圖表的形式顯示測量
2023-07-03 15:13:35239 安捷倫86145B光學分析儀 86145B 是安捷倫的光學分析儀。光譜分析儀,也稱為光學分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設備用于監測指定波長范圍內的功率分布。它以圖表的形式顯示測量
2023-07-03 14:56:5494 安捷倫86142B光學分析儀 86142B 是安捷倫的光學分析儀。光譜分析儀,也稱為光學分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設備用于監測指定波長范圍內的功率分布。它以圖表的形式顯示測量
2023-07-03 14:12:34116 芯片檢測中的非破壞分析有哪些?
2023-06-27 15:20:08
BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438 為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據或因不當順序引人新的人為的失效機理,封裝失效分析應按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315 集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發生,提升
2023-06-21 08:53:40572 ADPD188BI 是完整的光電式測量系統,適合采用光學雙波長技術的煙霧檢測應用。 該模塊集成了高效率光電式測量前端、藍光和紅外(IR)發光二極管(LED)以及一個光電二極管,這些元件包含在定制封裝
2023-06-16 15:38:24543 制作復雜光學液體分析測量的原型是一個挑戰,需要仔細考慮化學、光學和電子如何相互作用,以得出準確的結果。集成式AFE產品(例如ADPD4101)為在更小的空間內實現更高性能的光學液體檢測鋪平了道路
2023-06-15 14:15:52478 EMMI:Emission microscopy 。與SEM,FIB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310 基于熒光方法的診斷檢測需要借助一個閾值去檢測熒光。如果接收的熒光信號低于閾值水平,則無法確定樣本中存在目標分析物。系統中的電子器件和一些其他因素可能產生背景噪聲使得閾值增高。為降低閾值水平,同時持續穩定地獲得更出色的靈敏度而不犧牲選擇性,我們需要謹慎設計光學檢測系統,確保信號鏈不會提高背景噪聲的水平。
2023-06-12 16:18:04284 摘要 :雜散光是光學系統中所有非正常傳輸光的總稱,雜散光對光學系統性能的影響因系統不同而變化。 因此,在現代光學設計中,雜散光分析成為光學設計工作中的一個重要環節。 雜散光產生的原因比較復雜,討論
2023-06-12 09:40:14586 安捷倫86142B光學分析儀 86142B 是安捷倫的光學分析儀。光譜分析儀,也稱為光學分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設備用于監測指定波長范圍內的功率分布。它以圖表的形式顯示測量
2023-06-12 08:27:2189 安捷倫86146B光學分析儀 86146B 是安捷倫的光學分析儀。光譜分析儀,也稱為光學分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器。該電子測試設備用于監測指定波長范圍內的功率分布。它以圖表的形式顯示測量
2023-06-10 17:19:22232 本文為 MAX25205 和 MAX25405 手勢傳感器的光學機械部分提供設計指南。基于紅外(IR)技術的手勢檢測系統存在一個關鍵的設計問題,即 LED 到傳感器之間的光學串擾(見圖 1)。特別是
2023-06-09 18:15:02371 Wafer自動光學檢測(AOI)設備適用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷檢測、尺寸測量,可實現對晶圓各種特征的多維度檢測。
2023-06-01 10:56:521898 LED驅動電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對其電子封裝技術要求亦愈發嚴苛,不僅需要具備優異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能,同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅動電源的使用中,導致LED驅動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 紅光LED芯片是單電極結構,它兩個電極之間的材質、厚度、襯底材料與雙電極的藍綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結合器件結構、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 失效模式:各種失效的現象及其表現的形式。
2023-05-11 14:39:113227 芯片對于電子設備來說非常的重要,進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現失效的情況。于是當下,生產對進口芯片的質量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 為了將制程問題降至最低,環旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術提取SiP 模組中的主芯片。同時,利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機污染物的源頭,持續強化SiP模組失效分析領域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357 也越來越復雜。為了保證LED質量,保障產品安全,X-ray檢測設備在LED生產中應用越來越廣泛。 X-ray檢測設備是一種應用X射線技術的檢測儀器,可對LED芯片的內部結構和外部尺寸進行檢測,特別是可以檢測LED芯片的封裝層是否存在缺陷,檢測LED芯片的外形及內部
2023-04-21 14:05:28452 LED燈條x-ray檢測是一種常用的電子元件檢測方法,它可以檢測LED燈條的外觀、內部結構和電路圖。它使用X射線來檢測LED燈條的電路,以及LED燈條內部的電子組件。 LED燈條x-ray檢測
2023-04-20 12:01:28669 失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2023-04-18 09:11:211360 X-Ray檢測用于LED芯片封裝的無損檢測的實施步驟如下: 1、準備檢測設備:首先準備X射線檢測設備,包括X射線攝像機、X射線儀器、X射線照相機等設備。 2、設置檢測參數:其次,設置檢測參數,包括
2023-04-14 14:48:24480 X-Ray檢測是一種無損檢測技術,其應用于LED芯片封裝的無損檢測尤為重要。本文主要介紹X-Ray檢測用于LED芯片封裝的無損檢測的原理、優勢、實施步驟及其有效性等問題,以期為LED芯片封裝的無損
2023-04-13 14:04:58975 BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577 程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 X-ray在線檢測是一種非常有效的電子元件檢測技術,它可以用來檢測LED燈條。X-ray在線檢測可以實現快速和準確的檢測,而且它也可以檢測出LED燈條中隱藏的缺陷。 X-ray在線檢測通過將X射線
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