據(jù)麥姆斯咨詢(xún)報(bào)道，近日，VCSEL光學(xué)解決方案提供商瑞識(shí)科技獲得近億元B+輪融資。本輪投資方為廣汽資本、江淮汽車(chē)旗下產(chǎn)業(yè)資本和合肥產(chǎn)投，融資將繼續(xù)用于加速技術(shù)產(chǎn)品研發(fā)及量產(chǎn)落地。
2024-03-22 09:33:19
69 老化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，是確保電源穩(wěn)定性和可靠性的重要手段。電源模塊老化測(cè)試就是對(duì)電源持續(xù)不斷滿負(fù)荷運(yùn)行的測(cè)試過(guò)程，判斷電源在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行下能否保持穩(wěn)定輸出。
2024-03-20 17:16:59105 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《Hast老化試驗(yàn)測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-03-13 15:42:38
0 為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能，高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán)，電源模塊高低溫老化測(cè)試就是為了檢測(cè)電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。
2024-03-08 11:00:31122 逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備，廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中，老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi)，對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試，以模擬
2024-03-07 14:28:2091 
電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道（文/梁浩斌）VCSEL全稱(chēng)垂直腔面發(fā)射激光器，與傳統(tǒng)的EEL邊發(fā)射激光器不同的是，VCSEL出光的方向垂直于襯底，且可調(diào)頻率極高，最早被用于光纖通信中，用于高速數(shù)據(jù)傳輸
2024-02-29 00:09:005064 
、性能和效率。ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失效甚至安全風(fēng)險(xiǎn)等問(wèn)題，因此對(duì)ECU老化進(jìn)行檢測(cè)非常重要。本篇文章為您介紹虹科低負(fù)載ECU老化檢測(cè)解決方案。
2024-02-20 14:40:1586 
VCSEL激光器與EEL激光器的區(qū)別 VCSEL激光器與EEL激光器是兩種不同的激光器技術(shù)，本文將詳細(xì)介紹它們的區(qū)別。VCSEL激光器是垂直腔面發(fā)射激光器的縮寫(xiě)，而EEL激光器是邊發(fā)射激光器的縮寫(xiě)
2024-01-31 10:15:48581 什么是晶體振蕩器老化？晶體振蕩器老化的原因 如何測(cè)量晶體振蕩器的老化？ 晶體振蕩器是一種以晶體諧振頻率為基準(zhǔn)在電子設(shè)備中產(chǎn)生穩(wěn)定時(shí)鐘信號(hào)的器件。然而，隨著時(shí)間的推移，晶體振蕩器會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導(dǎo)致
2024-01-25 13:51:44174 晶振老化率影響及降低方法? 晶振老化率是指晶振在使用過(guò)程中逐漸失去性能或產(chǎn)生偏差的速率。晶振老化率的增加會(huì)導(dǎo)致頻率不準(zhǔn)確、抖動(dòng)增加、功耗增加等問(wèn)題，對(duì)于一些對(duì)時(shí)鐘要求較高的應(yīng)用來(lái)說(shuō)是不可接受的。然而
2024-01-24 15:40:29109 安全、性能和效率。ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失效甚至安全風(fēng)險(xiǎn)等問(wèn)題，因此對(duì)ECU老化進(jìn)行檢測(cè)非常重要。本篇文章為您介紹虹科低負(fù)載ECU老化檢測(cè)解決方案。 一、ECU老化檢測(cè)的必要性 ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失
2024-01-24 09:41:39144 
。高壓加速老化試驗(yàn)箱分為飽和型（PCT）和非飽和型（HAST）。PCT屬于飽和型，濕度默認(rèn)100%，且溫度，濕度，壓力同時(shí)上升或下降，用于測(cè)試IC封裝，半導(dǎo)體，微電子
2024-01-22 11:01:39229 
為什么要進(jìn)行光模塊測(cè)試？光模塊測(cè)試方案 光模塊測(cè)試是指對(duì)光模塊進(jìn)行一系列測(cè)試，以確保其性能和質(zhì)量符合預(yù)期。光模塊是光通信系統(tǒng)中重要的組成部分，它們負(fù)責(zé)將電信號(hào)轉(zhuǎn)化為光信號(hào)，并在光纖之間進(jìn)行傳輸。因此
2024-01-19 11:15:06243 絕緣老化是指什么 老化原因 怎樣延緩絕緣老化? 絕緣老化是指絕緣材料在長(zhǎng)期使用過(guò)程中逐漸失去其原有性能，最終導(dǎo)致絕緣性能下降，不能滿足電器設(shè)備的工作要求。絕緣老化是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程，其原因可分為內(nèi)部
2023-12-29 11:03:22517 高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度，以達(dá)到加速產(chǎn)品老化的效果。通過(guò)觀測(cè)產(chǎn)品在這種極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)，工程師們可以評(píng)估其長(zhǎng)期使用的可靠性和潛在問(wèn)題。
2023-12-22 17:21:03415 
VCSel芯片是一種垂直腔面發(fā)射激光器（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser）芯片，廣泛應(yīng)用于光通信、光電子設(shè)備和其他光學(xué)領(lǐng)域。在深入討論VCSel芯片的反向
2023-12-18 11:28:132729 本測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用TP600多路功率溫度記錄儀制作的電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)可以同時(shí)對(duì)10組或更多電機(jī)進(jìn)行測(cè)試和老化試驗(yàn)。
2023-12-17 17:43:41143 
PCT飽和型老化試驗(yàn)箱主要用于太陽(yáng)能光伏材料、線路板、半導(dǎo)體、通訊器材、磁性材料等行業(yè)產(chǎn)品的耐高濕、高溫、高壓之性能,可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)或者生產(chǎn)中的不良或缺陷.PCT飽和型老化試驗(yàn)箱是將待測(cè)試
2023-12-15 09:46:55138 
HAST非飽和老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于
2023-12-13 10:15:25209 
EMC測(cè)試整改：了解EMC測(cè)試及解讀整改方案？|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-12-06 10:29:08347 
其他智能手機(jī)制造商最初也追隨這一趨勢(shì)，但幾年后便停止使用VCSEL，轉(zhuǎn)而使用屏下指紋傳感器。蘋(píng)果仍然是僅有的幾家采用VCSEL的參與者之一。與2018年相比，2022年用于移動(dòng)和消費(fèi)應(yīng)用的VCSEL市場(chǎng)增長(zhǎng)了80%，現(xiàn)在在平板電腦、AR/VR頭顯、掃地機(jī)器人和智能門(mén)鎖中都能找到VCSEL的身影。
2023-11-24 16:01:59331 
什么是負(fù)載？電子負(fù)載有什么用途？為什么要給電子負(fù)載進(jìn)行老化測(cè)試？ 負(fù)載是指在電子設(shè)備或電路中表現(xiàn)為電流流動(dòng)的負(fù)荷。它模擬了實(shí)際工作環(huán)境中的負(fù)荷，使電路或設(shè)備處于一種正常工作狀態(tài)。電子負(fù)載是一種專(zhuān)門(mén)
2023-11-16 11:01:07499 電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道（文/黃晶晶）數(shù)據(jù)中心互連從200G走向400G、800G，高集成低成本的方案正在推動(dòng)更高階光模塊的規(guī)模化。近日，Credo公司推出VCSEL驅(qū)動(dòng)器和400G/800G DSP集成
2023-11-14 09:51:081297 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化？ 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680 鋰離子電池老化的原因 鋰電池老化的影響 鋰離子電池（Lithium-ion battery）是一種常見(jiàn)的可充電電池，由于其高能量密度和長(zhǎng)周期壽命，廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、電動(dòng)車(chē)輛和儲(chǔ)能系統(tǒng)中。然而
2023-11-10 14:41:56975 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些？ 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來(lái)確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見(jiàn)的測(cè)試指標(biāo)。 1. 電氣性能測(cè)試指標(biāo)： 電氣性能測(cè)試是半導(dǎo)體IC測(cè)試
2023-11-09 09:24:20421 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 開(kāi)關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際工作環(huán)境(如高負(fù)荷、高溫等)中的長(zhǎng)時(shí)間使用，來(lái)驗(yàn)證其性能、穩(wěn)定性和可靠性。
2023-11-06 15:08:18302 
汽車(chē)全光譜陽(yáng)光模擬老化試驗(yàn)是一種模擬自然環(huán)境下陽(yáng)光對(duì)汽車(chē)老化作用的試驗(yàn)方法。該試驗(yàn)通過(guò)使用特定的光源和照射角度，模擬不同地區(qū)、不同季節(jié)的陽(yáng)光輻射情況，對(duì)汽車(chē)進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的光照處理。通過(guò)這種試驗(yàn)
2023-10-25 13:52:05276 
前言：隨著VCSEL技術(shù)和規(guī)模化量產(chǎn)的成熟，如何尋找和拓展VCSEL的新的應(yīng)用領(lǐng)域，是國(guó)內(nèi)外VCSEL公司持續(xù)思考的問(wèn)題。瑞識(shí)科技紅光VCSEL產(chǎn)品在教育領(lǐng)域、醫(yī)美領(lǐng)域和智能穿戴領(lǐng)域內(nèi)的突破
2023-10-20 13:50:38237 隨著VCSEL技術(shù)和規(guī)模化量產(chǎn)的成熟，如何尋找和拓展VCSEL的新的應(yīng)用領(lǐng)域，是國(guó)內(nèi)外VCSEL公司持續(xù)思考的問(wèn)題。瑞識(shí)科技紅光VCSEL產(chǎn)品在教育領(lǐng)域、醫(yī)美領(lǐng)域和智能穿戴領(lǐng)域內(nèi)的突破
2023-10-20 13:21:51594 基于Benchmark的性能測(cè)試量化指標(biāo)方案是一種用于評(píng)估和量化系統(tǒng)性能的方法。通過(guò)使用Benchmark測(cè)試工具，該方案旨在提供可靠的性能數(shù)據(jù)，并使用具體的指標(biāo)來(lái)衡量系統(tǒng)在各個(gè)方面的表現(xiàn)。本文
2023-10-17 10:15:14313 芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469 
KeystoneMM是MaxLinear的PAM4 DSP，集成了用于800G和400G多模短距離光模塊和有源光纜的VCSEL驅(qū)動(dòng)器。5 納米 CMOS 器件可降低數(shù)據(jù)中心和 AI/ML 集群中使
2023-10-13 16:27:51746 PCBA（PrintedCircuitBoardAssembly，印刷電路板組裝）是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中的核心組成部分。為確保其穩(wěn)定性、可靠性及長(zhǎng)期性能，老化測(cè)試成為其生產(chǎn)流程中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文
2023-10-11 09:36:211152 
DTX 萬(wàn)兆銅纜測(cè)試解決方案，fluke官方資料。
2023-10-09 10:59:450 紫外線老化試驗(yàn)箱又稱(chēng)紫外光耐候試驗(yàn)箱，紫外光老化測(cè)試機(jī)，耐光照試驗(yàn)箱，抗紫外線老化試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)箱等等，雖然這一設(shè)備在名稱(chēng)方面各不相同，可它們的使用性能狀況卻是一樣的。為了使設(shè)備安全放心的為我們
2023-10-07 11:08:48200 
使這個(gè)問(wèn)題變得更加麻煩的是，根據(jù)工作溫度，觸發(fā)熱老化所需的時(shí)間可能長(zhǎng)達(dá)數(shù)百或數(shù)千小時(shí)，這超出了正常生產(chǎn)線測(cè)試的范圍。因此，如果未被發(fā)現(xiàn)，該問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致潛在的現(xiàn)場(chǎng)故障問(wèn)題。
2023-10-04 16:17:00253 
QFN老化座的主要應(yīng)用是在電子元件制造過(guò)程中的質(zhì)量控制。
2023-09-24 08:34:27176 
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)老化試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一，配備了國(guó)內(nèi)外各類(lèi)型光老化試驗(yàn)設(shè)備，為您提供專(zhuān)業(yè)的光老化試驗(yàn)和產(chǎn)品評(píng)價(jià)。服務(wù)范圍本商品可提供針對(duì)家用電器、汽車(chē)零部件、電動(dòng)工具
2023-09-21 16:36:13
對(duì)電源產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試是為了檢驗(yàn)和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。老化測(cè)試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而提供高品質(zhì)的電源解決方案
2023-09-19 10:09:17811 
提供高品質(zhì)的電源解決方案。 客戶(hù)在生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機(jī)在老化測(cè)試過(guò)程中燒壞。根據(jù)客戶(hù)的描述，我們提供了幾個(gè)重要步驟來(lái)查找問(wèn)題。 以下為測(cè)試樣機(jī)圖片： ? CR5215BSC樣機(jī)圖片 【應(yīng)用】小功率電源適配器/圣誕燈、LED驅(qū)動(dòng)器/蜂窩電
2023-09-19 10:07:03797 
太陽(yáng)光模擬器是一種用于模擬太陽(yáng)光的設(shè)備，其在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如太陽(yáng)能電池板測(cè)試、植物生長(zhǎng)研究等。而全光譜老化試驗(yàn)則是利用太陽(yáng)光模擬器對(duì)材料進(jìn)行老化試驗(yàn)的一種方法，旨在評(píng)估材料在太陽(yáng)光
2023-09-13 10:08:09439 
關(guān)于硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試，經(jīng)研究，參考肖特基二極管雜質(zhì)濃度測(cè)試方案，兩者幾乎一致，因此，針對(duì)硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試亦采用CV法測(cè)量。
2023-09-11 15:59:34392 
垂直腔面發(fā)射激光器（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser，簡(jiǎn)稱(chēng)VCSEL，又譯垂直共振腔面射型雷射）是一種半導(dǎo)體，其激光垂直于頂面射出，與一般用切開(kāi)的獨(dú)立芯片制成，激光由邊緣射出的邊射型激光有所不同。
2023-09-11 09:52:303077 
packing壽命。自動(dòng)門(mén)禁，圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制，利安全門(mén)把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。光伏組件HAST老化試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)特征：1、
2023-09-04 16:19:53
針對(duì)NMC631體系軟包鋰離子電池在高溫循環(huán)
老化過(guò)程中的熱安全性進(jìn)行研究，待電池SOH分別衰減至100%、90%、以及80%時(shí)進(jìn)行絕熱放電產(chǎn)熱
測(cè)試、絕熱熱失控
測(cè)試、以及絕熱過(guò)充
測(cè)試，從多角度分析高溫
老化對(duì)電池?zé)岚踩阅艿挠绊憽?/div>
2023-08-28 10:09:42263 
BGA老化座中的BGA全稱(chēng)是BallGridArray(球柵陣列結(jié)構(gòu)的PCB)，它是集成電路采用有機(jī)載板的一種封裝法。那么這種老化座有什么優(yōu)勢(shì)呢?
?緊湊型設(shè)計(jì)，提高老化測(cè)試板容量
2023-08-22 13:32:03
臭氧老化試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬和測(cè)試材料在臭氧環(huán)境下的老化性能的設(shè)備。這種設(shè)備廣泛應(yīng)用于橡膠、塑料、涂料等高分子材料的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。本文將介紹臭氧老化試驗(yàn)箱的基本原理、技術(shù)參數(shù)
2023-08-22 10:16:31539 
連接線老化是電子設(shè)備電氣系統(tǒng)故障的常見(jiàn)因素之一。在使用過(guò)程中，惡劣的作業(yè)環(huán)境與作業(yè)條件往往會(huì)使連接線加速老化，其中常見(jiàn)的老化的因素包括機(jī)械力損害、絕緣受潮、腐蝕、超負(fù)荷使用等因素。 機(jī)械力損害主要
2023-08-03 16:54:01357 
Simcenter Amesim電池老化參數(shù)辨識(shí)工具內(nèi)置于電池單體和電池包模型中，該工具基于老化經(jīng)驗(yàn)公式幫助用戶(hù)通過(guò)電池老化試驗(yàn)獲得描述電池老化的相關(guān)參數(shù)。
2023-08-03 14:57:26559 
隨著科技水平的迅速發(fā)展，各類(lèi)電子產(chǎn)品層出不窮，產(chǎn)品質(zhì)量保障問(wèn)題也成了一個(gè)值得重視的問(wèn)題；特別是應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)的產(chǎn)品，對(duì)于在高低溫環(huán)境下能否正常使用也成為了一個(gè)重要的衡量標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)老化房、老化箱的要求也明顯提高，需要顯示實(shí)時(shí)溫度、并且能夠設(shè)置老化時(shí)間，不需要人工去進(jìn)行停止。
2023-08-01 18:13:09325 
什么是DC電源老化測(cè)試?通常是指開(kāi)關(guān)電源長(zhǎng)期超負(fù)荷運(yùn)行。老化測(cè)試，也稱(chēng)為烤機(jī)或老化機(jī)，通常可以持續(xù)24或48小時(shí)，也可以持續(xù)1或0小時(shí)，進(jìn)行嚴(yán)格的實(shí)驗(yàn)或“試燒”。生產(chǎn)線上的大部分新產(chǎn)品都有
2023-07-27 14:08:52363 “半導(dǎo)體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量，CoC老化測(cè)試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測(cè)試設(shè)備通過(guò)控制老化溫度，老化電流，老化時(shí)長(zhǎng)等測(cè)試
2023-07-20 00:00:00631 
Q A 問(wèn)： 陶瓷電容老化現(xiàn)象的影響 陶瓷電容 受到與介電晶體結(jié)構(gòu)變化有關(guān)的老化現(xiàn)象的影響，這種老化現(xiàn)象表現(xiàn)為介電材料初始燒制后電容和耗散因子的變化。與已建立的模式一致，EIA I類(lèi)介電材料受影響
2023-07-19 20:10:05581 
、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。散熱器PCT老化試
2023-07-19 09:25:29
、激光顯示、光存儲(chǔ)、消費(fèi)電子等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。VCSEL生產(chǎn)過(guò)程中有三道檢測(cè)工序,這三道工序都需要脈沖電流源對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試。快速、靈活且精度高的測(cè)試方案對(duì)于減小測(cè)試的成本至關(guān)重要。
2023-07-18 16:06:211726 
、體積、功耗等性能參數(shù)起到了決定性作用。如何為激光雷達(dá)提供合適的驅(qū)動(dòng)方案？以及如何與客戶(hù)協(xié)同對(duì)VCSEL芯片進(jìn)行激光雷達(dá)工作環(huán)境下的測(cè)試，將多結(jié)高功率VCSEL芯片在激光雷達(dá)上的性能發(fā)揮到極致？ 據(jù)麥姆斯咨詢(xún)報(bào)道，針對(duì)這些問(wèn)題
2023-07-12 11:24:352122 
這背后就有VCSEL芯片制成的接近感應(yīng)模塊的支持——通過(guò)低功率的VCSEL芯片發(fā)射激光，當(dāng)有物體靠近時(shí)會(huì)自動(dòng)反射激光，手機(jī)就能偵測(cè)到物體接近，并判斷屏幕是熄滅還是點(diǎn)亮，這就讓手機(jī)日常使用時(shí)盡可能降低功耗并減少誤觸，方便人們使用。
2023-07-06 15:17:23537 
老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！
2023-07-04 15:56:591248 
老化測(cè)試座是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行測(cè)試的設(shè)備，具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：
2023-07-01 16:38:24603 
凱智通微電子的IC老化測(cè)試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn)，采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu)，探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測(cè)試針，芯片定位快捷準(zhǔn)確，再結(jié)合性能良好的歐式插針，經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)
2023-06-28 15:19:05539 【產(chǎn)品介紹】紫外老化試驗(yàn)箱適用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化試驗(yàn)。源采用8只額定功率為40W的紫外熒光燈作發(fā)光源。紫外線熒光燈管，分布在機(jī)器的兩側(cè)，每側(cè)各4只（有UVA-340和UVB-313
2023-06-14 15:20:45250 
睿熙科技定位高端市場(chǎng)，從事VCSEL芯片的研發(fā)量產(chǎn)，全面布局消費(fèi)電子、數(shù)據(jù)通信及車(chē)載領(lǐng)域，目前三大領(lǐng)域出貨量已超千萬(wàn)顆，市場(chǎng)表現(xiàn)穩(wěn)定，受到客戶(hù)高度認(rèn)可。核心成員擁有20年在世界一流VCSEL公司領(lǐng)導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)制造的經(jīng)驗(yàn)，涵蓋外延生長(zhǎng)
2023-06-08 16:26:13721 
電容生產(chǎn)老化測(cè)試設(shè)備普遍采用可編程測(cè)試電源對(duì)測(cè)試電容樣品做充電老化測(cè)試。其中設(shè)備內(nèi)部對(duì)可編程電源輸出質(zhì)量要求最高的為電容漏電流特性測(cè)試功能模塊。其主要功能是用于檢測(cè)電容充電完畢后uA級(jí)的漏電流指標(biāo)。檢測(cè)指標(biāo)合格后，電容樣品將被安全放電并流向后道包裝環(huán)節(jié)，而測(cè)試不通過(guò)的樣品則被篩選出來(lái)另作處理。
2023-06-08 09:20:39364 
為保證出貨質(zhì)量，公司要求對(duì)目前公司的驅(qū)動(dòng)器需要上功率老化，但是公司的產(chǎn)品功率等級(jí)不一樣，沒(méi)有合適的負(fù)載和老化方式，請(qǐng)教大神們有沒(méi)有合適的老化方式。
2023-06-06 10:47:55
、染料等褪色或變色。幾年來(lái)，測(cè)試抗老化和光穩(wěn)定性的各種各樣的方法都被應(yīng)用過(guò)，現(xiàn)在大部分研究者使用自然曝露方法：Q－Surn氙弧燈或QUV加速老化試驗(yàn)設(shè)備。自然曝露
2023-06-06 10:43:23498 
作為自動(dòng)駕駛所需的LiDAR等3D傳感技術(shù)的光源，半導(dǎo)體激光器的市場(chǎng)變得活躍起來(lái)。其中之一是具有小型化、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)的VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser），下面介紹面向VCSEL的干法工藝。
2023-06-03 14:22:201395 
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試，它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性，實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 最右面的圖為16通道的VCSEL陣列照片，芯片尺寸為0.16mm2，相鄰?fù)ǖ篱g距離為40um，每個(gè)區(qū)域數(shù)據(jù)速率密度為2，5Tbps/mm2
2023-05-29 16:57:39984 
各類(lèi)電子電器，電工電子電器1000小時(shí)高溫老化試驗(yàn)怎么進(jìn)行辦理
2023-05-27 11:03:50855 量子磁探測(cè)傳感器，或稱(chēng)為原子磁強(qiáng)計(jì)，其原理是借助激光與原子的相互作用實(shí)現(xiàn)對(duì)微弱磁場(chǎng)的高靈敏度檢測(cè)。原子磁強(qiáng)計(jì)中采用的光源以VCSEL為主，主要是因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">VCSEL具備工作溫度范圍寬及高光束質(zhì)量這兩大優(yōu)勢(shì)
2023-05-24 16:40:07543 
作為自動(dòng)駕駛所需的LiDAR等3D傳感技術(shù)的光源，半導(dǎo)體激光器的市場(chǎng)變得活躍起來(lái)。其中之一是具有小型化、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)的VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser），下面介紹面向VCSEL的干法工藝。
2023-05-24 10:02:37991 高溫老化房 老化箱 老化柜系列設(shè)備是各種高溫老化實(shí)驗(yàn)中，常用設(shè)備之一，適用于電子儀器儀表、材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、顯示器、液晶屏、LED顯示屏及各種電子元器件在溫度環(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能
2023-05-24 09:06:05869 VCSEL激光器（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser）是一種垂直于襯底面射出激光的激光器，可以在襯底上多個(gè)方向上排列多個(gè)激光器，形成并行光源或面陣光源
2023-05-23 10:31:13916 
負(fù)載箱、負(fù)荷箱、假負(fù)載和老化柜實(shí)際上是同一臺(tái)測(cè)試設(shè)備的不同名稱(chēng)。負(fù)載箱是一種測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)試和維護(hù)發(fā)電機(jī)、不間斷電源、電力傳輸設(shè)備。它的使用避免了備用機(jī)組或電源啟動(dòng)故障造成的經(jīng)濟(jì)損失，也為新機(jī)
2023-05-15 16:27:031016 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-05-12 11:25:30695 
多結(jié)多分區(qū)VCSEL可為高級(jí)3D結(jié)構(gòu)光算法構(gòu)建更靈活的點(diǎn)陣圖。實(shí)現(xiàn)更遠(yuǎn)距離探測(cè)，并減少環(huán)境光干擾。
2023-05-10 10:32:491128 
使用溫度計(jì)算和阿倫尼烏斯方程了解電阻和放大器的老化行為，以了解電阻漂移、電阻穩(wěn)定性和運(yùn)算放大器漂移。 之前，我們討論了高溫加速老化方法，該方法使用相對(duì)較短的測(cè)試持續(xù)時(shí)間來(lái)評(píng)估電子元件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
2023-05-03 09:56:002680 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-04-25 16:12:44479 
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：領(lǐng)先的性能Axsun高速可調(diào)諧VCSEL掃頻激光器，出色地平衡了調(diào)諧帶寬、輸出功率、掃描速度和相干長(zhǎng)度等參數(shù)，從而開(kāi)啟了下一代先進(jìn)性能的相干斷層掃描(OCT)系統(tǒng)。 成熟的技術(shù)
2023-04-18 17:25:01
老化房，又叫燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦
2023-04-17 15:33:50713 
PCBA測(cè)試老化板的方法是什么？
2023-04-14 15:22:57
當(dāng)前，VCSEL完成了從數(shù)據(jù)通信市場(chǎng)向3D傳感消費(fèi)市場(chǎng)的擴(kuò)張，并將持續(xù)在車(chē)用市場(chǎng)和醫(yī)療健康等新興市場(chǎng)深度挖掘應(yīng)用潛力。據(jù)測(cè)算，預(yù)計(jì)至2023年，VCSEL的出貨量將從2017年的6.52億顆增長(zhǎng)至33億多顆，2017～2023年的復(fù)合年增長(zhǎng)率高達(dá)31％。
2023-04-11 10:21:321173 近日，行業(yè)領(lǐng)先的VCSEL芯片和光學(xué)解決方案提供商瑞識(shí)科技獲得近億元B1輪融資。此輪投資方包括奇瑞集團(tuán)旗下瑞丞基金，基石資本和南山戰(zhàn)新投，老股東常春藤資本繼續(xù)跟投。本輪融資將用于加速產(chǎn)品量產(chǎn)落地
2023-04-10 15:51:43595 和其他電氣設(shè)備一樣，電力電容器的使用壽命也是有限的。隨著電力電容器使用時(shí)間的不斷增長(zhǎng)，電力電容器會(huì)逐漸老化。但是電力電容器在運(yùn)行時(shí)，會(huì)受到過(guò)電壓、過(guò)電流、過(guò)溫等因素的影響，電力電容器就會(huì)出現(xiàn)熱老化
2023-04-10 15:22:58892 壓敏電阻是目前應(yīng)用范圍最廣泛的電子元件之一，在應(yīng)用的過(guò)程中，壓敏電阻老化的問(wèn)題是其最大的缺點(diǎn)，將會(huì)嚴(yán)重干擾系統(tǒng)的正常安全工作,本文將介紹壓敏電阻的防老化方法，能夠幫助工程師有效解決壓敏電阻的老化情況
2023-04-10 09:40:09413 
汽車(chē)材料是汽車(chē)制造中不可或缺的重要組成部分，為保證汽車(chē)性能和質(zhì)量，材料的高溫老化試驗(yàn)尤為重要。汽車(chē)材料的高溫老化試驗(yàn)通常采用模擬車(chē)輛運(yùn)行中耐高溫環(huán)境的方式來(lái)進(jìn)行，以模擬材料在汽車(chē)使用過(guò)程中的實(shí)際受力
2023-04-07 11:26:09332 
得產(chǎn)品更安全、可靠！ 常見(jiàn)的電子產(chǎn)品老化溫度要求： 網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)測(cè)試溫度在40℃~50℃左右 變頻器老化測(cè)試溫度在55℃左右 電能表老化測(cè)試溫度在70℃~80℃左右 車(chē)用電子產(chǎn)品老化測(cè)試溫度在55℃左右 電池電源、充電器、種類(lèi)儀器儀表老
2023-04-04 15:02:562649 
電子元器件老化是指電子元器件在使用過(guò)程中，由于環(huán)境溫度、濕度、電壓、電流、紫外線等因素的影響，使元器件的性能發(fā)生變化，從而影響元器件的使用壽命。電子元器件老化的主要表現(xiàn)有：電容器的容量變小，電阻
2023-03-28 16:16:201429 Altings的測(cè)試結(jié)果顯示，與采用LG電子WOLED技術(shù)的產(chǎn)品不同，使用QD-OLED技術(shù)的三星電子和索尼的電視在測(cè)試開(kāi)始后2個(gè)月內(nèi)發(fā)生了老化現(xiàn)象。
2023-03-27 14:52:14705 為了定量描述老化機(jī)理，對(duì)電極不同位置采樣組裝半電池并進(jìn)行了電化學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)。如圖7（a）所示，實(shí)線的數(shù)據(jù)來(lái)自循環(huán)開(kāi)始時(shí)的電池電極，代表陰極和陽(yáng)極電極的實(shí)測(cè)電位曲線，虛線來(lái)自容量衰減到80%后的電池。
2023-03-27 11:34:292962 高低溫老化房也稱(chēng)呼其為高低溫試驗(yàn)室，包括了高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)及溫度變化測(cè)試，主要是檢測(cè)產(chǎn)品在經(jīng)過(guò)多種溫度變化后其性能指標(biāo)是否有受影響，高溫是否會(huì)出現(xiàn)溶化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象
2023-03-23 14:16:00490 高溫老化試驗(yàn)箱是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要試驗(yàn)設(shè)備，能夠篩選元器件的早期故障，挑除前期失效工件，確保產(chǎn)品優(yōu)秀品質(zhì)和使用壽命，讓產(chǎn)品進(jìn)入可靠的穩(wěn)定期，充分提高客戶(hù)生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。 高溫老化箱用于
2023-03-23 13:14:02408 
高溫老化房用于評(píng)估確定電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化和產(chǎn)品表面高溫老化的環(huán)境條件下的儲(chǔ)存適應(yīng)性和使用的儲(chǔ)存適應(yīng)性，作為環(huán)境試驗(yàn)中的主要檢測(cè)設(shè)備，老化房憑借其高精度、高穩(wěn)定性、多功能性，以及便于升級(jí)
2023-03-23 10:36:00550 
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