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電子發燒友網>今日頭條>LED金線斷裂分析X射線失效分析

LED金線斷裂分析X射線失效分析

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2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發生,提升
2023-06-21 08:53:40572

講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段:亮點分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,FIB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

日立分析儀器EA1280X射線熒光分析儀產品介紹

日立分析儀器(上海)有限公司于2023年6月宣布推出EA1280,這是一款用于在中國測量環境有害物質的新型能量色散X射線熒光分析儀。
2023-06-12 12:40:50281

LED驅動電源電路分析

今天給大家簡單分析一個LED驅動電路,供大家學習。
2023-05-24 17:07:081653

應用Inspire 軟件對齒輪系統進行多體動力學仿真分析

本文應用Inspire 軟件對換擋執行機構中的齒輪系統進行多體動力學仿真分析,基于分析結果對輸出齒輪和輸出軸結構薄弱部位進行改進設計并進行仿真分析和試驗驗證,改進后結構應力值顯著降低且在實驗過程中未出現斷裂失效現象。
2023-05-24 10:38:27897

LED驅動電源失效的原因分析

LED驅動電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對其電子封裝技術要求亦愈發嚴苛,不僅需要具備優異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能,同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅動電源的使用中,導致LED驅動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851

淺談抗靜電指標差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結構,它兩個電極之間的材質、厚度、襯底材料與雙電極的藍綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423

怎樣進行芯片失效分析

失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機理與失效分析

。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結合器件結構、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現象及其表現的形式。
2023-05-11 14:39:113227

進口芯片失效怎么辦?做個失效分析查找源頭

芯片對于電子設備來說非常的重要,進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現失效的情況。于是當下,生產對進口芯片的質量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

DMAIC方法在35 kV線路避雷器線夾斷裂改進中的應用

針對A公司B風電場35 kV集電線路避雷器線夾斷裂頻發造成發電量損失這一質量問題,采用DMAIC過程改進方法進行分析研究,
2023-04-27 09:12:08473

為什么X射線檢查技術在PCB組裝中如此重要?

的差異而具有不同的X射線吸收率。在檢測器上產生投影,并且密度越高,陰影將越深。陰影將在很大程度上靠近X射線管,反之亦然。   因此,理想的X射線檢查系統必須具有清晰的X射線圖像,以便在缺陷分析過程中
2023-04-24 16:38:09

環旭電子發展先進失效分析技術

為了將制程問題降至最低,環旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術提取SiP 模組中的主芯片。同時,利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機污染物的源頭,持續強化SiP模組失效分析領域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

半導體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2023-04-18 09:11:211360

失效分析和可靠性測試:為什么SAM現在是必不可少的設備

對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發中心、材料研究小組和質量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術已變得至關重要,現在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅。
2023-04-14 16:21:39925

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術總結

程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

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